(EN) The measuring apparatus serves for measuring the distance of an object from a measurement surface. The apparatus contains an illumination unit, which is preferably a laser. Furthermore the apparatus contains an optical image reproduction system with which a light ray projected onto the object by the illumination unit is imaged, after reflection, on an optical sensor. A two-dimensional charge-coupled semiconductor sensor should be used as optical sensor, which sensor has a plurality of electrodes arranged in the form of a matrix. To evaluate the position of the light spot-point of concentration on the image region of the charge-coupled semiconductor sensor all pulse trains should be evaluated which can be retrieved from illuminated electrode series. In this way a high resolution is achieved despite a relatively small number of electrodes in any one series.
(FR) L'appareil de mesure sert à mesurer la distance séparant un objet d'une surface de mesure. L'appareil comporte une unité d'éclairage qui est de préférence un laser. Il comprend également un système de reproduction d'image optique, avec lequel un rayon lumineux projeté sur l'objet par l'unité d'éclairage est mis en image, après réflexion, sur un détecteur optique. Un détecteur bidimensionnel à semi-conducteurs à couplage de charge devra être utilisé à titre de détecteur optique, lequel comportera une pluralité d'électrodes agencées sous forme d'une matrice. Dans le but d'évaluer la position du point lumineux de concentration sur la région d'image dudit détecteur, on évaluera tous les trains d'impulsions qui peuvent être saisis à partir de séries d'électrodes éclairées. On obtient ainsi une résolution élevée en dépit d'un nombre relativement faible d'électrodes dans chacune de ces séries.