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1. (WO1991008454) DOUBLE-BEAM SPECTROMETER
Latest bibliographic data on file with the International Bureau

Pub. No.: WO/1991/008454 International Application No.: PCT/DE1990/000887
Publication Date: 13.06.1991 International Filing Date: 19.11.1990
Chapter 2 Demand Filed: 30.04.1991
IPC:
G01J 3/28 (2006.01) ,G01J 3/36 (2006.01) ,G01J 3/42 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
J
MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
3
Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
28
Investigating the spectrum
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
J
MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
3
Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
28
Investigating the spectrum
30
Measuring the intensity of spectral lines directly on the spectrum itself
36
Investigating two or more bands of a spectrum by separate detectors
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
J
MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
3
Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
28
Investigating the spectrum
42
Absorption spectrometry; Double-beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
Applicants:
KERNFORSCHUNGSZENTRUM KARLSRUHE GMBH [DE/DE]; Weberstr. 5 D-7500 Karlsruhe 1, DE (AllExceptUS)
BERNATH ATOMIC GMBH & CO. KG [DE/DE]; Gottlieb Daimler Str. 11-15 D-3015 Wennigsen 1, DE (AllExceptUS)
RINKE, Günter [DE/DE]; DE (UsOnly)
Inventors:
RINKE, Günter; DE
Agent:
GOTTLOB, Peter; Kernforschungszentrum Karlsruhe GmbH Weberstr. 5 D-7500 Karlsruhe 1, DE
Priority Data:
P 39 39 148.527.11.1989DE
Title (DE) ZWEISTRAHL-SPEKTROMETER
(EN) DOUBLE-BEAM SPECTROMETER
(FR) SPECTROMETRE A DOUBLE FAISCEAU
Abstract:
(DE) Die Erfindung betrifft ein Zweistrahl-Spektrometer, bei dem ein Meßstrahl nach Durchgang durch eine Meßzelle und ein Referenzstrahl über jeweils zwei Eintrittsspalten in ein Spektrometer gelangen. Beide Strahlen werden von einem optischen Gitter spektral zerlegt. Das Spektrometer soll mit einer Single-Photodiodenzeile arbeiten. Erfindungsgemäß liegen die beiden Eintrittsspalten, der Mittelpunkt des Gitters und die Meß- und Referenzspektren in einer Ebene; beide Spektren werden auf einem einzigen Array-Detektor registriert, wobei sich das Spektrum des Meßstrahls der Ordnung +1 unmittelbar an das Spektrum des Referenzstrahls mit der Ordnung -1 anschließt.
(EN) The invention concerns a double-beam spectrometer in which the measurement beam passes through the measurement cell and an entry slit into the spectrometer and the reference beam passes through a separate entry slit into the spectrometer. Both beams are split up into their spectral components by a diffraction grating. The spectrometer is designed to operate with a single photodiode array. In the spectrometer of the invention the two entry slits, the centre of the diffraction grating and the measurement and reference spectra lie in the same plane. Both spectra are recorded on a single-array detector, the +1 order measurement-beam spectrum being contiguous with the -1 order reference beam.
(FR) L'invention concerne un spectromètre à double faisceau dans lequel un faisceau de mesure ayant traversé une cellule de mesure et un faisceau de référence sont acheminés jusqu'à un spectromètre après avoir traversé chacun deux fentes d'entrée. Les deux faisceaux sont décomposés spectralement par une grille optique. Le spectromètre travaille avec une ligne unique de photodiodes. Dans l'invention, les deux fentes d'entrée, le centre de la grille et les spectres de mesure et de référence sont dans le même plan; les deux spectres sont enregistrés dans un détecteur à matrice de photodiodes, le spectre du faisceau de mesure d'ordre +1 étant juxtaposé au spectre du faisceau de référence d'ordre -1.
Designated States: US
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FR, GB, GR, IT, LU, NL, SE)
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)
Also published as:
EP0502866US5251007