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1. (WO1991005983) A METHOD AND A DEVICE FOR MEASURING THE HEIGHT OF MATERIAL PIECES
Latest bibliographic data on file with the International Bureau

Pub. No.: WO/1991/005983 International Application No.: PCT/FI1990/000242
Publication Date: 02.05.1991 International Filing Date: 17.10.1990
Chapter 2 Demand Filed: 15.04.1991
IPC:
G01B 11/06 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
B
MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11
Measuring arrangements characterised by the use of optical means
02
for measuring length, width, or thickness
06
for measuring thickness
Applicants:
IGGESUND PULP FIBRE OY AB [FI/FI]; Kokkokalliontie 4 C SF-00780 Helsinki, FI (AllExceptUS)
KORHONEN, Seppo [FI/FI]; FI (UsOnly)
PUUMALAINEN, Pertti [FI/FI]; FI (UsOnly)
Inventors:
KORHONEN, Seppo; FI
PUUMALAINEN, Pertti; FI
Agent:
OY KOLSTER AB; Stora Robertsgatan 23 P.O. Box 148 SF-00121 Helsinki, FI
Priority Data:
89496218.10.1989FI
Title (EN) A METHOD AND A DEVICE FOR MEASURING THE HEIGHT OF MATERIAL PIECES
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF DE MESURE DE LA HAUTEUR DE PIECES DE MATIERES
Abstract:
(EN) The invention relates to a method and a device for measuring the height of material pieces. It is previously known to measure the height of a material piece (2) by illuminating it from the side and measuring the width of a shadow falling on a detector (4). If several material pieces lie side by side on a surface (1), this prior art method cannot be applied. The height of the material pieces (2) can be measured individually by illuminating the material piece (2) obliquely from above in such a manner that a shadow (7) is formed upon the surface beside the material piece (2), and the length (B) of the shadow is measured. The length (B) of the shadow (7) gives the height of the material piece.
(FR) Procédé et dispositif de mesure de la hauteur de pièces de matières. Jusqu'à maintenant, on a mesuré la hauteur d'une pièce de matière (2) par éclairage de celle-ci à partir du côté et par mesure de la largeur de l'ombre tombant sur un détecteur (4). Si plusieurs pièces de matières se trouvent côte à côte sur une surface (1), ce procédé de l'art antérieur ne peut être appliqué. On peut mesurer la hauteur de pièces de matières (2) individuellement par éclairage de la pièce de matière (2) obliquement à partir du dessus de sorte qu'une ombre (7) est formée sur la surface située à côté de la pièce de matière (2) et que l'on mesure la longueur (D) de l'ombre. La longueur (B) de l'ombre (7) donne la hauteur de la pièce de matière.
Designated States: CA, JP, US
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FR, GB, GR, IT, LU, NL, SE)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)