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1. KR1020140025315 - 입자 빔에서 주된 스핀 벡터의 벡터 성분을 측정하기 위한 스핀 검출기 구조

Office Republic of Korea
Application Number 1020137014435
Application Date 16.11.2011
Publication Number 1020140025315
Publication Date 04.03.2014
Grant Number 1018201900000
Grant Date 18.01.2018
Publication Kind B1
IPC
G01R 33/12
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
33Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
12Measuring magnetic properties of articles or specimens of solids or fluids
CPC
G01R 33/32
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
33Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
20involving magnetic resonance
28Details of apparatus provided for in groups G01R33/44 - G01R33/64
32Excitation or detection systems, e.g. using radio frequency signals
G01R 33/1284
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
33Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
12Measuring magnetic properties of articles or specimens of solids or fluids
1284Spin resolved measurements; Influencing spins during measurements, e.g. in spintronics devices
Applicants 스펙스 서피스 나노 아날리시스 게엠베하
스펙스 서피스 나노 아날리시스 게엠베하
Inventors 샤프 올리버
샤프 올리버
Agents 이재민
이재민
Priority Data 10 2010 052 088.8 17.11.2010 DE
Title
(KO) 입자 빔에서 주된 스핀 벡터의 벡터 성분을 측정하기 위한 스핀 검출기 구조
Abstract
(KO)
본 발명은 입자의 주된 스핀 방향을 가지는 입자 빔(T)에서 주된 스핀 벡터의 벡터 성분을 검출하기 위한 스핀 검출기 에 관한 것이다. 스핀 검출기 구조는, 스위칭가능한 코일(5)을 구비하는 스핀 회전자(1)로서, 상기 스위칭 가능한 코일(5)은 축 방향을 가지고 있고, 상기 입자 빔(T)이 상기 축 방향을 따라 상기 스위칭 가능한 코일(5)을 통과하도록 정렬된, 스핀 회전자(1); 상기 스핀 회전자(1)의 하류에 연결되고, 편향 각도만큼 정전기적으로 상기 입자 빔(T)의 경로를 편향시키는 편향 디바이스(7); 상기 편향 디바이스(7)의 하류에 연결되고, 상기 입자 빔(T)의 운동 방향에 수직한, 상기 입자 빔(T)에서 주된 스핀 벡터의 벡터 성분을 검출하는 스핀 검출기(9); 및 상기 스위칭 가능한 코일(5)에 연결되고, 상기 코일(5)의 여기 상태를 스위칭하는 스위칭 유닛(15)을 포함한다. 구조