光学测量装置、光学测量系统以及校正用组件

技术领域

本发明涉及一种对生物体组织照射照明光，根据从生物体 组织反射或者散射出的检测光的测量值来估计生物体组织的性 质和状态的光学测量系统和校正用组件。

背景技术

以往，已知如下一种光学测量系统：对生物体组织照射照 明光，根据从生物体组织反射或者散射出的检测光的测量值来 估计生物体组织的性质和状态。这种光学测量系统与观察消化 器官等脏器的内窥镜相配合地进行使用。

另外，为了保证分析结果的分析精度，上述光学测量系统 需要在开始测量生物体组织之前进行调整白平衡的校正处理。 因此，已知如下一种系统：在开始测量之前，对反射光的光学 构件照射照明光，用光检测器接收所反射的光并计算出测量值， 根据计算出的该测量值和预先设定的基准值来进行校正处理 (例如参照日本特开2006-94992号公报)。

专利文献1：日本特开2006-94992号公报

发明内容

发明要解决的问题

然而，在现有的光学测量系统中，依靠使用者进行校正处 理，因此存在不进行校正处理便开始测量生物体组织的情况。

本发明是鉴于上述问题而完成的，其目的在于提供一种能 够可靠地防止不进行校正处理便开始测量生物体组织的情况的 光学测量系统和校正组件。

用于解决问题的方案

为了解决上述问题而达成目的，本发明所涉及的光学测量 装置具备根据从外部施加的操作力启动电源的开关部，连接至 被导入被检体内的测量探头的基端部，输出从上述测量探头的 前端照射的照明光，另外接收经由上述测量探头入射的上述照 明光的反射光和/或散射光，由此进行光学测量，该光学测量装 置的特征在于，具备：校正用构件，其在利用上述照明光对该 光学测量装置和上述测量探头进行校正处理时成为上述照明光 的照射对象；壳体构件，其形成有插入部、容纳部以及开口部， 其中，该插入部能够使上述测量探头的前端插入，该容纳部与 上述插入部相连通且能够使上述校正用构件沿着上述插入部的 贯通方向移动，该开口部与上述容纳部相连通且保持上述开关 部中的至少被施加操作力的部分，并且该壳体构件针对上述开 关部进行配置，使得当通过从上述插入部插入上述测量探头使 上述校正用构件到达上述容纳部内的规定位置时对上述开关部 施加操作力；以及控制部，在上述电源启动时，该控制部进行 开始上述校正处理的控制。

另外，本发明所涉及的光学测量装置的特征在于，在上述 发明中，上述壳体构件被固定于该光学测量装置的主体。

另外，本发明所涉及的光学测量装置的特征在于，在上述 发明中，上述壳体构件中，上述插入部与上述校正用构件之间 的位置关系能够相对地变更。

另外，本发明所涉及的光学测量装置的特征在于，在上述 发明中，上述壳体构件具有保持上述测量探头的保持部，在上 述校正处理结束的情况下，上述控制部解除上述保持部对上述 测量探头的保持。

另外，本发明所涉及的光学测量装置的特征在于，在上述 发明中，上述壳体构件自由装卸于该光学测量装置的主体。

另外，本发明所涉及的光学测量装置的特征在于，在上述 发明中，上述壳体构件中，上述插入部与上述校正用构件之间 的位置关系能够相对地变更。

另外，本发明所涉及的光学测量装置的特征在于，在上述 发明中，上述壳体构件具有保持上述测量探头的保持部，在上 述校正处理结束的情况下，上述控制部解除上述保持部对上述 测量探头的保持。

另外，本发明所涉及的光学测量系统的特征在于，具备上 述光学测量装置和自由装卸于上述光学测量装置的上述测量探 头。

另外，本发明所涉及的光学测量装置具备根据从外部施加 的操作力检测被导入被检体内的测量探头的插入的检测部，连 接至上述测量探头的基端部，输出从上述测量探头的前端照射 的照明光，另外接收经由上述测量探头入射的上述照明光的反 射光和/或散射光，由此进行光学测量，该光学测量装置的特征 在于，具备：校正用构件，其在利用上述照明光对该光学测量 装置和上述测量探头进行校正处理时成为上述照明光的照射对 象；壳体构件，其形成有插入部、容纳部以及开口部，其中， 该插入部能够使上述测量探头的前端插入，该容纳部与上述插 入部相连通且能够使上述校正用构件沿着上述插入部的贯通方 向移动，该开口部与上述容纳部相连通且保持上述检测部中的 至少被施加操作力的部分，并且该壳体构件针对上述检测部进 行配置，使得当通过从上述插入部插入上述测量探头使上述校 正用构件到达上述容纳部内的规定位置时对上述检测部施加操 作力；以及控制部，在上述检测部检测到上述测量探头的插入 的情况下，进行开始上述校正处理的控制，并且进行将上述光 学测量装置的状态切换为能够进行上述光学测量的状态的控 制。

