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1. (WO1994025846) IN SITU TENSILE TESTING MACHINE AND SPECIMEN FOR A SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1994/025846    International Application No.:    PCT/FR1994/000495
Publication Date: 10.11.1994 International Filing Date: 29.04.1994
Chapter 2 Demand Filed:    11.11.1994    
IPC:
G01N 3/00 (2006.01), G01N 3/02 (2006.01), G01N 3/04 (2006.01), H01J 37/20 (2006.01)
Applicants: CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE [FR/FR]; 3, rue Michel-Ange, F-75794 Paris Cédex 16 (FR) (For All Designated States Except US).
CHIRON, Rémi [FR/FR]; (FR) (For US Only).
FRYET, Jacques [FR/FR]; (FR) (For US Only).
VIARIS DE LESEGNO, Patrick [FR/FR]; (FR) (For US Only)
Inventors: CHIRON, Rémi; (FR).
FRYET, Jacques; (FR).
VIARIS DE LESEGNO, Patrick; (FR)
Agent: PHELIP, Bruno; Cabinet Harlé & Phélip, 21, rue de La Rochefoucauld, F-75009 Paris (FR)
Priority Data:
93/05169 30.04.1993 FR
Title (EN) IN SITU TENSILE TESTING MACHINE AND SPECIMEN FOR A SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
(FR) MACHINE DE TRACTION IN SITU ET EPROUVETTE POUR MICROSCOPE ELECTRONIQUE A BALAYAGE
Abstract: front page image
(EN)In situ tensile testing machine (1) and specimen designed to be placed in the observation chamber of a scanning electron microscope (S.E.M.) and to receive the specimen. The machine is composed of a rigid frame (2) on which are disposed two traction heads (3, 4), at least one being movable, and each defining a cavity (3A, 4A) in which the corresponding end (9A, 9B) of the specimen (9) is capable of being anchored. The machine automatically locks and aligns the specimen. The modular and compact tensile testing unit can be integrated without alteration into the microscope's observation chamber. A device (22) for heating the specimen (9) can be integrated into the machine. A reversing device is used to compress the specimen.
(FR)L'invention concerne une machine de traction in situ (1) et une éprouvette destinée à être placée dans la chambre d'observation d'un microscope électronique à balayage (M.E.B.), et à recevoir l'éprouvette. La machine se compose d'un bâti rigide (2) sur lequel sont disposées deux têtes de traction (3, 4), dont l'une au moins (4) est mobile, définissant chacune un logement (3A, 4A) dans lequel est susceptible de s'ancrer l'extrémité correspondante (9A, 9B) de l'éprouvette (9). Elle assure l'autoblocage et l'auto-alignement de l'éprouvette. Cet ensemble de traction est modulaire et compact, intégrable sans modification dans la chambre d'observation du M.E.B. Un dispositif de chauffage (22) de l'éprouvette (9) peut être intégré à la machine. Un dispositif d'inversion permet d'appliquer une compression à une éprouvette.
Designated States: JP, US.
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Publication Language: French (FR)
Filing Language: French (FR)