(EN) Disclosed is a test probe of an object to be tested having a contact terminal to be tested of a curved surface cylindrical shape. The test probe comprises a first contact member having a contact part which has a pair of contact surfaces arranged in a V-shape so as to be individually in contact with a separated position of the contact terminal to be tested and an extension part which integrally and backwardly extends along the longitudinal direction from the contact part. According to the present invention, the test probe can prevent a test error by effectively contacting with the contact terminal to be tested of the partial curved surface cylindrical shape of the object to be tested such as an ultra-small camera module for a smart phone. COPYRIGHT KIPO 2018
(KO) 곡면 통형상의 피검사접촉단자를 갖는 피검사체의 검사용 프로브가 개시된다. 검사용 프로브는 V형으로 배치되어 상기 피검사접촉단자의 상호 이격된 위치에 각각 접촉하는 한 쌍의 접촉면을 가진 접촉부와, 상기 접촉부로부터 길이방향을 따라 후방으로 일체 연장하는 연장부를 갖는 제1접촉부재를 포함한다. 본 발명의 검사용프로브에 의하면, 스마트폰용 초소형 카메라모듈과 같은 피검사체의 부분 곡면 통형상의 피검사접촉단자에 효과적으로 접촉하여 검사에러를 방지할 수 있다.
