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1. (WO1992012440) THICKNESS AND FLAW DETECTION USING TIME MAPPING INTO MEMORY TECHNIQUE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1992/012440    International Application No.:    PCT/US1991/008830
Publication Date: 23.07.1992 International Filing Date: 04.12.1991
Chapter 2 Demand Filed:    07.07.1992    
IPC:
G01N 29/30 (2006.01), G01S 15/10 (2006.01)
Applicants: E.I. DU PONT DE NEMOURS AND COMPANY [US/US]; 1007 Market Street, Wilmington, DE 19898 (US)
Inventors: LIBERTO, Anthony, Joseph; (US).
JONES, Robert, Llewellyn; (US)
Agent: MEDWICK, George, M.; E.I. du Pont de Nemours and Company, Legal/Patent Records Center, 1007 Market Street, Wilmington, DE 19898 (US)
Priority Data:
636,920 02.01.1991 US
Title (EN) THICKNESS AND FLAW DETECTION USING TIME MAPPING INTO MEMORY TECHNIQUE
(FR) DETECTION D'EPAISSEUR ET DE DEFECTUOSITE SELON UNE TECHNIQUE ETABLISSANT UNE CORRESPONDANCE DE TEMPS DANS UNE MEMOIRE
Abstract: front page image
(EN)The invention pertains generally to ultrasonic imaging systems and is more particularly directed to use of such systems for nondestructive testing to measure the thickness of parts (15), suspected of having internal flaws (40) but where access is often limited to the external surfaces. The invention makes thickness and flaw determinations of substantial accuracy without resulting to use of an expensive ultra high frequency clock to measure time.
(FR)L'invention se rapporte en général à des systèmes d'imagerie par ultrasons et se rapporte particulièrement à l'utilisation de tels systèmes dans des contrôles non-destructifs où l'on doit mesurer l'épaisseur de pièces (15) soupçonnées de présenter des défectuosités internes (40) mais dont l'accès est souvent limité aux surfaces externes. L'invention permet de déterminer de façon sensiblement précise l'épaisseur et la présence de défectuosités sans qu'il soit nécessaire d'utiliser une horloge de fréquence ultra-élevée onéreuse pour mesurer la durée.
Designated States: JP.
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FR, GB, GR, IT, LU, MC, NL, SE).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)