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1. (WO1981001889) AN OPTICAL PATTERN TRACING SYSTEM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1981/001889    International Application No.:    PCT/US1980/001717
Publication Date: 09.07.1981 International Filing Date: 23.12.1980
IPC:
B23Q 35/40 (2006.01)
Applicants:
Inventors:
Priority Data:
108549 31.12.1979 US
Title (EN) AN OPTICAL PATTERN TRACING SYSTEM
(FR) SYSTEME OPTIQUE DE TRACAGE
Abstract: front page image
(EN)An optical scanner for a pattern tracing system for scanning an irregular two-dimensional pattern (13) using an optical beam deflection principle. A scanning head (12) is non-rotatably mounted above the pattern on a frame (23) moveable in two coordinate directions. The image of a photosensitive element (30) mounted in the scanning head is reflected onto the pattern by a pivotally mounted mirror (34) in the scanning head and is deflected at high frequency in two normally orthogonal planes by the interaction of a pair of perpendicularly related electromagnets with a permanent magnet (67). The pair of electromagnets consists of perpendicularly related coils (68, 72) wound about a core member (69). The geometric axis (78) of the mirror nutates around a scan axis to provide a generally circular scan image on the pattern of the photosensitive element. The axis about which the minor nutates, referred to as the scan axis, is shiftable from a fixed reference axis (35) to achieve offsets for the scan image to provide both forward offset and "kerf" offset perpendicular to the forward offset. A control circuit provides out of phase alternating signals for the two coils to cause this nutational motion of the mirror. The onset of the axis of nutation from the reference axis is effected by the application of direct current signals to these coils.
(FR)Un explorateur optique pour un systeme de tracage pour l'exploration d'une configuration irreguliere bidimensionnelle (13) utilisant un principe de deflexion de rayon optique. Une tete d'exploration (12) est montee de maniere non rotative au-dessus de la configuration sur un chassis (23) mobile dans deux directions coordonnees. L'image d'un element photosensible (30) montee sur la tete d'exploration est reflechie sur la configuration par un miroir pivotant (34) dans la tete d'exploration et est deflechie a frequence elevee dans les deux plans orthogonaux par l'interaction d'une paire d'electro-aimants perpendiculaires entre eux avec un aimant permanent (67). La paire d'electro-aimants consiste en des bobines perpendiculaires entre elles (68, 72) enroulees autour d'un noyau (69). L'axe geometrique (78) du miroir effectue une nutation autour d'un axe d'exploration pour obtenir une image d'exploration circulaire sur la configuration de l'element photosensible. L'axe autour duquel le miroir effectue une nutation, appele axe d'exploration, peut etre decale a partir d'un axe de reference fixe (35) pour obtenir des ecarts pour l'image d'exploration et produire a la fois des ecarts en avant et des ecarts "de coupe" perpendiculaires aux ecarts en avant. Un circuit de commande envoie des signaux alternatifs dephases a deux bobines pour provoquer ce mouvement de nutation du miroir. Le decalage de l'axe de nutation par rapport a l'axe de reference est effectue par application de signaux a courant continu sur ces bobines.
Designated States:
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)