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1. (WO1996003768) MASS SPECTROMETER SYSTEM AND METHOD FOR MATRIX-ASSISTED LASER DESORPTION MEASUREMENTS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1996/003768    International Application No.:    PCT/US1995/008434
Publication Date: 08.02.1996 International Filing Date: 07.07.1995
Chapter 2 Demand Filed:    24.01.1996    
IPC:
H01J 49/04 (2006.01), H01J 49/16 (2006.01)
Applicants: VESTEC CORPORATION [US/US]; 9295 Kirby Drive, Houston, TX 77054 (US)
Inventors: VESTAL, Marvin; (US)
Agent: VITO, Christine, C.; Testa, Hurwitz & Thibeault, High Street Tower, 125 High Street, Boston, MA 02110-2711 (US)
Priority Data:
08/278,405 21.07.1994 US
Title (EN) MASS SPECTROMETER SYSTEM AND METHOD FOR MATRIX-ASSISTED LASER DESORPTION MEASUREMENTS
(FR) SYSTEME DE SPECTROMETRE DE MASSE ET PROCEDE DE MESURES DE DESORPTION LASER ASSISTEES PAR MATRICE
Abstract: front page image
(EN)The system for analyzing multiple samples includes a plurality of portable of sample supports each for accommodating a plurality of samples thereon, and an identification mechanism for identifying each sample location on each of the plurality of sample supports. The mass spectrometer is provided for analyzing each of the plurality of samples when positioned within a sample receiving chamber, and a laser source strikes each sample with a laser pulse to desorb and ionize sample molecules. The support transport mechanism provided for automatically inputting and outputting each of the sample supports from the sample receiving chamber of the mass spectrometer. A vacuum lock chamber receives the sample supports and maintains at least one of the sample supports within a controlled environment while samples on another of the plurality of sample supports are being struck with laser pulses. The computer is provided for recording test data from the mass spectrometer and for controlling the operation of the system.
(FR)Système d'analyse d'échantillons multiples comportant une pluralité de supports d'échantillons mobiles, chaque support accueillant une pluralité d'échantillons, ainsi qu'un mécanisme d'identification servant à identifier l'emplacement de chaque échantillon sur chacun des supports. Un spectromètre de masse est prévu pour analyser chacun des échantillons après qu'ils ont été placés dans une chambre destinée à les recevoir et une source laser vient frapper chaque échantillon d'une impulsion laser afin d'en désorber et d'en ioniser les molécules. Le mécanisme de transport des supports est prévu pour faire entrer et sortir automatiquement chaque support d'échantillons dans et hors de la chambre du spectromètre de masse destinée à les recevoir. Une chambre à fermeture étanche au vide reçoit les supports d'échantillons et en maintient au moins un sous atmosphère contrôlée, pendant que les échantillons placés sur un autre support sont frappés par des impulsions laser. Un ordinateur est prévu pour enregistrer les résultats d'essais provenant du spectromètre de masse et pour contrôler le fonctionnement du système.
Designated States: AM, AU, BB, BG, BR, BY, CA, CN, CZ, EE, FI, GE, HU, IS, JP, KG, KP, KR, KZ, LK, LR, LT, LV, MD, MG, MN, MX, NO, NZ, PL, RO, RU, SG, SI, SK, TJ, TM, TT, UA, UZ.
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)