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1. (WO1990001692) ELECTRO-OPTICAL MEASURING INSTRUMENTS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1990/001692    International Application No.:    PCT/GB1989/000845
Publication Date: 22.02.1990 International Filing Date: 25.07.1989
Chapter 2 Demand Filed:    15.02.1990    
IPC:
G01J 1/44 (2006.01), G01N 21/21 (2006.01), G01N 21/64 (2006.01), G02B 21/00 (2006.01)
Applicants: EDINBURGH INSTRUMENTS LTD. [GB/GB]; Somerset House, Blagrave Street, Reading, Berkshire RG1 1QB (GB) (For All Designated States Except US).
LOUIS, Thomas, André [CH/DE]; (DE)
Inventors: LOUIS, Thomas, André; (DE)
Agent: GILL JENNINGS & EVERY; 53/64 Chancery Lane, London WC2A 1HN (GB)
Priority Data:
8818106.0 29.07.1988 GB
8821470.5 13.09.1988 GB
Title (EN) ELECTRO-OPTICAL MEASURING INSTRUMENTS
(FR) INSTRUMENTS DE MESURE ELECTRO-OPTIQUES
Abstract: front page image
(EN)The present invention relates to an optical routing module (2) suitable for use in a light microscope (1) for sample inspection simultaneously with a primary light source (10) and a secondary light source (7) of different wavelength. The module (2) comprises a housing mounting first and second polarising beam splitters PBS1, PBS2 along a primary light beam pathway through the module and having secondary light beam inlet and outlet means (5, 6) opposite different ones of the polarising beam splitters PBS1, PBS2, which have a narrow predetermined operating wavelength range, defined between s- and p-plane transitional wavelengths, which substantially excludes the primary light source wave length band and such that at least one polarising plane component of each of the secondary light source and a secondary light output from the sample is subjected to a different one of transmission and reflection from that to which the primary light source is subjected at each of the first and second polarising beam splitters PBS1, PBS2, which are further formed and arranged for defining a secondary light beam pathway from the inlet (5) to the outlet (6) so that the secondary light beam pathway is brought substantially into alignment with an outward leg of said primary beam pathway upstream of the sample by said first polarising beam splitter PBS1 and is separated back out from a return leg of said primary light beam pathway downstream of the sample by said second polarising beam splitter PBS2 whereby in use of the module (2) in a light microscope (1), the area of incidence of the secondary light beam with the sample may be monitored via the primary light beam.
(FR)Cette invention concerne un module (2) d'acheminement optique adapté pour une utilisation dans un microscope à lumière (1) pour l'analyse d'échantillons simultanément avec une source (10) primaire de lumière et une source (7) secondaire de lumière, de longueurs d'ondes différentes. Le module (2) comprend un logement sur lequel sont montés des premier et second systèmes polariseurs de fractionnement des rayons PBS1, PBS2 le long d'une trajectoire de faisceau lumineux primaire à travers le module, et comportant des moyens (5, 6) d'entrée et de sortie de faisceau lumineux secondaire situés à l'opposé des différents systèmes polariseurs de fractionnement des rayons PBS1, PBS2, ayant une plage de longeur d'onde de fonctionnement prédéterminée définie entre des longueurs d'ondes transitionnelles de plan s et p, excluant sensiblement la bande de longueur d'onde de la source lumineuse primaire et de sorte qu'au moins un élément de plan polariseur de chacune de la source lumineuse secondaire et d'une sortie lumineuse secondaire provenant de l'échantillon est soumise à une transmission et une réflexion différentes de celles auxquelles la source lumineuse primaire est soumise au niveau de chacun des premier et second systèmes polariseurs de fractionnement des rayons PSB1, PSB2. Lesdits systèmes sont en outre formés et agencés pour définir une trajectoire de faisceau lumineux secondaire de l'entrée (5) à la sortie (6) de sorte que la trajectoire de faisceau lumineux secondaire soit sensiblement amenée en alignement avec une jambe située en dehors de la trajectoire dudit faisceau primaire en amont de l'échatillon, par ledit premier système polariseur de fractionnement des rayons PBS1, et est séparé en retour hors d'une jambe de retour de la trajectoire dudit faisceau lumineux primaire en aval de l'échantillon par ledit second système polariseur de fractionnement des rayons PBS2. Cet agencement permet lors de l'utilisation (2) dans un microscope à lumière (1), de contrôler la surface d'incidence d'un faisceau lumineux secondaire avec l'échatillon via le faisceau lumineux primaire.
Designated States: JP, US.
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, FR, GB, IT, LU, NL, SE).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)