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1. DE102017101567 - VERFAHREN ZUM SIMULIEREN EINES AUFTREFFENS VON PARTIKELN ODER STRAHLUNG AUF EINEM OBJEKT, COMPUTERPROGRAMM DAFÜR, COMPUTERSYSTEM ZUR AUSFÜHRUNG DES COMPUTERPROGRAMMS, UND VERWENDUNG EINES COMPUTERS

Office
Germany
Application Number 102017101567
Application Date 26.01.2017
Publication Number 102017101567
Publication Date 26.07.2018
Publication Kind A1
IPC
G06F 17/50
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
17Digital computing or data processing equipment or methods, specially adapted for specific functions
50Computer-aided design
CPC
G06F 30/20
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
30Computer-aided design [CAD]
20Design optimisation, verification or simulation
G06F 2111/10
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
2111Details relating to CAD techniques
10Numerical modelling
G06T 2210/56
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
2210Indexing scheme for image generation or computer graphics
56Particle system, point based geometry or rendering
G06F 30/15
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
30Computer-aided design [CAD]
10Geometric CAD
15Vehicle, aircraft or watercraft design
G06F 30/23
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
30Computer-aided design [CAD]
20Design optimisation, verification or simulation
23using finite element methods [FEM] or finite difference methods [FDM]
Applicants Bundesrepublik Deutschland, vertreten durch den Bundesminister für Wirtschaft und Energie, dieser vertreten durch den Präsidenten der Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
Inventors Spaltmann Dirk
Woydt Mathias
Agents Zimmermann & Partner Patentanwälte mbB
Title
(DE) VERFAHREN ZUM SIMULIEREN EINES AUFTREFFENS VON PARTIKELN ODER STRAHLUNG AUF EINEM OBJEKT, COMPUTERPROGRAMM DAFÜR, COMPUTERSYSTEM ZUR AUSFÜHRUNG DES COMPUTERPROGRAMMS, UND VERWENDUNG EINES COMPUTERS
Abstract
(DE)

Es wird ein Verfahren zum Simulieren eines Auftreffens von Partikeln/Strahlung auf einem Objekt angegeben: (a) Es wird ein Kontrollspeicher aufweisend Kontrollspeicherplätze und ein Massespeicher aufweisend Massespeicherplätze bereitgestellt. (b) Aufbau eines simulierten Partikels/Strahlungseinheit, wobei dieses Partikel oder die Strahlungseinheit zum Auftreffen auf dem Objekt designiert ist. (c) Nun wird mindestens eine Eigenschaft/energetischer Zustand eines bestimmten, individuellen Partikels/Strahlungseinheit definiert. (d) Durchführen eines simulierten Auftreffens des bestimmten Individual-Partikel/Strahlungseinheit mit dem Objekt, wobei eine Verteilungsfunktion eines Auftrefforts und/oder einer Geschwindigkeit des bestimmten Individual-Partikels/Strahlungseinheit verwendet werden. (e) Bestimmen oder Abfragen mindestens einer lokalen Eigenschaft und/oder eines lokalen energetischen Zustands mindestens eines betroffenen Objektelements. (f) Bestimmen oder Abfragen eines durch das Auftreffen verursachten, auf das Individual-Partikel/Strahlungseinheit und/oder das betroffene Objekt- bzw. Raumelement wirkenden Kollisionsereignisses. (g) Bestimmen einer Konsequenz des Kollisionsereignisses mindestens auf das betroffene Raumelement bzw. Objektelement. (h) Abspeichern eines neu bestimmten oder eines unveränderten Kontrolldatenwerts im entsprechenden Kontrollspeicherplatz und eines neu bestimmten oder unveränderten Massedatenwerts im entsprechenden Massespeicherplatz.


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