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1. (WO1981003707) METHOD AND APPARATUS FOR MATERIAL ANALYSIS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1981/003707    International Application No.:    PCT/AU1981/000071
Publication Date: 24.12.1981 International Filing Date: 10.06.1981
IPC:
G01N 23/22 (2006.01), G01N 23/225 (2006.01)
Applicants:
Inventors:
Priority Data:
3998/80 11.06.1980 AU
Title (EN) METHOD AND APPARATUS FOR MATERIAL ANALYSIS
(FR) PROCEDE ET APPAREIL D"ANALYSE DE MATERIAUX
Abstract: front page image
(EN)Method and apparatus for material analysis in which X-rays generated pursuant to incidence of an electron beam on the material are detected by a detector (24) which generates signals representative of X-ray intensity. A first single channel analyser (SCA-1) is connected to receive the signals from the detector (24) and to pass to an associated first counter (CTR-1) a count signal whenever the signal applied to the first single channel analyser is representative of an X-ray energy within a relatively narrow range of such energies. A second single channel analyser (BG-1) is also connected to receive the signals from the detector (24) and to pass to an associated second counter (B-1) a count signal whenever the signal applied to the second analyser (BG-1) is representative of an X-ray energy falling within a much broader range of such energies than the first-mentioned range. The first and second counters (CTR-1 and B-1) accumulate the count signals applied thereto. The count in the second counter (B-1) is compared by a comparator (C-1) with a pre-established count in a third counter (A-1) and when the count in the second counter (B-1) assumes the same value as the count in the third counter (A-1) the counts in the first and second counters (CTR-1 and B-1) are held. The so held count in the first counter (CTR-1) then itself represents a normalized ratio of X-ray energy within the narrow range to the X-ray energy for the energy spectrum represented by the broad range of energies. On the basis of this normalized ratio information as to the makeup of the material can be derived.
(FR)Procede et appareil d"analyse de materiaux ou des rayons X engendres par l"incidence de rayons cathodiques sur le materiau sont detectes par un detecteur (24) qui produit des signaux representant l"intensite des rayons X. Un premier analyseur a simple canal (FCA-1) est connecte pour recevoir les signaux provenant du detecteur (24) et pour envoyer a un premier compteur associe (CTR-1) un signal de comptage a chaque fois que le signal applique sur le premier analyseur a simple canal represente une energie des rayons X se situant dans une plage relativement etroite de telles energies. Un second analyseur a simple canal (BG-1) est aussi connecte pour recevoir les signaux provenant du detecteur (24) et pour faire passer a un second compteur associe (B-1) un signal de comptage a chaque fois que le signal applique au second analyseur (BG-1) represente une energie de rayons X se situant dans une plage beaucoup plus large de telles energies que la plage mentionnee en premier. Le premier et le second compteurs (CTR-1 et B-1) accumulent les signaux de comptage qui leur sont appliques. Le comptage dans le second compteur (B-1) est compare par un comparateur (C-1) a un comptage preetabli dans un troisieme compteur (A-1), et lorsque le comptage du second compteur (B-1) a la meme valeur que le comptage du troisieme compteur (A-1) les comptages dans le premier et dans le second compteurs (CTR-1 et B-1) sont maintenus. Le comptage ainsi conserve du premier compteur (CTR-1) represente alors lui-meme un rapport normalise de l"energie des rayons X dans la plage etroite par rapport a l"energie des rayons X pour le spectre d"energie represente par la grande plage d"energies. De ce rapport normalise on peut en deduire des informations quant a la composition du materiau.
Designated States:
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)