WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO1992000533) RAPID PULSE MAGNETIC RESONANCE ANALYSIS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1992/000533    International Application No.:    PCT/US1991/004558
Publication Date: 09.01.1992 International Filing Date: 26.06.1991
IPC:
G01R 33/563 (2006.01)
Applicants: LEW, Hyok, Sang [US/US]; (US)
Inventors: LEW, Hyok, Sang; (US)
Priority Data:
574,766 30.06.1990 US
Title (EN) RAPID PULSE MAGNETIC RESONANCE ANALYSIS
(FR) ANALYSE D'IMPULSIONS RAPIDES PAR RESONANCE MAGNETIQUE
Abstract: front page image
(EN)The principles of nuclear magnetic resonance are employed in a method to determine material properties and rate or fluid change in a test subject. A rapid pulse sequence is used to excite the test subject. The different component elements having spin-lattice relaxation times i.e. (T¿1?), (T¿2?), (T¿3?) are the sum of the levels of magnetization represented by curves (21), (22) and (23). Each value of magnetic resonance radiation measured by the rapid pulse sequence is substituted into a mathematical relationship that relates NMR radiation intensity to the number of sources associated with the material properties.
(FR)On utilise les principes de la résonance magnétique nucléaire dans un procédé permettant de déterminer les propriétés matérielles et la vitesse de changement de liquide chez un sujet test. On utilise une séquence d'impulsions rapides afin d'exciter le sujet test. Les différents éléments constitutifs ayant des temps de relaxation de réseau de spin, c'est-à-dire (T¿1?), (T¿2?), (T¿3), sont la somme des niveaux de magnétisation représentés par les courbes (21), (22) et (23). Chaque valeur de rayonnement de résonance magnétique mesurée par la séquence d'impulsions rapides est substituée dans une relation mathématique rapportant l'intensité de rayonnement de RMN au nombre de sources associées aux propriétés de la matière.
Designated States: JP.
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FR, GB, GR, IT, LU, NL, SE).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)