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本発明の1つの態様は: − 光ビームを分離器光学部品によって第1のサブビームと第2のサブビームとに分離するステップと、 − 第1の光学部品を介して第1のサブビームを、および第2の光学部品を介して第2のサブビームを伝搬させるステップであり、前記第1および第2の光学部品が、それぞれ、「参照ビーム」と呼ばれる第1の光学部品を出た後の第1のサブビームおよび「被特性評価ビーム」と呼ばれる第2の光学部品を出た後の第2のサブビームが時間遅延τだけ分離されるように配列される、伝搬させるステップと、 − ビームが、空間的に干渉し、第1の面に沿って延びる2次元干渉パターンを形成するように、再結合器光学部品によって参照ビームと被特性評価ビームとを再結合させるステップと、 − 2次元干渉パターンの少なくとも1つの部分の周波数スペクトルを測定システムによって測定するステップと、 − 周波数スペクトルの少なくとも1つの空間点の時間ドメインのフーリエ変換を計算するステップであり、時間ドメインの前記フーリエ変換が、時間中心ピークと第1および第2の時間サイドピークとを有する、計算するステップと、 − 前記第1および第2の時間サイドピークのうちの1つに対する周波数ドメインのフーリエ変換を計算するステップと、 − 周波数ドメインの前記フーリエ変換に対するスペクトル振幅AR(ω)と空間スペクトル位相φR(x,y,ω)とを計算するステップとを含む光ビームの特性評価のための方法に関する。