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1. (WO1993020457) IC TESTING DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1993/020457    International Application No.:    PCT/JP1993/000381
Publication Date: 14.10.1993 International Filing Date: 29.03.1993
IPC:
G01R 31/319 (2006.01), G01R 31/3193 (2006.01)
Applicants: ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 32-1, Asahicho 1-chome, Nerima-ku, Tokyo 176 (JP) (KR only).
SATO, Kazuhiko [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: SATO, Kazuhiko; (JP)
Agent: KUSANO, Takashi; Sagami Building, 2-21, Shinjuku 4-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 160 (JP)
Priority Data:
4/76715 31.03.1992 JP
4/76721 31.03.1992 JP
Title (EN) IC TESTING DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE CONTROLE DE CIRCUITS INTEGRES
Abstract: front page image
(EN)An IC testing device comprises the level/timing comparing units (20¿1? to 20¿N?) which perform logical operations on the input signal levels at their corresponding test channels (CH¿1? to CH¿N?) by means of strobes (STRB1 and STRB2), and the logical comparison units (30¿1? to 30¿N?) which logically compare the results of the logical determination with the expected-value signals (EXP¿1? to EXP¿N?) thereby to enable or disable the results of the logical comparison to be output in accordance with the comparison controlling signals (CPE1 and CPE2). The device further comprises mode switching circuits (8¿1? to 8¿N?) and mode switching signal generating units (13¿1? to 13¿N?) corresponding to each of the test channels. Each of the mode switching circuits changes the comparison controlling signals (CPE1 and CPE2) as desired by the application of the mode switching signals (CONT1, CONT2, and CONT3) of the corresponding channels, and the logical operations, thus determining whether or not the signals are to be provided for the corresponding logical comparison unit (30) in accordance with the pin controlling signals of the corresponding channel.
(FR)Dispositif de contrôle de circuits intégrés. Il comporte des unités (20¿1? à 20¿N?) de comparaison niveau/temporisation, soumettant les niveaux des signaux d'entrée à des opérations logiques au niveau des canaux de contrôle (CH¿1? à CH¿N?) correspondants, à l'aide d'impulsions d'activation (STRB1, STRB2); ainsi que des unités (30¿1? à 30¿N?) de comparaison logique des résultats des opérations logiques avec des signaux de valeur attendue (EXP¿1? à EXP¿N?), afin de valider ou d'invalider les résultats de la comparaison logique à sortir, conformément aux signaux de commande de comparaison (CPE1, CPE2). Le dispositif comporte également des circuits de commutation de mode (8¿1? à 8¿N?) et des unités de production de signaux de commutation de mode (13¿1? à 13¿N?) correspondant à chacun des canaux de contrôle. Chacun des circuits de commutation de mode modifie de la manière voulue les signaux de commande de comparaison (CPE1, CPE2) en appliquant les signaux de commutation de mode (CONT1, CONT2 et CONT3) des canaux correspondants, et les opérations logiques, de manière à déterminer si les signaux doivent ou non être fournis à l'unité de comparaison logique correspondante (30) conformément aux signaux de commande de broches du canal correspondant.
Designated States: KR, US.
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)