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1. (WO1992003969) MULTIPATH LAMINOGRAPHY SYSTEM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1992/003969    International Application No.:    PCT/US1991/006090
Publication Date: 19.03.1992 International Filing Date: 27.08.1991
IPC:
A61B 6/00 (2006.01), A61B 6/02 (2006.01), H01J 35/30 (2006.01)
Applicants: FOUR PI SYSTEMS CORPORATION [US/US]; 10905 Technology Place, San Diego, CA 92127 (US)
Inventors: BAKER, Bruce, D.; (US).
ADAMS, John, A.; (US).
COREY, Robert, L.; (US)
Agent: SIMPSON, Andrew, H.; Knobbe, Martens, Olson and Bear, 620 Newport Center Drive, 16th Floor, Newport Beach, CA 92660 (US)
Priority Data:
575,342 30.08.1990 US
Title (EN) MULTIPATH LAMINOGRAPHY SYSTEM
(FR) SYSTEME DE TOMOGRAPHIE A PLUSIEURS TRAJETS
Abstract: front page image
(EN)A multipath laminography system which enables multiple locations of an object (14) to be viewed in sequence without requiring mechanical movement of the object is disclosed. The object is interposed between a rotating X-ray source (32) and a synchronized rotating detector (16). A focal plane (74) within the object is imaged onto the detector (16) so that a cross-sectional image of the object is produced. The X-ray source is typically produced by deflecting an electron beam (30) onto a flat transmission target anode (24). The target anode (24) emits X-ray radiation (34) opposite the location where the electrons are incident upon the target. The electron beam is produced by an electron gun (18) which includes X and Y deflection coils (22) for deflecting the electron beam (30) in the corresponding X and Y directions. Deflection voltage signals (60, 62) are applied to the X and Y deflection coils (22) and cause the X-ray source to rotate in a circular trace path. A DC voltage applied to the X deflection coil (22) will cause the circular path traced by the X-ray source (32) to shift in the X direction by a distance proportional to the magnitude of the DC voltage. This in turn will cause a different field of view (70, 72), which is displaced in the X direction from the previously imaged region, to be imaged within the same focal plane (74) in the object. A DC voltage applied to the Y deflection coil (22) will cause the circular path traced by the X-ray source (32) to shift in the Y direction by a distance proportional to the magnitude of the DC voltage. This in turn will cause a different field of view (70, 72), which is displaced in the Y direction from the previously imaged region, to be imaged within the same focal plane (74) in the object (14). Identical changes in the amplitudes of the voltage signals applied to the X and Y deflection coils will change the radius of the X-ray source path, thereby resulting in a change in the Z level of the imaged focal plane (74).
(FR)On décrit un système de tomographie à plusieurs trajets qui permet de visionner en séquence différentes régions d'un objet (14) sans qu'un mouvement mécanique de l'objet soit requis. L'objet est placé entre une source de rayons-X rotative (32) et un détecteur rotatif synchronisé (16). Un plan focal (74) à l'intérieur de l'objet est représenté par image sur le détecteur (16) de sorte qu'une image en coupe transversale de l'objet est produite. La source de rayons-X est généralement produite par la déflexion d'un faisceau d'électrons (30) sur une anode cible à transmission plane (24). L'anode cible (24) émet un rayonnement de rayons-X (34) à l'endroit opposé de celui où les électrons sont incidents sur la cible. Le faisceau d'électrons est produit par un canon à électrons (18) qui comprend des bobines de déflexion X et Y (22) servant à déflechir le faisceau d'électrons (30) vers des directions X et Y correspondantes. Des signaux de tension de déflexion (60, 62) sont appliqués aux bobines de déflexion X et Y (22) et font tourner la source de rayons-X sur un trajet circulaire. Une tension continue appliquée à la bobine de déflexion X (22) provoquera le déplacement du trajet circulaire, tracé par la source de rayons-X (32) dans la direction X et par une distance proportionnelle à l'intensité de la tension continue. Ceci, à son tour, amènera un différent champ de vision (70, 72), qui est déplacé dans la direction X par rapport à la région précédemment mise en image, à être représenté par image dans le même plan focal (74) de l'objet. Une tension continue appliquée à la bobine de déflexion Y (22) déplacera le trajet circulaire tracé par la source de rayons-X (32) dans la direction Y par une distance proportionnelle à l'intensité de la tension continue. Ceci à son tour amènera un champ de vision différent (70, 77), qui est déplacé dans la direction Y par rapport à la région précédemment mise en images, à être représenté par image dans le même plan focal (74) de l'objet (14). Des changements identiques dans les intensités des signaux de tension appliqués aux bobines de déflexion X et Y changeront le rayon du trajet de la source de rayons-X, ce qui résulte en un changement dans le niveau Z du plan focal représenté par image (74).
Designated States: CA, JP.
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FR, GB, GR, IT, LU, NL, SE).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)