另外，本发明所涉及的光学测量装置的特征在于，在上述 发明中，上述壳体构件被固定于该光学测量装置的主体。

另外，本发明所涉及的光学测量装置的特征在于，在上述 发明中，上述壳体构件中，上述插入部与上述校正用构件之间 的位置关系能够相对地变更。

另外，本发明所涉及的光学测量装置的特征在于，在上述 发明中，上述壳体构件具有保持上述测量探头的保持部，在上 述校正处理结束的情况下，上述控制部解除上述保持部对上述 测量探头的保持。

另外，本发明所涉及的光学测量装置的特征在于，在上述 发明中，上述壳体构件自由装卸于该光学测量装置的主体。

另外，本发明所涉及的光学测量装置的特征在于，在上述 发明中，上述壳体构件中，上述插入部与上述校正用构件之间 的位置关系能够相对地变更。

另外，本发明所涉及的光学测量装置的特征在于，在上述 发明中，上述壳体构件具有保持上述测量探头的保持部，在上 述校正处理结束的情况下，上述控制部解除上述保持部对上述 测量探头的保持。

另外，本发明所涉及的光学测量系统的特征在于，具备上 述光学测量装置和自由装卸于上述光学测量装置的上述测量探 头。

另外，本发明所涉及的校正用组件能够安装于光学测量装 置，该光学测量装置具备根据从外部施加的操作力启动电源的 开关部，该光学测量装置连接至被导入被检体内的测量探头的 基端部，输出从上述测量探头的前端照射的照明光，另外接收 经由上述测量探头入射的上述照明光的反射光和/或散射光，由 此进行光学测量，该校正用组件在利用上述照明光对该光学测 量装置和上述测量探头进行校正处理时使用，该校正用组件的 特征在于，具备：校正用构件，其在进行上述校正处理时成为 上述照明光的照射对象；以及壳体构件，其形成有插入部、容 纳部以及开口部，其中，该插入部能够使上述测量探头的前端 插入，该容纳部与上述插入部相连通且能够使上述校正用构件 沿着上述插入部的贯通方向移动，该开口部与上述容纳部相连 通，在被安装于上述光学测量装置时能够以能与上述校正用构 件相接触的状态保持上述开关部中的至少被施加操作力的部 分。

另外，本发明所涉及的校正用组件的特征在于，在上述发 明中，上述壳体构件中，上述插入部与上述校正用构件之间的 位置关系能够相对地变更。

发明的效果

根据本发明，能够通过将测量探头插入校正部来测量生物 体组织，并且随着该插入来执行校正处理，因此能够在进行生 物体组织的测量之前可靠地执行光学测量系统的校正处理。由 此，能够起到可靠地防止使用者忘记进行校正处理的效果。

附图说明

图1是表示本发明的实施方式1所涉及的光学测量系统的概 要结构的示意图。

图2是示意性地表示本发明的实施方式1所涉及的开关部和 校正用组件的截面的截面图。

图3是说明本发明的实施方式1所涉及的开关部和校正用组 件的动作的图。

图4是表示本发明的实施方式2所涉及的光学测量系统的概 要结构的示意图。

图5是表示本发明的实施方式2所涉及的光学测量系统所进 行的处理的概要的流程图。

图6是示意性地表示本发明的实施方式3所涉及的光学测量 装置、开关部以及校正用组件的截面的截面图。

图7是说明本发明的实施方式3所涉及的校正用组件的使用 情况的图。

图8是示意性地表示本发明的实施方式4所涉及的校正用组 件的截面的截面图。

图9是从图8的箭头A方向进行观察而得到的主视图。

图10是示意性地表示本发明的实施方式5所涉及的校正用 组件的截面的截面图。

具体实施方式

下面，参照附图对用于实施本发明所涉及的光学测量系统、 光学测量装置以及校正用组件的方式(以下称为“实施方式”)进 行说明。此外，本发明并不限定于以下说明的实施方式。另外， 在附图的记载中，对相同的部分附加相同的附图标记。并且， 需要注意的是，附图是示意性的，各构件的厚度与宽度的关系、 各构件的比例等与现实存在差异。附图相互间还包括彼此的尺 寸的关系、比例不同的部分。

