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1. (WO2016162496) METHOD FOR MONITORING RADIUS AND SHAPE VARIATIONS OF ATOMIC FORCE MICROSCOPE CANTILEVER TIPS AND DEVICE THEREOF
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Pub. No.:    WO/2016/162496    International Application No.:    PCT/EP2016/057782
Publication Date: 13.10.2016 International Filing Date: 08.04.2016
IPC:
G01Q 40/00 (2010.01), G01Q 60/32 (2010.01)
Applicants: CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTÍFICAS [ES/ES]; C/ Serrano, nº 117 28006 Madrid (ES).
DELFT UNIVERSITY OF TECHNOLOGY [NL/NL]; Stevinweg, 1 2628 CN Delft (NL)
Inventors: FRAXEDAS CALDUCH, Jordi; (ES).
PEREZ-MURANO, Francesc; (ES).
STAUFER, Urs; (NL).
RULL TRINIDAD, Enrique; (NL)
Agent: PONS ARIÑO, Ángel; (ES)
Priority Data:
15163207.2 10.04.2015 EP
Title (EN) METHOD FOR MONITORING RADIUS AND SHAPE VARIATIONS OF ATOMIC FORCE MICROSCOPE CANTILEVER TIPS AND DEVICE THEREOF
(FR) PROCÉDÉ DE SURVEILLANCE DE VARIATIONS DE RAYON ET DE FORME DE POINTES EN PORTE-À-FAUX DE MICROSCOPE À FORCE ATOMIQUE ET DISPOSITIF ASSOCIÉ
Abstract: front page image
(EN)A method for monitoring radius and shape variations of the cantilever tips of atomic force microscopes AFM, the method envisages several embodiments and aspects of the invention aimed to the solve the problem of monitoring and assessing the shape of tips of cantilevers used in AFM. The method hereby described is applicable for the amplitude modulation mode of operation of an atomic force microscopes and based in the relationship between the tip characteristics and the determining the condition of the radius of the tip from the amplitude of at least one nth(s) harmonic wherein higher intensity of the value of the amplitude of the nth(s) harmonic implies higher values of the radius of the tip.
(FR)L'invention concerne un procédé de surveillance des variations de rayon et de forme des pointes en porte-à-faux de microscopes à force atomique (AFM), le procédé prévoyant plusieurs modes de réalisation et aspects de la présente invention destinés à résoudre le problème de surveillance et d'évaluation de la forme de pointes en porte-à-faux utilisées dans des AFM. Le procédé décrit est applicable au mode de fonctionnement en modulation d'amplitude de microscopes à force atomique et se fonde sur la relation entre les caractéristiques de pointe et la détermination de la condition du rayon de la pointe à partir de l'amplitude d'au moins une nième harmonique, une intensité supérieure à la valeur de l'amplitude de la nième harmonique entraînant des valeurs supérieures du rayon de la pointe.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)