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1. (WO1991003701) CAPACITANCE PROBE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1991/003701    International Application No.:    PCT/US1990/004973
Publication Date: 21.03.1991 International Filing Date: 04.09.1990
Chapter 2 Demand Filed:    05.04.1991    
IPC:
G01B 7/00 (2006.01), G01B 7/14 (2006.01)
Applicants: EASTMAN KODAK COMPANY [US/US]; 343 State Street, Rochester, NY 14650-2201 (US)
Inventors: MARCUS, Michael, Alan; (US).
GRAFF, Ernest, Arthur; (US)
Agent: SNEE, Charles, E., III; 343 State Street, Rochester, NY 14650 (US)
Priority Data:
402,285 05.09.1989 US
Title (EN) CAPACITANCE PROBE
(FR) SONDE DE CAPACITANCE AMELIOREE
Abstract: front page image
(EN)An improved capacitance probe (10) includes readily removable outer layers (64, 66) which facilitate its use in the field to measure the width of slots or clearances (12) of different widths; an optionally perforated guard electrode (64, 66, 76, 82) which permits width measurements over wider side wall bands with minimal effect on sensitivity; convergent or tapered side edges (102) to ease insertion and movement of the probe and a carrier block (124) which ensures proper positioning of the probe within such slots.
(FR)Une sonde de capacitance améliorée (10) comprend des couches externes aisément amovibles (64, 66) qui facilitent son utilisation pour mesurer la largeur de fentes ou dégagements (12) de différentes largeurs; une électrode de protection ou de garde éventuellement perforée (64, 66, 76, 82) permet des mesures de largeur sur des bandes de paroi latérale plus larges avec un effet minimum sur la sensibilité; des bords latéraux convergents ou coniques (102) facilitent l'introduction et le mouvement de la sonde et un bloc porteur (124) assure le positionnement correct de la sonde dans les fentes.
Designated States: JP.
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FR, GB, IT, LU, NL, SE).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)