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1. (WO1987003683) SHEARING PHASE DIFFERENCE SENSOR
Latest bibliographic data on file with the International Bureau

Pub. No.: WO/1987/003683 International Application No.: PCT/US1986/002017
Publication Date: 18.06.1987 International Filing Date: 25.09.1986
IPC:
G01J 9/00 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
J
MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
9
Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
Applicants:
HUGHES AIRCRAFT COMPANY [US/US]; 7200 Hughes Terrace Los Angeles, CA 90045-0066, US
Inventors:
ELLERBROEK, Brent, L.; US
COHN, Brian, D.; US
Agent:
TAYLOR, Ronald, L. @; Hughes Aircraft Company Post Office Box 45066 Bldg. C1, M/S A-126 Los Angeles, CA 90045-0066, US
Priority Data:
806,89309.12.1985US
Title (EN) SHEARING PHASE DIFFERENCE SENSOR
(FR) CAPTEUR DE DIFFERENCE DE PHASE PAR CISAILLEMENT
Abstract:
(EN) A shearing phase difference sensor including a high energy laser source for generating adjacent coherent light beams. Samples of the beams are extracted by an extracter and directed to an optical modifier. The optical modifier, positioned for intercepting the sample beams from the extracter, diffracts the beams and produces output beams which, in turn, are directed through a lens to a detector. The detector, positioned to intercept the output beams, produces electrical signals indicative of the output beams. The electrical signals are processed by a processor which calculates the phase difference between adjacent coherent light beams. Also, disclosed is a method for measuring the phase difference between adjacent coherent light beams.
(FR) Capteur de différence de phase par cisaillement comprenant une source de faisceaux lasers à haute énergie produisant des faisceaux adjacents de lumière cohérente. Des échantillons de ces faisceaux sont extraits par un extracteur et dirigés sur un modificateur optique. Ce dernier, positionné de manière à intercepter les faisceaux d'échantillon provenant de l'extracteur, provoque la diffraction des faisceaux et produit des faisceaux de sortie qui, à leur tour, sont dirigés sur un détecteur après avoir traversé une lentille. Le détecteur, positionné pour intercepter les faisceaux de sortie, produit des signaux électriques dépendant des faisceaux de sortie. Les signaux électriques sont traités par un processeur qui calcule la différence de phase entre les faisceaux adjacents de lumière cohérente. Est également décrit un procédé de mesure de la différence de phase entre des faisceaux adjacents de lumière cohérente.
Designated States: JP
European Patent Office (DE, FR, GB, IT)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)
Also published as:
EP0248085JPS63501742