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1. (WO1983004107) ELECTRON-OPTICAL WIDE BAND SIGNAL MEASUREMENT SYSTEM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1983/004107    International Application No.:    PCT/US1983/000766
Publication Date: 24.11.1983 International Filing Date: 12.05.1983
IPC:
G01R 13/34 (2006.01), G01R 29/02 (2006.01), G04F 13/02 (2006.01)
Applicants: THE UNIVERSITY OF ROCHESTER [US/US]; Rochester, NY 14627 (US)
Inventors: MOUROU, Gerard; (US).
VALDMANIS, Janis, A.; (US).
WILLIAMSON, Steven, L.; (US)
Agent: LUKACHER, Martin; Lincoln First Tower, Suite 2000, Rochester, NY 14604 (US)
Priority Data:
378,379 14.05.1982 US
Title (EN) ELECTRON-OPTICAL WIDE BAND SIGNAL MEASUREMENT SYSTEM
(FR) SYSTEME DE MESURE OPTO-ELECTRONIQUE DE SIGNAUX A BANDE LARGE
Abstract: front page image
(EN)Electrical signals are measured (analyzed and displayed) with picosecond resolution and sensivity in the microvolt (less than 100 microvolts) range by electron-optically sampling the signal. Sampling electron bursts are produced in response to a train of subpicosecond optical pulses. A beam of these electron bursts samples successive portions of the signal as it is transmitted as a travelling wave along deflection plates (29, 31) which act as a transmission line. The bursts are deflected in accordance with the amplitude of the successive portions of the signal and translated into spots of light, as on a phosphor screen (27). The deflection is significantly less than the diameter of the spot. The deviation of the spot with respect to the position thereof in the absence of the signal on the deflection plates (29, 31) is translated into a difference output. The signal to be analyzed is generated, synchronously with the optical pulses, to propagate along the deflection plates (29, 31) in variably delayed relationship therewith. The signal is optically-induced using a separate beam of the optical pulses which is desirably chopped into optical pulses. The difference output is processed, preferably by a lock-in amplifier (76) and signal averager (78); the lock-in amplifier being synchronized with the chopping of the beam into the optical pulses, and displayed on a time base synchronous with the variable delay of the optical pulses. Accordingly, the signal is displayed (72) on an expanded time scale for measurement and other analysis.
(FR)Des signaux électriques sont mesurés (analysés et affichés) avec une sensibilité et une résolution en picosecondes dans la gamme du microvolt (moins de 100 microvolts) par échantillonnage opto-électronique du signal. Des salves d'électrons d'échantillonnage sont produites en réponse à un train d'impulsions optiques de souspicosecondes. Un faisceau de ces salves d'électrons échantillonne des parties successives du signal pendant sa transmission sous la forme d'une onde progressive le long de plaques de déflexion (29, 31) qui jouent le rôle d'une ligne de transmission. Les salves d'électrons sont déviées selon l'amplitude des parties successives du signal et sont transformées en spots ou points lumineux, sur un écran de phosphore (27). La déflexion est sensiblement plus petite que le diamètre du point lumineux. La déviation du spot par rapport à sa position en l'absence du signal sur les plaques de déflexion (29, 31) est transformée en une sortie différentielle. Le signal à analyser est généré, de manière synchrone avec les impulsions optiques, pour se propager le long des plaques de déflexion (29, 31), avec un retard par rapport à celles-ci. Le signal est induit optiquement en utilisant un faisceau séparé d'impulsions optiques qui est haché comme on le désire en impulsions optiques. La sortie différentielle est traitée, de préférence par un détecteur à sensibilité de phase (76) et un dispositif effectuant la moyenne des signaux (78); le détecteur à sensibilité de phase est synchronisé avec l'opération consistant à hacher le faisceau en impulsions optiques, et il est affiché sur une base de temps synchrone avec le retard variable des impulsions optiques. En conséquence, le signal est affiché (72) sur une échelle de temps allongée dans le but d'effectuer des mesures et autres analyses.
Designated States: JP.
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, FR, GB, LU, NL, SE).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)