(实施方式1)

图1是表示本发明的实施方式1所涉及的光学测量系统的概 要结构的示意图。如图1所示，光学测量系统1具备：光学测量 装置2，其对生物体组织照射照明光，接收由生物体组织反射或 者散射出的照明光的反射光和/或散射光(以下称为“检测光”)， 由此进行光学测量；测量探头3，其被导入被检体内；以及校正 用组件4，其用于光学测量系统1的校正处理。

光学测量装置2具有：电源21，其对构成光学测量装置2的 各部提供电力；光源部22，其对生物体组织等对象物(以下称为 “测量对象物”)射出照明光；连接部23，其连接测量探头3；分 光部24，其从测量探头3接收入射的检测光并测量检测光；开关 部25，其启动电源21；输出部26，其输出各种信息；以及控制 部27，其对光学测量装置2的动作进行控制。

使用白色LED(Light Emitting Diode：发光二极管)氙气灯 或者激光等非相干光源并且根据需要使用一个或者多个透镜来 实现光源部22。光源部22经由连接部23和测量探头3对测量对象 物射出照明光。

连接部23连接测量探头3。连接部23向测量探头3射出从光 源部22射出的照明光，并且向分光部24射出经由测量探头3入射 的检测光。连接部23将与是否连接测量探头3有关的信息输出到 控制部27。该信息例如是检测到测量探头3的检测信号。

使用分光器来实现分光部24。分光部24接收经由连接部23 和测量探头3入射的检测光，对接收到的检测光的光谱成分等进 行测量。分光部24将测量检测光而得到的测量结果输出到控制 部27。

使用按压式开关等来实现开关部25。开关部25根据从外部 施加的操作力启动电源21。

使用显示器、扬声器以及电动机等来实现输出部26。输出 部26输出测量对象物的测量结果或者与光学测量装置2有关的 各种信息。具体地说，输出部26通过声音、图像或者振动等来 输出与光学测量装置2有关的各种信息。

利用CPU(Central Processing Unit：中央处理单元)和RAM (Random Access Memory：随机存取存储器)等半导体存储器来 实现控制部27。控制部27对构成光学测量装置2的各部进行指 示、传送数据等来统一控制光学测量装置2的动作。控制部27 具有校正处理部27a和分析部27b。在电源21已启动的情况下， 校正处理部27a开始利用从测量探头3的前端照射的照明光对光 学测量装置2和测量探头3进行校正处理。分析部27b基于从分光 部24输出的测量结果对由分光部24接收到的检测光的光谱成分 等进行分析，由此分析测量对象物的成分等。

利用一个或者多个光纤来实现测量探头3。例如，利用对测 量对象物射出照明光的照明光纤和被测量对象物反射或者散射 的检测光以不同角度入射的多个检测光纤来实现测量探头3。测 量探头3具有基端部31和可挠部32。基端部31装卸自如地与光学 测量装置2的连接部23相连接。可挠部32具有可挠性，将从光源 部22射出的照明光传输至包括露出光纤的端面的前端的前端部 32a，并且经由该前端部32a将入射的检测光传输至分光部24。

图2是示意性地表示开关部25和校正用组件4的截面的截面 图。如图2所示，校正用组件4具有校正用构件41和壳体构件42。

利用形成为圆盘状的标准构件来实现校正用构件41。在此， 标准构件是指白色板或者表面对照明光具有高反射率的构件。 当对光学测量系统1进行校正处理时，校正用构件41成为从测量 探头3的前端部32a照射的照明光的照射对象。

利用形成为筒状的软性构件、例如橡胶等来实现壳体构件4 2。在壳体构件42中形成有：插入部42a，其能够使测量探头3 的前端部32a插入；容纳部42b，其与插入部42a相连通，能够使 校正用构件41沿着插入部42a的贯通方向移动；以及开口部42c， 其与容纳部42b相连通，保持开关部25中的至少被施加了操作力 的部分。针对开关部25配置壳体构件42，使得当通过从插入部4 2a插入测量探头3使校正用构件41到达容纳部42b内的规定位置 时对开关部25施加操作力。

对具有以上结构的光学测量系统1的操作过程的概要进行 说明。首先，使用者将测量探头3的基端部31与光学测量装置2 的连接部23相连接。

接着，使用者一边将测量探头3的前端部32a插入校正用组 件4的插入部42a，一边进行压入直到测量探头3停止插入为止。 此时，如图3所示，校正用构件41在与测量探头3的前端部32a 接触的同时向开口部42c侧移动，由此按下开关部25(图3的(a) →图3的(b))。由此，光学测量装置2的电源21启动。

