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1. (JP2009501340) 集積回路テストソケット

Office : Japan
Application Number: 2008521484 Application Date: 07.07.2006
Publication Number: 2009501340 Publication Date: 15.01.2009
Grant Number: 4757917 Grant Date: 24.08.2011
Publication Kind : B2
Prior PCT appl.: Application Number:WOUS2006026668 ; Publication Number:WO2007008754 Click to see the data
IPC:
G01R 31/26
H01R 33/76
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
R
MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31
Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
26
Testing of individual semiconductor devices
H ELECTRICITY
01
BASIC ELECTRIC ELEMENTS
R
ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
33
Coupling devices specially adapted for supporting apparatus and having one part acting as a holder providing support and electrical connection via a counterpart which is structurally associated with the apparatus, e.g. lamp holders; Separate parts thereof
74
Devices having four or more poles
76
Holders with sockets, clips or analogous contacts, adapted for axially-sliding engagement with parallely-arranged pins, blades, or analogous contacts on counterpart, e.g. electronic tube socket
Applicants: スパンション エルエルシー; アメリカ合衆国 カリフォルニア州 94088-3453 サニーベイル デグウィン ドライブ 915
Inventors: ミングビリヤ,ソンブーン
Priority Data: 11180943 12.07.2005 US
US2006026668 07.07.2006 WO
Title: (JA) 集積回路テストソケット
Abstract:
(JA)

集積回路、特にBGAパッケージ中の集積回路をテストするのに用いられるテストソケットを提供する。テストソケットは、ベース部材と、ベース部材に対して上方位置および下方位置の間で上下動するように構成された被覆部材とを備える。ベース部材と被覆部材との間にはばねが配置され、被覆部材を上方位置に付勢するように構成される。ベース部材および被覆部材にレバーが連結され、被覆部材が下方位置にあるときには開位置に旋回し、被覆部材が上方位置にあるときには閉位置に旋回して、集積回路をベース部材内に閉じ込めるように構成される。


Also published as:
KR1020080024227EP1907868US7108535CN101233415WO/2007/008754