Please wait...
Please let us know your thoughts on PATENTSCOPE or tell us what you feel is missing or how we could improve it.
Verfahren zur Kalibration einer Messeinrichtung für mehrere Produkte, das folgende Schritte aufweist: - Messen einer Menge von Messwerten (Xp={xpi,j}) mit einer oder mehreren Messgrößen (j), für mehrere Produkte (p) und mit mehreren Messungen (i), - Bereitstellen einer Menge von Referenzgrößen (Yp={ypi i-te Referenzgröße}) mit mindestens einer durch die Messgrößen (xPi,j) zu bestimmenden Referenzgröße (Y), wobei - Zusammenfassen der Messwerte (Xp) für alle Produkte zu einer erweiterten Matrix der Messwerte (X'), - Bestimmen eines ersten Satzes von Kalibrierungsparametern (C'), der für ein oder mehrere Produkte (p) ein oder mehrere Gewichte ( c j p ) besitzt, wobei das eine oder die mehreren Produkte (p) innerhalb einer Produktfamilie zusammengefasst werden, die mindestens für ihre Produkte ein gleiches Gewicht (cj) aufweist, das vom Produkt unabhängig ist, - Bestimmen mindestens eines weiteren Satzes von Kalibrierungsparametern (C'') für eine Teilmatrix der erweiterten Matrix der Messwerte (X') zur Kalibrierung der Messeinrichtung, wobei ◯ innerhalb der ersten Produktfamilie ein oder mehrere Sätze mit weiteren Gewichten bestimmt und mehrere Produkte (p) mit gleichen Gewichten ( c j p ) zu einer weiteren Produktfamilie zusammengefasst werden und ◯ außerhalb der ersten Produktfamilie weitere Sätze mit weiteren Gewichten bestimmt und mehrere Produkte (p') mit gleichen Gewichten ( c j p ' ) zu einer weiteren Produktfamilie zusammengefasst werden, ◯ solange bis alle Gewichte für die Kalibrierung der Messeinrichtung bestimmt sind.