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1. KR1020140025315 - 입자 빔에서 주된 스핀 벡터의 벡터 성분을 측정하기 위한 스핀 검출기 구조

Note: Text based on automatic Optical Character Recognition processes. Please use the PDF version for legal matters

[ KO ]
청구의 범위
청구항 1
입자들의 주된 스핀 방향을 가지는 입자 빔(T)에서 주된 스핀 벡터의 벡터 성분을 검출하기 위한 스핀 검출기 구조로서,- 스위칭가능한 코일(5)을 구비하는 스핀 회전자(1)로서, 상기 스위칭 가능한 코일(5)은 축 방향을 가지고 있고, 상기 입자 빔(T)이 상기 축 방향을 따라 상기 스위칭 가능한 코일(5)을 통과하도록 정렬된, 스핀 회전자(1);- 상기 스핀 회전자(1)의 하류에 연결되고, 편향 각도만큼 정전기적으로 상기 입자 빔(T)의 경로를 편향시키는 편향 디바이스(7);- 상기 편향 디바이스(7)의 하류에 연결되고, 상기 입자 빔(T)의 운동 방향에 대해 상기 입자 빔(T)에서 주된 스핀 벡터의 수직 벡터 성분을 검출하는 스핀 검출기(9); 및- 상기 스위칭 가능한 코일(5)에 연결되고, 상기 코일(5)의 여기 상태를 스위칭하는 스위칭 유닛(15)을 포함하며, 상기 검출기(9)는 상기 스핀 회전자(1)의 상기 코일(5)을 하나의 측정에서 제 1 여기 상태로 그리고 다른 측정에서 제 2 여기 상태로 상기 스위칭 유닛(15)에 의하여 스위칭하는 것을 통해 상기 주된 스핀 벡터의 2개의 각 벡터 성분을 연속적으로 측정하는 것을 특징으로 하는 스핀 검출기 구조.
청구항 2
제 1 항에 있어서, 상기 스핀 회전자(1)는 상기 스위칭 가능한 코일(5)에 의해 둘러싸인 정전 렌즈(3)를 포함하는 것을 특징으로 하는 스핀 검출기 구조.
청구항 3
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 스핀 회전자(1)의 하류에 연결된 상기 편향 디바이스(7)는 정전 편향을 일으키는 편향 디바이스인 것을 특징으로 하는 스핀 검출기 구조.
청구항 4
제 3 항에 있어서, 상기 스핀 회전자(1)의 하류에 연결된 상기 편향 디바이스(7)는 상기 입자 빔(T)의 경로를 정전기적으로 90도만큼 편향시키는 편향 디바이스인 것을 특징으로 하는 스핀 검출기 구조.
청구항 5
제 2 항에 있어서서, 상기 스위칭 가능한 코일(5)을 흐르는 전류의 세기 또는 전류의 부호는 상기 스위칭 유닛(15)에 의하여 조절될 수 있는 것을 특징으로 하는 스핀 검출기 구조.
청구항 6
제 3 항에 있어서, 상기 스핀 회전자(1)의 상기 스위칭 가능한 코일(5)을 요크(17)가 둘러싸는 것을 특징으로 하는 스핀 검출기 구조.
청구항 7
제 1 항에 있어서, 상기 검출기(9)는 서로 수직한 2개의 벡터 성분을 동시에 검출하는 검출기인 것을 특징으로 하는 스핀 검출기 구조.
청구항 8
제 7 항에 있어서, 상기 검출기(9)는 모트 검출기(Mott detector)인 것을 특징으로 하는 스핀 검출기 구조.
청구항 9
제 1 항에 따른 스핀 검출기 구조를 사용하여 입자 빔(T)에서 주된 스핀 벡터의 모든 벡터 성분을 검출하는 방법에 있어서,상기 검출기(9)는 상기 스핀 회전자(1)의 상기 코일(5)을 하나의 측정에서 제 1 여기 상태로 그리고 다른 측정에서 제 2 여기 상태로 상기 스위칭 유닛(15)에 의하여 스위칭하는 것을 통해 상기 주된 스핀 벡터의 2개의 각 벡터 성분을 연속적으로 측정하는 것을 특징으로 하는 입자 빔(T)에서 주된 스핀 벡터의 모든 벡터 성분을 검출하는 방법.
청구항 10
제 9 항에 있어서, 상기 코일의 상기 제 1 및 제 2 여기 상태는 상기 코일을 흐르는 전류의 세기 또는 전류의 부호가 상이한 것을 특징으로 하는 입자 빔(T)에서 주된 스핀 벡터의 모든 벡터 성분을 검출하는 방법.
청구항 11
제 10 항에 있어서,

상기 제 1 여기 상태에서 상기 코일(5)을 통해 특정 전류의 세기를 가지는 전류가 흐르고, 상기 제 2 여기 상태에서는 상기 코일을 통해 상기 제 1 여기 상태에서와 동일한 전류의 세기를 가지지만 상기 제 1 여기 상태와는 반대 부호를 가지는 전류가 흐르는 것을 특징으로 하는 입자 빔(T)에서 주된 스핀 벡터의 모든 벡터 성분을 검출하는 방법.
청구항 12
제 10 항에 있어서,

상기 제 1 여기 상태에서 0보다 큰 특정 전류 세기를 가지는 전류가 상기 코일(5)을 통해 흐르고, 상기 제 2 여기 상태에서는 상기 코일을 통해 전류가 흐르지 않는 것을 특징으로 하는 입자 빔(T)에서 주된 스핀 벡터의 모든 벡터 성분을 검출하는 방법.