WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO1992004615) SPECTRUM ANALYSIS AND ABSORPTION MEASURING PROCESS WITH CONTROLLED SPECTRAL RANGE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1992/004615    International Application No.:    PCT/CH1991/000173
Publication Date: 19.03.1992 International Filing Date: 15.08.1991
IPC:
G01J 1/16 (2006.01), G01J 3/10 (2006.01), G01J 3/42 (2006.01), G01J 3/50 (2006.01), G01N 21/25 (2006.01), G01N 21/31 (2006.01)
Applicants: STERN, Josef [--/CH]; (CH)
Inventors: STERN, Josef; (CH)
Priority Data:
2855/90-8 03.09.1990 CH
Title (DE) SPEKTRALANALYSE UND ABSORBTIONSMESSVERFAHREN MIT KONTROLLIERTEM SPEKTRALBEREICH
(EN) SPECTRUM ANALYSIS AND ABSORPTION MEASURING PROCESS WITH CONTROLLED SPECTRAL RANGE
(FR) ANALYSE SPECTRALE ET PROCEDE DE MESURE D'ABSORPTION A DOMAINE SPECTRAL CONTROLE
Abstract: front page image
(DE)Mit der neuen Spektralanalyse und dem Absorbtionsmessverfahren mit kontrolliertem Spektralbereich eröffnen sich neue Möglichkeiten für die Spektralanalyse und die Messung von kleinen nicht ebenen Gegenständen. Durch den Einsatz von Zentrierstrahlen können Gegenstände in die Tiefe gemessen werden (Transluzenz, Opaleszenz). Durch den Einsatz eines CCD-Sensors, anstelle der PIN-Photodiode können ganze 3-dimensionale Körper spektralanalytisch gemessen werden. Durch die berührungsfreie Messung eröffnet dieses Messverfahren neue Möglichkeiten am Fliessband und in der automatischen Produktion von Textilien, Papier, Farben, Lebensmittel u.s.w.
(EN)The novel spectrum analysis and absorption measurement process with controlled spectral range provides new facilities for spectrum analysis and the measurement of small uneven objects. The use of centring beams makes it possible to measured objects in depth (translucence, opalescence). The use of a CCD sensor instead of the PIN photodiode makes it possible to measure entire 3-dimensional bodies by spectrum analysis. Contact-free measurement means that this measuring process provides new opportunities on the production line and in the automatic production of textiles, paper, paints, foodstuffs, etc.
(FR)La nouvelle méthode combinant l'analyse spectrale et le procédé de mesure d'absorption à domaine spectral contrôlé, ouvre de nouvelles possibilités pour l'analyse spectrale et la mesure de petits objets non plans. Grâce à l'utilisation de rayons de centrage, de petits objets peuvent être mesurés en profondeur (translucidité, opalescence). L'utilisation d'un détecteur CCD à la place d'une photodiode PIN permet de mesurer, par analyse spectrale, des corps entiers à trois dimensions. Grâce à la mesure sans contact, ce procédé de mesure ouvre de nouvelles possibilités pour les chaînes de fabrication et pour la production automatique de matières textiles, papiers, colorants, produits alimentaires, etc.
Designated States: AU, BB, BG, BR, CA, CS, DK, HU, JP, KP, KR, LK, MC, MG, MW, NO, PL, RO, SD, SE, SU, US.
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FR, GB, GR, IT, LU, NL, SE)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, ML, MR, SN, TD, TG).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)