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1. WO1991000524 - METHOD AND ELECTRICAL ARRANGEMENT FOR PROCESSING MEASUREMENT SIGNALS

Publication Number WO/1991/000524
Publication Date 10.01.1991
International Application No. PCT/EP1990/000756
International Filing Date 10.05.1990
Chapter 2 Demand Filed 09.11.1990
IPC
G01R 19/25 2006.01
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
19Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
25using digital measurement techniques
G08C 19/14 2006.01
GPHYSICS
08SIGNALLING
CTRANSMISSION SYSTEMS FOR MEASURED VALUES, CONTROL OR SIMILAR SIGNALS
19Electric signal transmission systems
12in which the signal transmitted is frequency or phase of ac
14using combination of fixed frequencies
CPC
G01R 19/25
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
19Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
25using digital measurement techniques
G08C 19/14
GPHYSICS
08SIGNALLING
CTRANSMISSION SYSTEMS FOR MEASURED VALUES, CONTROL OR SIMILAR SIGNALS
19Electric signal transmission systems
12in which the signal transmitted is frequency or phase of ac
14using combination of fixed frequencies
Applicants
  • SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Wittelsbacherplatz 2 D-80333 München, DE (AllExceptUS)
  • POPPINGER, Manfred [DE/DE]; DE (UsOnly)
  • SCHÖRNER, Reinhold [DE/DE]; DE (UsOnly)
Inventors
  • POPPINGER, Manfred; DE
  • SCHÖRNER, Reinhold; DE
Common Representative
  • SIEMENS AG; Postfach 22 16 34 D-8000 München 22, DE
Priority Data
P 39 20 648.323.06.1989DE
Publication Language German (DE)
Filing Language German (DE)
Designated States
Title
(DE) VERFAHREN UND ELEKTRISCHE ANORDNUNG ZUR MESSIGNALVERARBEITUNG
(EN) METHOD AND ELECTRICAL ARRANGEMENT FOR PROCESSING MEASUREMENT SIGNALS
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF ELECTRIQUE DE TRAITEMENT DE SIGNAUX DE MESURE
Abstract
(DE)
Bei einer Vielzahl von elektrischen Meßwertaufnehmern wird die zu erfassende Meßgröße in zwei frequenzanaloge Meßsignale umgewandelt, aus denen zur Bestimmung der Meßgröße eine Differenzfrequenz oder ein Frequenzverhältnis abgeleitet wird. Zur Beseitigung des Einflusses von Störgrößen auf das Meßergebnis und zur Verringerung der Nichtlinearität ist gemäß der Erfindung vorgesehen, der Bestimmung der Meßgröße die Differenz aus dem Verhältnis fa/fb der Frequenzen fa und fb zweier Meßsignale und seinem Kehrwert fb/fa zugrundezulegen. In einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung ist eine entsprechende elektrische Anordnung zur Meßsignalverarbeitung gemeinsam mit dem Meßwertaufnehmer auf einem Halbleiter-Chip integriert.
(EN)
In many electrical measurement detectors, the measured value to be detected is converted into two frequency-analogue measurement signals from which a differential frequency or a frequency ratio is derived to determine the measurement. In order to eliminate the effect of interferences on the result of measurement and to reduce non-linearity, according to the invention the determination of the measurement is based on the difference between the ratio fa/fb of the frequencies fa and fb of two measurement signals and its reciprocal fb/fa. In a preferred embodiment of the invention a corresponding electrical arrangement for processing measurement signals is integrated with the measurement detector on a semiconductor chip.
(FR)
Dans le cas d'une pluralité de capteurs électriques de valeurs de mesure, les paramètres à saisir sont convertis en deux signaux de mesure de fréquence analogue, sur la base desquels on dérive une fréquence différentielle ou un rapport de fréquences afin de déterminer le paramètre en question. Afin d'éliminer l'influence d'interférences sur le résultat de la mesure et de diminuer la non-linéarité, la détermination du paramètre à mesurer est fondée sur la différence dérivée du rapport fa/fb entre les fréquences fa et fb de deux signaux de mesure et sa valeur inverse fb/fa. Dans un mode de réalisation préférentiel de l'invention, un dispositif électrique correspondant de traitement de signaux de mesure est intégré avec le capteur de valeurs de mesure sur une puce semi-conductrice.
Also published as
Latest bibliographic data on file with the International Bureau