WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO1985002264) NMR IMAGING METHOD AND APPARATUS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1985/002264    International Application No.:    PCT/US1984/001828
Publication Date: 23.05.1985 International Filing Date: 09.11.1984
IPC:
G01R 33/50 (2006.01)
Applicants: DUKE UNIVERSITY [US/US]; 2111 Campus Drive, Durham, NC 27706 (US)
Inventors: RIEDERER, Stephen, J.; (US)
Agent: MAIER, Gregory, J. @; Oblon, Fisher, Spivak, McClelland & Maier, Crystal Square Five, Suite 400, 1755 South Jefferson Davis Highway, Arlington, VA 22202 (US)
Priority Data:
550,198 09.11.1983 US
Title (EN) NMR IMAGING METHOD AND APPARATUS
(FR) APPAREIL ET PROCEDE DE FORMATION D'IMAGE PAR RESONANCE MAGNETIQUE NUCLEAIRE
Abstract: front page image
(EN)Intrinsic parameters T1, T2 and Mo of the materials in a body under NMR examination are determined by conducting a small number of actually NMR measurements and analyzing the derived data, the measurements being made at different repetition and delay times. The intrinsic parameters are then used to synthesize images which simulate those which would have been generated using other delay and repetition times in an actual measurement process. A processing apparatus is disclosed which operates in real time, permitting an operator to interactively modify the delay and repetition times while observing successive displays which simulates measurements made using those times.
(FR)On détermine les paramètres intrinsèques T1, T2 et Mo des matériaux dans un corps soumis à un examen par résonance magnétique nucléaire en effectuant un petit nombre de mesures effectivement par résonance magnétique nucléaire et en analysant les données dérivées, les mesures étant faites à différents moments de répétition et de retard. On utilise ensuite ces paramètres intrinsèques pour synthétiser des images simulant celles que l'on aurait créées en utilisant d'autres temps de retard et de répétition dans un procédé de mesure effectif. La présente invention décrit un appareil de traitement fonctionnant en temps réel, permettant à un opérateur de modifier de manière interactive les temps de retard et de répétition tout en observant les affichages successifs simulant les mesures faites en utilisant lesdits temps.
Designated States: JP.
European Patent Office (CH, DE, FR, GB, NL).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)