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1. (WO1991003736) METHOD OF DETERMINING KINETICS OF IMMUNITY
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1991/003736    International Application No.:    PCT/JP1990/001148
Publication Date: 21.03.1991 International Filing Date: 07.09.1990
IPC:
G01N 33/50 (2006.01), G01N 33/569 (2006.01)
Applicants: YAMAUCHI, Tamio [JP/JP]; (JP)
Inventors: YAMAUCHI, Tamio; (JP)
Agent: MINAMI, Takao; Sogo Dai-ichi Bldg., 2, Kojimachi 3-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 102 (JP)
Priority Data:
1/234484 08.09.1989 JP
Title (EN) METHOD OF DETERMINING KINETICS OF IMMUNITY
(FR) PROCEDE PERMETTANT DE DETERMINER LA CINETIQUE DE L'IMMUNITE
Abstract: front page image
(EN)A method of determining and evaluating the kinetics of cell-mediated immunity, particularly that of cancer immunity by counting the number of CD3 positive lymphocytes, CD4 positive lymphocytes, CD8 positive lymphocytes, OKIal positive lymphocytes, NK cells, helper T lymphocytes, suppression inducer T lymphocytes, cytotoxic T lymphocytes, suppressor T lymphocytes, activated suppression inducer/helper T lymphocytes, activated suppressor/cytotoxic T lymphocytes, monocytes, basocytes, acidocytes and neutrocytes, and analyzing the results by multiple regression analysis as one technique of multivariate analysis.
(FR)Le procédé décrit permet de déterminer et d'évaluer la cinétique de l'immunité se manifestant par l'intermédiaire des globules sanguins, en particulier, la cinétique de l'immunité cancéreuse, en comptant le nombre de lymphocytes positifs CD3, de lymphocytes positifs CD4, de lymphocytes positifs CD8, de lymphocytes positifs OKIal, de globules NK, de lymphocytes T auxiliaires, de lymphocytes T inducteurs de suppression, de lymphocytes T cytotoxiques, de lymphocytes T suppresseurs, de lymphocytes T auxiliaires inducteurs de suppression activés, de lymphocytes T cytotoxiques/suppresseurs activés, de monocytes, de basocytes, d'acidocytes et de neutrocytes, et en analysant les résultats par analyse par régression multiple utilisée comme une technique d'analyse à plusieurs variables.
Designated States: JP, US.
European Patent Office (DE, FR, GB).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)