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1. (WO1984004819) METHOD FOR INSPECTING AND TESTING AN ELECTRIC DEVICE OF THE PRINTED OR INTEGRATED CIRCUIT TYPE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1984/004819    International Application No.:    PCT/CH1984/000081
Publication Date: 06.12.1984 International Filing Date: 22.05.1984
IPC:
G01R 31/304 (2006.01), G01R 31/305 (2006.01), G01R 31/308 (2006.01)
Applicants:
Inventors:
Priority Data:
  30.12.1899 null
Title (EN) METHOD FOR INSPECTING AND TESTING AN ELECTRIC DEVICE OF THE PRINTED OR INTEGRATED CIRCUIT TYPE
(FR) PROCEDE D"EXAMEN ET DE TEST D"UN DISPOSITIF ELECTRIQUE DU TYPE DES CIRCUITS INTEGRES OU IMPRIMES
Abstract: front page image
(EN)The method is based on the interaction radiation-material of a structure presenting discontinuities and in which at least one layer provides for the transport of electrons. To this effect, a stimulation signal (Si) is provided through the device to be tested and in conjunction therewith at least one radiation source (2) sends an incident radiation (ri) against the surface of the device (1). The secondary radiation (ri) emitted by the device (1) is detected as well as the response (Sp) of the device (1). Said signals are compared either individually or in combination to a reference.
(FR)Ce procédé est basé sur l"interaction rayonnement-matière d"une structure présentant des discontinuités et dans laquelle au moins une couche est le siège d"un transport d"électrons. A cet effet, un signal de stimulation (Se) est envoyé à travers le dispositif à tester et conjointement une source au moins de rayonnement (2) envoie un rayonnement incident (ri) contre la surface du dispositif (1). Le rayonnement secondaire (re) émis par le dispositif (1) est détecté de même que la réponse (Sp) du dispositif (1). Ces signaux sont comparés soit individuellement, soit en combinaison à une référence.
Designated States:
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)