WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO1983000592) SEMICONDUCTOR CROSSPOINT LINEARIZING ARRANGEMENT
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1983/000592    International Application No.:    PCT/US1982/000920
Publication Date: 17.02.1983 International Filing Date: 12.07.1982
IPC:
H04M 3/30 (2006.01), H04Q 3/52 (2006.01)
Applicants: WESTERN ELECTRIC COMPANY, INC. [US/US]; 222 Broadway, New York, NY 10038 (US)
Inventors: BRAUN, Arthur, Rechtman; (US).
POIGNANT, Robert, Emil; (US)
Agent: HIRSCH, A., E., Jr. @; Post Office Box 901, Princeton, NJ 08540 (US)
Priority Data:
291,277 10.08.1981 US
Title (EN) SEMICONDUCTOR CROSSPOINT LINEARIZING ARRANGEMENT
(FR) AGENCEMENT DE LINEARISATION DE POINTS DE CROISEMENT DE SEMICONDUCTEURS
Abstract: front page image
(EN)An arrangement for performing subscriber loop testing through a concentrator/expandor (17) employing semiconductor crosspoints. The crosspoints (46, 47, 48) of the concentrator/expandor are relatively nonlinear when conducting currents less than a predetermined current and are relatively linear when conducting currents in excess of the predetermined current. When tests are to be applied to a given subscriber loop (13) which comprises a tip conductor and a ring conductor, two paths are completed through the concentrator/expandor (17) to the tip conductor and two paths are completed through the concentrator/expandor to the ring conductor. A linearizing source (26) then transmits a current in excess of the predetermined current around the circuits formed by the two concentrator/expandor paths to each subscriber loop conductor. Test signals are then applied to the subscriber loop (13) by connecting such signals between the two paths to the subscriber ring conductor and the two paths to the subscriber tip conductor.
(FR)Agencement permettant d'effectuer un test d'une boucle d'abonné par l'intermédiaire d'un dispositif de concentration/expansion (17) utilisant des points de croisement de semiconducteur. Les points de croisement (46, 47, 48) du dispositif de concentration/expansion sont relativement non-linéaires lorsqu'ils conduisent des courants inférieurs à un courant prédéterminé et sont relativement linéaires lorsqu'ils conduisent des courants supérieurs au courant prédéterminé. Lorsque des tests doivent être appliqués sur une boucle donnée (13) d'un abonné qui comprend un conducteur de pointe et un conducteur annulaire, deux circuits ou voies sont complétés par l'intermédiaire du dispositif de concentration/expansion (17) sur le conducteur de pointe et deux voies sont complétées par l'intermédiaire du dispositif de concentration/expansion sur le conducteur annulaire. Une source de linéarisation (26) transmet ensuite un courant dépassant le courant prédéterminé autour des circuits formés par les deux voies de concentration/expansion vers chaque conducteur de la boucle d'abonné. Des signaux d'essai sont ensuite appliqués vers la boucle d'abonné (13) en connectant ces signaux entre les deux voies vers le conducteur annulaire d'abonné et les deux voies vers le conducteur de pointe d'abonné.
Designated States: JP.
European Patent Office (DE, FR, SE).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)