WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO1996005769) STRUCTURAL ANALYZER, IN PARTICULAR FOR MEDICAL IMPLANTS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1996/005769    International Application No.:    PCT/US1995/010698
Publication Date: 29.02.1996 International Filing Date: 23.08.1995
Chapter 2 Demand Filed:    15.03.1996    
IPC:
A61B 5/11 (2006.01), A61C 19/04 (2006.01)
Applicants: SPECTRAL SCIENCES RESEARCH CORPORATION [US/US]; 269 Dodge Street, Beverly, MA 01915 (US)
Inventors: CUCCHIARO, Paul, J.; (US).
DeLUZIO, Anthony; (US).
DARIO, Lawrence, J.; (US).
CUCCHIARO, Stephen, J.; (US)
Agent: SMITH, James, M.; Hamilton, Brook, Smith & Reynolds, Two Militia Drive, Lexington, MA 02173 (US)
Priority Data:
08/296,333 25.08.1994 US
Title (EN) STRUCTURAL ANALYZER, IN PARTICULAR FOR MEDICAL IMPLANTS
(FR) ANALYSEUR DE STRUCTURE PRINCIPALEMENT DESTINE AUX IMPLANTS MEDICAUX
Abstract: front page image
(EN)A dental analyzer (10) for analyzing dental implants (28) includes a dental probe (20) having a probe tip (26) for contacting a patient's dental implant (28). An accelerometer (56) is coupled to the probe tip (26). A hammer (42) fired by an actuator (44) against the accelerometer (56) impacts the probe tip (26) against the dental implant (28) which vibrates the dental implant (28). The accelerometer (56) measures the acceleration time history of the vibrating dental implant (28). A processor converts the measured acceleration time history of the dental implant (28) into a frequency spectrum from which a diagnosis can then be made regarding the condition of the dental implant (28).
(FR)La présente invention concerne un analyseur dentaire (10) destiné à l'analyse des implants dentaires (28) et comportant une sonde dentaire (20) munie d'une pointe de sonde (26) assurant le contact avec l'implant dentaire (28) du patient. Un accéléromètre est couplé à la pointe de sonde (26). Un percuteur (42) lancé par un actionneur (44) contre l'accéléromètre (56) percute la pointe de sonde (26) contre l'implant dentaire (28) qui fait vibrer l'implant dentaire (28). L'accéléromètre (56) mesure la variation temporelle d'accélération de la vibration de l'implant dentaire (28). Un processeur convertit la variation temporelle d'accélération mesurée sur l'implant dentaire (28) en un spectre fréquentiel permettant d'établir un diagnostic quant à l'état de l'implant dentaire (28).
Designated States: CA, JP.
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)