之后，校正处理部27a驱动光源部22来向校正用构件41射出 照明光。

接着，分光部24接收经由测量探头3的前端部32a入射的检 测光并将检测光的测量值输出到控制部27。在此，测量值是指 检测光的光谱成分等。

之后，控制部27根据从分光部24输出的测量值和预先设定 的基准值执行光学测量系统1的校正处理。当执行该校正处理 时，在从分光部24输出的测量值小于预先设定的阈值的情况下， 控制部27也可以向输出部26输出表示光学测量系统1存在异常 的信息。由此，使用者能够获知光学测量装置2或者测量探头3 存在异常。

接着，校正处理部27a向输出部26输出表示光学测量系统1 的校正处理结束的信息。由此，使用者能够获知光学测量系统1 的校正处理结束。

之后，使用者从校正用组件4的插入部42a拔出测量探头3 的前端部32a，开始利用光学测量系统1进行实际测量。具体地 说，使用者经由内窥镜装置的处理器具插入部(通道)向被检体 内导入测量探头3来开始实际测量。随着开始进行该实际测量， 控制部27向输出部26输出生物体组织的测量结果。由此，使用 者诊断是否存在病变组织。

在实际测量结束后，使用者从光学测量装置2的连接部23 拔出测量探头3的基端部31，由此解除测量探头3与光学测量装 置2的连接。在这种情况下，连接部23停止输出测量探头3的检 测信号。当接收不到来自连接部23的检测信号时，控制部27将 光学测量装置2的电源21从接通(ON)状态切换为断开(OFF)状 态。由此，利用光学测量系统1进行的一系列操作结束。

在以上说明的本实施方式1中，通过将测量探头3的前端部3 2a插入校正用组件4的插入部42a来启动光学测量装置2的电源2 1，与该电源21的启动连动地执行光学测量装置2和测量探头3 的校正处理，因此能够在进行测量对象物的测量之前可靠地执 行光学测量系统1的校正处理。由此，能够可靠地防止使用者忘 记执行校正处理。

(实施方式2)

接着，说明本发明的实施方式2。图4是表示本实施方式2 所涉及的光学测量系统100的概要结构的示意图。此外，在图4 中，对具有与上述实施方式1中说明的光学测量系统1相同的结 构的部位附加相同的附图标记，并省略说明。

如图4所示，光学测量系统100具有检测部101和控制部102。

利用灵敏度传感器或者压力传感器等来实现检测部101。在 光学测量装置2的电源21被启动的状态下，检测部101判断测量 探头3是否插入校正用组件4。具体地说，在通过使用者将测量 探头3插入校正用组件4来使校正用构件41向开口部42c侧移动、 且伴随该移动而校正用构件41接触到检测部101的前端部的情 况下，检测部101检测出插入了测量探头3，将表示该检测结果 的检测信号输出到控制部102。

在光学测量装置2的电源21已启动的状态下检测部101检测 到插入了测量探头3的情况下，控制部102驱动光源部22，使照 明光经由连接部23和测量探头3照射到校正用构件41。之后，控 制部102进行如下控制：在根据由分光部24接收到的检测光的测 量值和预先设定的基准值执行光学测量系统100的校正处理之 后，从待机模式切换为能够对测量对象物进行光学测量的实际 测量模式。

在此，待机模式是指光学测量装置2的电源21已启动的状 态，是各构成部结束启动的状态。另外，实际测量模式是能够 进行如下动作的状态：在光源部22对测量对象物照射照明光、 且分光部24接收到经由测量探头3和连接部23入射的检测光并 进行测量之后，控制部102从分光部24获取检测光的测量结果并 进行分析，将分析结果输出到输出部26。

接着，对本实施方式2所涉及的光学测量系统100所进行的 处理进行说明。图5是表示光学测量系统100所进行的处理的概 要的流程图。

如图5所示，首先，控制部102判断光学测量装置2的电源2 1是否启动(步骤S101)。在光学测量装置2的电源21已启动的情 况下(步骤S101：“是”)，光学测量系统100转移到后述的步骤S 102。另一方面，在光学测量装置2的电源21尚未启动的情况下 (步骤S101：“否”)，光学测量系统100结束本处理。

接着，控制部102判断检测部101是否检测到插入了测量探 头3(步骤S102)。在检测部101没有检测到插入了测量探头3的情 况下(步骤S102：“否”)，控制部102反复进行该判断。另一方 面，在检测部101检测到插入了测量探头3的情况下(步骤S102： “是”)，校正处理部27a执行光学测量系统100的校正处理(步 骤S103)。

