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1. (WO1990004166) PROCESS AND DEVICE FOR MEASURING GLOSS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1990/004166    International Application No.:    PCT/EP1989/001218
Publication Date: 19.04.1990 International Filing Date: 13.10.1989
Chapter 2 Demand Filed:    11.05.1990    
IPC:
G01N 21/57 (2006.01)
Applicants: BYK-GARDNER GMBH [DE/DE]; Lausitzer Straße 8, D-8192 Geretsried (DE) (For All Designated States Except US).
SCHWARZ, Peter [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Inventors: SCHWARZ, Peter; (DE)
Agent: WALLINGER, Michael; Maximilianstr. 58, D-80538 München (DE)
Priority Data:
P 38 35 065.3 14.10.1988 DE
Title (DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR GLANZMESSUNG
(EN) PROCESS AND DEVICE FOR MEASURING GLOSS
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF POUR MESURER LA BRILLANCE
Abstract: front page image
(DE)Vorrichtung und Verfahren zur Messung des Glanzes einer Oberfläche mit einer Lichtquelle, welches Licht in Richtung der Oberfläche aussendet, und einem lichtempfindlichen Sensor, der das von der Oberfläche reflektierte Licht aufnimmt und in einen elektrischen Signalwert unwandelt. Es ist eine Speichereinrichtung, in welcher eine Berechnungsvorschrift zur Berechnung des Glanzkennwertes gespeichert ist, und einer Recheneinrichtung, welche aus dem elektrischen Signalwert unter Verwendung der Rechenvorschrift einen Glanzkennwert ermittelt und eine Anzeigeeinrichtung, welche den ermittelten Glanzkennwert anzeigt vorgesehen. In der Speichereinrichtung sind fünf, oder mehr Referenzwertepaare abgespeichert sind, wobei jedes Referenzwertepaar aus einem Referenz-Glanzkennwert und einem mittels der Vorrichtung unter Verwendung einer Referenzoberfläche gemessenen zugehörigen Referenz-Signalwert besteht. Eine Vergleichseinrichtung ist vorgesehen, welche den gemessenen Signalwert mit diesen Referenz-Signalwerten vergleicht und zumindest den nächst höheren und den nächst niedrigeren Wert eine Interpolationseinrichtung zuführt.
(EN)Process and device for measuring gloss in a surface with a light source, which emits light towards the surface, and with a photosensitive detector, which receives the light reflected by the surface and converts it into an electrical signal value. Said device includes a storage unit, where a computing rule for calculating the gloss parameter is stored, a calculation unit, which determines a gloss parameter on the basis of the electrical signal value using the computing rule, and a display unit, which displays the gloss parameter calculated. Five or more pairs of reference values are stored in the storage unit, each pair of reference values being comprised of a reference gloss parameter and of a corresponding reference signal value measured by the device using a reference surface. A comparative unit is also provided, which compares the signal value measured with said reference signal values and feeds at least the nearest higher and the nearest lower value to an interpolation unit.
(FR)Procédé et dispositif pour mesurer la brillance d'une surface avec une source lumineuse, laquelle émet de la lumière en direction de la surface, et avec un détecteur photosensible qui reçoit la lumière réfléchie par la surface et la convertit en une valeur de signal électrique. Ledit dispositif comprend une unité à mémoire dans laquelle est mémorisée une règle de calcul pour calculer le paramètre de brillance, une unité de calcul qui détermine un paramètre de brillance sur la base de la valeur de signal électrique au moyen de la règle de calcul, et une unité d'affichage qui affiche le paramètre de brillance calculé. Au moins cinq couples de valeurs de référence sont mémorisés dans l'unité à mémoire, chaque couple de valeurs de référence étant constitué d'un paramètre de brillance de référence et d'une valeur de signal de référence correspondante mesurée par le dispositif à l'aide d'une surface de référence. Une unité de comparaison compare la valeur de signal mesurée avec lesdites valeurs de signal de référence et injecte dans une unité d'interpolation au moins la valeur immédiatement supérieure et la valeur immédiatement inférieure.
Designated States: JP, US.
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, FR, GB, IT, LU, NL, SE).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)