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1. (WO1990009681) PARTICLE DETECTOR
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1990/009681    International Application No.:    PCT/NL1990/000015
Publication Date: 23.08.1990 International Filing Date: 08.02.1990
Chapter 2 Demand Filed:    21.08.1990    
IPC:
G01T 1/28 (2006.01), H01J 29/44 (2006.01), H01J 37/244 (2006.01), H01L 31/0232 (2006.01), H01L 31/115 (2006.01), H01L 31/119 (2006.01)
Applicants: B.V. OPTISCHE INDUSTRIE 'DE OUDE DELFT' [NL/NL]; Van Miereveltlaan 9, NL-2612 XE Delft (NL) (For All Designated States Except US).
DE SALVO, Riccardo [IT/FR]; (FR) (For US Only).
ROBINSON, Michael, Franks [GB/GB]; (GB) (For US Only).
COCHRANE, John, Anthony [GB/NL]; (NL) (For US Only)
Inventors: DE SALVO, Riccardo; (FR).
ROBINSON, Michael, Franks; (GB).
COCHRANE, John, Anthony; (NL)
Agent: SMULDERS, Th., A., H., J.; Vereenigde Octrooibureaux, Nieuwe Parklaan 107, NL-2587 BP The Hague (NL)
Priority Data:
8900313 08.02.1989 NL
8900646 16.03.1989 NL
Title (EN) PARTICLE DETECTOR
(FR) DETECTEUR DE PARTICULES
Abstract: front page image
(EN)A detector for detecting charged particles moved by an electric field directly or indirectly to said detector. The detector comprises a multi-layer semiconductor element which in operation collects the charged particles and converts them into a corresponding electric signal. The semiconductor element may be a matrix.
(FR)Détecteur de particules chargées déplacées par un champ électrique directement ou indirectement jusqu'audit détecteur. Ledit détecteur comprend un élément semi-conducteur multicouche collectant les particules chargées et les transformant en un signal électrique correspondant. Ledit élément semi-conducteur peut être une matrice.
Designated States: JP, US.
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FR, GB, IT, LU, NL, SE).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)