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1. JP2014503797 - 粒子線中において優勢なスピンベクトルのベクトル成分を測定するためのスピン検出器構成およびその使用方法

Office Japan
Application Number 2013539239
Application Date 16.11.2011
Publication Number 2014503797
Publication Date 13.02.2014
Grant Number 5998149
Grant Date 02.09.2016
Publication Kind B2
IPC
G01T 1/32
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
1Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
32Measuring polarisation of particles
G01T 1/29
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
1Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
29Measurement performed on radiation beams, e.g. position or section of the beam; Measurement of spatial distribution of radiation
G21K 1/00
GPHYSICS
21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
1Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
G21K 1/087
GPHYSICS
21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
1Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
08Deviation, concentration, or focusing of the beam by electric or magnetic means
087by electrical means
CPC
G01R 33/1284
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
33Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
12Measuring magnetic properties of articles or specimens of solids or fluids
1284Spin resolved measurements; Influencing spins during measurements, e.g. in spintronics devices
G01R 33/32
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
33Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
20involving magnetic resonance
28Details of apparatus provided for in groups G01R33/44 - G01R33/64
32Excitation or detection systems, e.g. using radio frequency signals
Applicants スペックス サーフェス ナノ アナリシス ゲーエムベーハー
Inventors シャフ, オリバー
Agents 園田 吉隆
小林 義教
Priority Data 102010052088.8 17.11.2010 DE
Title
(JA) 粒子線中において優勢なスピンベクトルのベクトル成分を測定するためのスピン検出器構成およびその使用方法
Abstract
(JA)

本発明は、粒子の優勢なスピン配向を有する粒子線(T)中において優勢なスピンベクトルのベクトル成分を検出するためのスピン検出器構成に関する。スピン検出器構成は、切替え可能なコイル(5)を有するスピン回転子(1)であって、切替え可能なコイル(5)が、軸方向を有しており、軸方向に沿って切替え可能なコイル(5)を粒子線(T)が通過するように位置合わせされている、スピン回転子(1)と、スピン回転子(1)の下流に接続されて、粒子線(T)の経路を偏向角だけ静電的に偏向させる偏向デバイス(7)と、偏向デバイス(7)の下流に接続されて、粒子線(T)の動きの方向に対して垂直な、前記粒子線(T)中において優勢なスピンベクトルのベクトル成分の検出を可能にするスピン検出器(9)と、切替え可能なコイル(5)に接続されて、コイル(5)の励起状態の切替えを可能にする切替えユニット(15)とを備える。
【選択図】図1