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1. (WO1987006341) SYSTEMS FOR THE DIRECT ANALYSIS OF SOLID SAMPLES BY ATOMIC EMISSION SPECTROSCOPY
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1987/006341    International Application No.:    PCT/AU1987/000101
Publication Date: 22.10.1987 International Filing Date: 15.04.1987
IPC:
G01N 21/67 (2006.01), G01J 3/28 (2006.01), G01J 3/443 (2006.01)
Applicants: CHAMBER RIDGE PTY. LTD. [AU/AU]; 1/527 Riversdale Road, Camberwell, VIC 3124 (AU) (For All Designated States Except US).
LUCAS, Michael, Alfred [AU/AU]; (AU) (For US Only).
HUGHES, Terry, Charles [AU/AU]; (AU) (For US Only)
Inventors: LUCAS, Michael, Alfred; (AU).
HUGHES, Terry, Charles; (AU)
Agent: EDWD. WATERS & SONS.; 50 Queen Street, Melbourne, VIC 3000 (AU)
Priority Data:
PH 5481 16.04.1986 AU
Title (EN) SYSTEMS FOR THE DIRECT ANALYSIS OF SOLID SAMPLES BY ATOMIC EMISSION SPECTROSCOPY
(FR) SYSTEMES D'ANALYSE DIRECTE D'ECHANTILLONS SOLIDES PAR SPECTROSCOPIE D'EMISSION ATOMIQUE
Abstract: front page image
(EN)An analysis system for directly analysing solid samples by atomic emission spectroscopy wherein the system includes an atomic spectral lamp (1) of the type which enables a solid sample to be analysed to be demountably located as a cathode of the lamp (1), means (2) for producing a primary electric discharge by cathodic sputtering from the sample via connection (8) and a secondary boosted discharge for analytical emission via connection (9), spectral wave length analysis device (4) being arranged to receive and determine the intensity of spectral lines emitted by the lamp (1), and control means (3) for controlling the system, the current level of the sample cathode and the operation of the spectral wave length analysis device (4) being controlled on the basis of output from the photomultiplier tube (7) such that the intensity of the spectral lines is maximized and the relationship between spectral line intensity and concentration of the corresponding element in the sample is maintained in a region which is substantially linear.
(FR)Un système d'analyse, permettant d'analyser directement des échantillons solides par spectroscopie d'émission atomique, utilise une lampe spectrale atomique (1) du type permettant d'analyser un échantillon solide destiné à être disposé de façon démontable pour servir de cathode à la lampe (1), un dispositif (2) permettant de produire une première décharge électrique par pulvérisation cathodique depuis l'échantillon via une connexion (8) et une seconde décharge survoltée en vue de l'émission analytique via une connexion (9), un dispositif d'analyse de la longueur d'onde spectrale (4), destiné à recevoir et à déterminer l'intensité des lignes spectrales émises par la lampe (1), et un dispositif de commande (3) du système, le niveau de courant de la cathode de l'échantillon et le fonctionnement du dispositif d'analyse de longueur d'onde spectrale (4) étant régulés sur la base de la sortie provenant du tube photomultiplicateur (7), de telle sorte que l'intensité des lignes spectrales est maximalisée et la relation entre l'intensité des lignes spectrales et la concentration de l'élément correspondant dans l'échantillon sont maintenues dans une région essentiellement linéaire.
Designated States: AU, JP, US.
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, FR, GB, IT, LU, NL, SE).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)