WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO1992000574) METHOD FOR IMPROVING THE DYNAMIC RANGE OF AN IMAGING SYSTEM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1992/000574    International Application No.:    PCT/US1991/004777
Publication Date: 09.01.1992 International Filing Date: 02.07.1991
IPC:
H04N 5/32 (2006.01), H05G 1/60 (2006.01)
Applicants: VARIAN ASSOCIATES, INC. [US/US]; 3100 Hansen Way, Palo Alto, CA 94304-1030 (US)
Inventors: SEPPI, Edward, J.; (US).
SHAPIRO, Edward, G.; (US).
PAVKOVICH, John, M.; (US)
Agent: SGARBOSSA, Peter, J.; Varian Associates, Inc., 3100 Hansen Way, Palo Alto, CA 94304-1030 (US)
Priority Data:
547,451 02.07.1990 US
Title (EN) METHOD FOR IMPROVING THE DYNAMIC RANGE OF AN IMAGING SYSTEM
(FR) PROCEDE SERVANT A AMELIORER LA DYNAMIQUE D'UN SYSTEME D'IMAGERIE
Abstract: front page image
(EN)Disclosed is a method for improving the dynamic resolution of an imaging system. The method employs a dual sampling or exposure technique which samples light from an image intensifier (40) over a long and a short sample interval. When the resulting measurement for the long sample interval exceeds a threshold level, the short sample interval measurement is used, multiplied by a scaling factor (50). Below the treshold the long sample interval is used.
(FR)Procédé servant à améliorer la résolution dynamique d'un système d'imagerie. Le procédé emploie une technique de double échantillonnage ou exposition, qui échantillonne la lumière d'un intensificateur d'image (40) pendant un intervalle d'échantillonnage long et un intervalle d'échantillonnage court. Quand les mesures résultant de l'intervalle d'échantillonnage long dépassent un niveau limite, les mesures de l'intervalle d'échantillonnage court sont utilisées, multipliées par un facteur d'échelle (50). Au-dessous du seuil, l'intervalle d'échantillonnage long est utilisé.
Designated States: AU, JP.
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FR, GB, GR, IT, LU, NL, SE).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)