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1. (WO1990001753) COIN ANALYZER SYSTEM AND APPARATUS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1990/001753    International Application No.:    PCT/US1989/003446
Publication Date: 22.02.1990 International Filing Date: 11.08.1989
Chapter 2 Demand Filed:    09.03.1990    
IPC:
G07D 3/02 (2006.01), G07D 5/00 (2006.01), G07D 5/08 (2006.01)
Applicants: COIN MECHANISMS, INCORPORATED [US/US]; 817 Industrial Drive, Elmhurst, IL 60126 (US).
PARKER, Donald, O. [US/US]; (US)
Inventors: PARKER, Donald, O.; (US)
Agent: CONKLIN, John, B.; Leydig, Voit & Mayer, One IBM Plaza, Suite 4600, Chicago, IL 60611 (US)
Priority Data:
231,697 12.08.1988 US
Title (EN) COIN ANALYZER SYSTEM AND APPARATUS
(FR) SYSTEME ET APPAREIL D'ANALYSE DE PIECES DE MONNAIE
Abstract: front page image
(EN)A coin analyzer system and apparatus (10) for controlling coin operated machines provides a detection circuit (40) for comparing a tested coin (34) with at least two sample coins (30, 32). The sample coins are located in a region of a magnetic field, and the tested coins pass through another region of the magnetic field. If the tested coin doesn't match the sample coins, a kicker gate (80) forces the tested coin laterally out of the coin chute (26) into a rejected coin ramp (56). If the tested coin matches any sample coins, the kicker gate is opened and the coin drops through a vertical accepted coin chute (52). Credit is not extended the coin until it passes a confirmation sensor (36). The credit circuit may be adjusted to vary the credit value of the sample coins. A lockout circuit prevents lost credits due to rapid successive feeding of coins.
(FR)Un système et un appareil (10) d'analyse de pièces de monnaie utiles pour commander des machines à sous comprend un circuit de détection (40) qui compare une pièce de monnaie testée (34) avec au moins deux pièces de monnaie de référence (30, 32). Les pièces de monnaie de référence sont situées dans une région d'un champ magnétique et les pièces de monnaie testées traversent une autre région du champ magnétique. Lorsque la pièce testée ne correspond pas aux pièces de référence, une porte de rejet (80) pousse latéralement la pièce hors du canal (86) vers une rampe (56) de pièces rejetées. Lorsque la pièce correspond à une des pièces de référence, la porte de rejet s'ouvre et la pièce tombe à travers un canal (52) vertical de pièces acceptées. Le crédit n'est accordé que lorsque la pièce dépasse un capteur de confirmation (36). Le circuit de crédit peut être ajusté de façon à modifier la valeur des pièces de référence. Un circuit de verrouillage empêche une perte de crédit due à l'introduction successive rapide de pièces de monnaie.
Designated States: AU, JP.
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)