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1. (EP3396428) MICROSCOPE SYSTEM

Office : European Patent Office
Application Number: 16878543 Application Date: 15.12.2016
Publication Number: 3396428 Publication Date: 31.10.2018
Publication Kind : A4
Designated States: AL, AT, BA, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LI, LT, LU, LV, MC, ME, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR
Prior PCT appl.: Application Number:JP2016087422 ; Publication Number: Click to see the data
IPC:
G02B 21/00
G02B 21/36
G PHYSICS
02
OPTICS
B
OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21
Microscopes
G PHYSICS
02
OPTICS
B
OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21
Microscopes
36
arranged for photographic purposes or projection purposes
CPC:
G02B 21/125
G02B 21/367
G02B 21/00
G02B 21/36
G02B 21/241
G02B 21/26
Applicants: OLYMPUS CORP
Inventors: WATANABE HIROSHI
Priority Data: 2015249899 22.12.2015 JP
2016087422 15.12.2016 JP
Title: (DE) MIKROSKOPSYSTEM
(EN) MICROSCOPE SYSTEM
(FR) SYSTÈME DE MICROSCOPE
Abstract: front page image
(EN) A microscope system for acquiring a combined image in which the contrast of a specimen is reflected is proposed. A microscope system 100 includes a stage 3 on which a specimen 2 is mounted; a coaxial incident light source unit 5 and a DF ring light source 6; an illumination optical system that irradiates the specimen 2 with light emitted from a light source; an operating unit 30 that receives setting of an amount of light or the like of the light source; a focusing handle 16 that can move the specimen 2 in the Z-axis direction and that adjusts the distance between the stage 3 and the objective lens 4; an imaging device 8 that images an observation image of the specimen 2 and configured to generate image data of the specimen 2; and an EFI generating unit 25 configured to generate extended focus image by calculating a contrast value for each pixel of a plurality of pieces of the image data generated by the imaging device 8 and extracting and combining pixels indicating higher contrast values, and, when the EFI generating unit 25 generates the extended focus image, the microscope system 100 enables selection of the type or the like of the light source.
(FR) L'invention concerne un système de microscope permettant d'obtenir une image composite dans laquelle le contraste d'un échantillon est réfléchi. L'invention concerne un système de microscope (100) caractérisé en ce qu'il comprend : un étage (3) sur lequel est placé un échantillon (2); une unité de source de lumière d'épi-illumination coaxiale (5) et une source de lumière annulaire DF (6); un système optique d'éclairage pour irradier de la lumière émise par les sources de lumière sur l'échantillon (2); une unité opérationnelle (30) pour recevoir des réglages tels que l'énergie lumineuse de la source de lumière, une molette de focalisation (16) capable de déplacer l'échantillon (2) dans la direction de l'axe Z et de régler la distance entre l'étage (3) et une lentille d'objectif (4); un dispositif de capture d'image (8) pour capter une image d'observation de l'échantillon (2) afin de générer des données d'image de l'échantillon (2) ; et une unité de génération EFI (25) pour calculer une pluralité de valeurs de contraste de chaque pixel des données d'image générées par le dispositif de capture d'image (8), et extraire et combiner les pixels indiquant une valeur de contraste plus élevée afin de générer une image omnifocale, le type ou analogue de la source de lumière étant sélectionnable quand l'unité de génération EFI (25) génère l'image omnifocale.
Also published as:
WO/2017/110653