WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO1991003733) METHOD AND APPARATUS FOR IMAGING DISLOCATIONS IN MATERIALS USING A SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1991/003733    International Application No.:    PCT/GB1990/001395
Publication Date: 21.03.1991 International Filing Date: 07.09.1990
Chapter 2 Demand Filed:    02.04.1991    
IPC:
H01J 37/244 (2006.01), H01J 37/28 (2006.01)
Applicants: ISIS INNOVATION LIMITED [GB/GB]; 2 South Parks Road, Oxford (GB) (For All Designated States Except US).
CZERNUSZKA, Jan, Tadeusz [GB/GB]; (GB) (For US Only).
LONG, Neil, James [GB/GB]; (GB) (For US Only)
Inventors: CZERNUSZKA, Jan, Tadeusz; (GB).
LONG, Neil, James; (GB)
Agent: SMITH, Martin, Stanley; Stevens, Hewlett & Perkins, 1 St Augustine's Place, Bristol BS1 4UJ (GB)
Priority Data:
8920344.2 08.09.1989 GB
Title (EN) METHOD AND APPARATUS FOR IMAGING DISLOCATIONS IN MATERIALS USING A SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
(FR) PROCEDE ET APPAREIL SERVANT A PRODUIRE DES IMAGES DES DISLOCATIONS DANS LES MATERIAUX AU MOYEN D'UN MICROSCOPE ELECTRONIQUE A BALAYAGE
Abstract: front page image
(EN)Apparatus for imaging dislocations in materials using a scanning electron microscope and in which an electron detector is placed very close to the specimen being examined, without the intervention of a retarding field filter; low-loss electrons are collected by ensuring that the detector accepts electrons received from the specimen at an obtuse angle with respect to the incident electron beam; and an image enhancement system is used.
(FR)Appareil servant à produire des images des dislocations dans les matériaux au moyen d'un microscope électronique à balayage, dans lequel un détecteur électronique est placé très près du spécimen en cours d'examen, sans l'intervention d'un filtre de champ rétardateur; des électrons à faibles pertes sont recueillis en assurant que le détecteur reçoit des électrons provenant du spécimen à un angle obtus par rapport au faisceau d'électrons incident; et un système de rehaussement de la qualité des images est utilisé.
Designated States: JP, US.
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FR, GB, IT, LU, NL, SE).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)