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1. EP2130087 - METHOD AND DEVICE FOR MICROSCOPICALLY EXAMINING A SAMPLE, COMPUTER PROGRAM, AND COMPUTER PROGRAM PRODUCT

Office
European Patent Office
Application Number 08758591
Application Date 16.05.2008
Publication Number 2130087
Publication Date 09.12.2009
Publication Kind B1
IPC
G02B 21/36
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
36arranged for photographic purposes or projection purposes
CPC
G02B 21/367
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
36arranged for photographic purposes or projection purposes
365Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
367providing an output produced by processing a plurality of individual source images, e.g. image tiling, montage, composite images, depth sectioning, image comparison
Applicants ZEISS CARL MICROSCOPY GMBH
Inventors VIERECK FRIEDRICH W
KRUG CHRISTOF
Designated States
Title
(DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM MIKROSKOPISCHEN UNTERSUCHEN EINER PROBE, COMPUTERPROGRAMM UND COMPUTERPROGRAMMPRODUKT
(EN) METHOD AND DEVICE FOR MICROSCOPICALLY EXAMINING A SAMPLE, COMPUTER PROGRAM, AND COMPUTER PROGRAM PRODUCT
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF D'ANALYSE MICROSCOPIQUE D'UN ÉCHANTILLON, PROGRAMME INFORMATIQUE ET UN PRODUIT PROGRAMME INFORMATIQUE
Abstract
(DE)
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum mikroskopischen Untersuchen einer Probe, bei dem in einem Übersichtsmodus mit einem Mikroskop zunächst ein aus einer Vielzahl von Einzelbildern zusammengesetztes Übersichtsbild der Probe aufgenommen wird und bei dem anschließend ein Übergang in einen Detailmodus erfolgt, in welchem mit dem Mikroskop Detailbilder von interessierenden Bereichen der Probe aufgenommen werden. Das Verfahren ist dadurch gekennzeichnet, dass die Aufnahme des Übersichtsbilds im Übersichtsmodus mit einer im Vergleich zur Aufnahme der Detailbilder geringeren Auflösung der jeweils verwendeten Kamera erfolgt und dass das Übersichtbild und die Detailbilder mit demselben Mikroskopobjektiv aufgenommen werden. Die Erfindung betrifft außerdem eine Vorrichtung zum mikroskopischen Untersuchen einer Probe, ein Computerprogramm und ein Computerprogrammprodukt.

(EN)
The invention relates to a method for microscopically examining a sample, wherein, in an overview mode, first an overview image of the sample composed of a large number of individual images is recorded through a microscope (20) followed by a transition to a detail mode, in which detail images of regions of interest of the sample are recorded through said microscope. The method is characterized in that the recording of the overview image in the overview mode is carried out at a lower resolution of the respectively used camera than that employed for the recording of the detail images and that the overview image and the detail images are recorded using the same microscope objective. Furthermore, the invention relates to a device for microscopically examining a sample, a computer program and a computer program product.

(FR)
L'invention concerne un procédé destiné à l'analyse microscopique d'un échantillon, une image globale de l'échantillon composée d'une pluralité d'images étant tout d'abord enregistrée en mode global à l'aide d'un microscope. Ensuite, il y a une transition vers un mode détaillé dans lequel des images détaillées de zones intéressantes de l'échantillon sont enregistrées à l'aide du microscope. Le procédé est caractérisé en ce que l'enregistrement de l'image globale en mode global est effectué avec une résolution de la caméra utilisée inférieure à la résolution de l'enregistrement d'images détaillées et en ce que l'image globale et les images détaillées sont enregistrées à l'aide du même objectif du microscope. L'invention concerne également un dispositif destiné à l'analyse microscopique d'un échantillon, un programme informatique et un produit de programme informatique.