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1. (WO1983002164) APPARATUS FOR HIGH SPEED FAULT MAPPING OF LARGE MEMORIES
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1983/002164    International Application No.:    PCT/US1981/001683
Publication Date: 23.06.1983 International Filing Date: 17.12.1981
IPC:
G06F 11/00 (2006.01), G11C 29/00 (2006.01)
Applicants: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION [US/US]; Route 52, Department 901/Building 300-482, Hopewell Junction, NY 12533 (US) (For All Designated States Except US).
RYAN, Philip, Meade [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: RYAN, Philip, Meade; (US)
Agent: HAASE, Robert, J.; International Business Machines Corporation, Route 52, Department 901/Building 300-482, Hopewell Junction, NY 12533 @ (US)
Priority Data:
Title (EN) APPARATUS FOR HIGH SPEED FAULT MAPPING OF LARGE MEMORIES
(FR) DISPOSITIF DE LOCALISATION A HAUTE VITESSE DE DEFAUTS DANS LES MEMOIRES ETENDUES
Abstract: front page image
(EN)Apparatus for mapping and classifying the faulty bits of a large computer memory. Known data is read into the memory (1) and then the data stored in the memory is read out in a predetermined sequence (17, 18). The data read out is compared (10) with the known written data and the mismatches (errors) are counted (11, 12). Based upon the number of errors counted and the known sequence in which the stored data is read out, the type of fault is determined, e.g., a failure of an entire bit line, a failure of an entire word line, etc., and a status byte is established (7) representing the fault type. The status byte is useful in determining a reconfiguration of the memory whereby the faulty memory bits are scattered among accessed data words in such a way that available error correcting capability can correct the remaining faulty bits in each data word.
(FR)Dispositif de localisation et de classification des bits défectueux d'une mémoire étendue d'ordinateur. Les données connues sont écrites dans la mémoire (1) et les données stockées en mémoire sont lues selon une séquence prédéterminée (17, 18). Les données lues sont comparées (10) aux données écrites connues et les différences (erreurs) sont comptées (11, 12). Sur la base du nombre d'erreurs comptées et de la séquence connue dans laquelle les données stockées sont lues, on détermine le type de défaut, par exemple le manque d'une ligne entière de bits, le manque d'une ligne entière de mots, etc., et on établit un byte d'état (7) représentant le type de défaut. Le byte d'état est utile pour déterminer une reconfiguration de la mémoire grâce à laquelle les bits de mémoire défectueux sont dispersés entre des mots de données accédés de sorte que le dispositif de correction d'erreurs disponible puisse corriger les bits défectueux restant dans chaque mot de données.
Designated States: JP, US.
European Patent Office (DE, FR, GB).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)