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1. (WO1980002599) UNIVERSAL TEST FIXTURE EMPLOYING INTERCHANGEABLE WIRED PERSONALIZERS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1980/002599    International Application No.:    PCT/US1980/000616
Publication Date: 27.11.1980 International Filing Date: 23.05.1980
IPC:
G01R 1/073 (2006.01)
Applicants:
Inventors:
Priority Data:
42116 24.05.1979 US
Title (EN) UNIVERSAL TEST FIXTURE EMPLOYING INTERCHANGEABLE WIRED PERSONALIZERS
(FR) APPAREIL D"ESSAI UNIVERSEL UTILISANT DES PERSONNALISATEURS CABLES INTERCHANGEABLES
Abstract: front page image
(EN)A universe of probes (47) is contained within a platen (14) in a spaced-apart, substantially parallel relationship with one another with their tips (44) pointing in the same direction. Each probe is free to move longitudinally between an advanced or test position and a retracted position. The platen (14) nests into a wired personalizer (12) having probe selector posts (24) upstanding therein in a pattern corresponding to the pattern of test points on a circuit board (18) to be tested. These posts (24) serve to push up or advance the probes (47) needed to test a particular type of circuit board. The posts are conductive and each is individually connected to the test system. The circuit board (18) to be tested rests on a special deformable gasket (54) so that its test points (19) are suspended over and aligned with the advanced test probes (47). When the fixture is evacuated, the circuit board (18) to be tested is drawn downwardly so that the test points (19) on the board make electrical contact with the tips (44) of the advanced probes (47).
(FR)Un ensemble de sondes (47) est contenu dans une plaque (14), espacees et sensiblement paralleles entre elles, leurs pointes (44) etant dirigees dans la meme direction. Chaque sonde est libre de se delacer longitudinalement entre une position avancee ou d"essai et une position retractee. La plaque (14) se niche dans un personnalisateur cable (12) ayant des montants ou fiches selectrices de sondes (24) se tenant droites suivant une configuration correspondant a la configuration des points d"essai sur un panneau de circuit (18) a controler. Ces montants ou fiches (24) servent a pousser ou faire avancer les sondes (47) necessaires pour controler un type particulier de panneaux de circuit. Les fiches sont conductrices et chacune d"elles est connectee au systeme d"essai. La plaque de circuit (18) a controler repose sur un joint special deformable (54) pour que ses points de controle (19) soient suspendus au-dessus et alignes avec les sondes d"essai avancees (47). Lorsque l"on fait le vide dans l"appareil, le panneau de circuit (18) a controler est tire vers le bas de sorte que les points d"essai (19) sur le panneau soient en contact electrique avec les pointes (44) des sondes avancees (47).
Designated States:
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)