在校正处理部27a所进行校正处理结束之后，控制部102向 输出部26输出表示校正处理已结束的信息(步骤S104)。此时， 在从分光部24输出的测量值小于预先设定的阈值的情况下，校 正处理部27a向输出部26输出表示光学测量系统100存在异常的 信息。

接着，控制部102将光学测量系统100的模式从待机模式切 换至实际测量模式(步骤S105)。

之后，控制部102判断是否输入了测量结束的指示信号(步 骤S106)。具体地说，控制部102判断是否存在由连接部23输出 的检测信号。在没有输入测量结束的指示信号的情况下(步骤S 106：“否”)，光学测量系统100继续检查测量对象物。另一方 面，在输入了测量结束的指示信号的情况下(步骤S106：“是”)， 控制部102将光学测量系统100的模式从实际测量模式切换至待 机模式(步骤S107)，光学测量系统100结束本处理。

在以上说明的本实施方式2中，即使在光学测量装置2的电 源21已启动的状态下，只要使用者没有将测量探头3插入校正用 组件4来执行校正处理，控制部102就不会将光学测量系统100 从待机模式切换至实际测量模式，因此与上述实施方式1同样 地，能够在进行测量对象物的测量之前可靠地执行光学测量系 统100的校正处理。

并且，在上述本实施方式2中，在光学测量装置2的电源21 已启动的状态下执行校正处理，因此不存在接通光学测量装置2 的电源时产生的待机时间，例如直到控制部102和分光部24启动 为止所花费的待机时间，因此能够使用多个测量探头3高效地对 测量对象物进行测量。

(实施方式3)

接着，说明本发明的实施方式3。图6是示意性地表示本实 施方式3所涉及的光学测量装置、开关部以及校正用组件的截面 的截面图。图7是说明本实施方式3所涉及的校正用组件的使用 情况的图。此外，在图6和图7中，对具有与上述实施方式1中说 明的光学测量装置2和校正用组件4相同的结构的部位附加相同 的附图标记，并省略说明。

如图6所示，光学测量装置200具有使开关部25露出的开口， 还具有能够安装校正用组件202的安装部201。利用形成为筒状 的弹性构件来实现安装部201。安装部201具有开口部201a，该 开口部201a以自由装卸于光学测量装置200的方式保持校正用 组件202。

如图7所示，校正用组件202能够被使用者安装到光学测量 装置200的安装部201中或从该安装部201卸下。

根据以上说明的本实施方式3，校正用组件202被设置为自 由装卸于光学测量装置200，因此即使在由于污垢、逐年劣化导 致校正用构件41发生劣化的情况下，使用者也能够容易地更换 校正用组件202。

此外，在本实施方式3中，也可以在校正用组件202的外周 面上形成外螺纹，并且在开口部201a的内周面形成与外螺纹相 对应的内螺纹，使用者能够一边旋转校正用组件202一边将校正 用组件202安装到光学测量装置200中。

(实施方式4)

接着，说明本发明的实施方式4。图8是示意性地表示本实 施方式4所涉及的校正用组件的截面的截面图。图9是从图8的箭 头A方向进行观察而得到的主视图。此外，在图8和图9中，对 具有与上述实施方式2中说明的光学测量系统100和校正用组件 4相同的结构的部位附加相同的附图标记，并省略说明。

如图8和图9所示，校正用组件300具有壳体构件301和盖部3 02。

利用形成为筒状的软性构件来实现壳体构件301。壳体构件 301具有：容纳部42b，其容纳校正用构件41；第一开口部301a， 其保持开关部25中的至少被施加操作力的部分；以及第二开口 部301b，其保持盖部302。第二开口部301b形成钩状的截面，以 防止盖部302脱离容纳部42b。

用形成为大致圆盘状的软性构件来实现盖部302。在盖部3 02上形成能够使测量探头3的前端部32a插入的插入部42a。盖部 302具有大径部302a和小径部302b。大径部302a的直径形成为比 容纳部42b的直径小一些，比第二开口部301b的直径大。由此， 能够防止大径部302a脱离容纳部42b。小径部302b的直径被形成 为比大径部302a的直径小一些，并且比第二开口部301b的直径 小。

关于具有以上结构的校正用组件300，使用者能够使盖部3 02相对于壳体构件301沿着期望的方向进行旋转。因而，盖部3 02能够使插入部42a与校正用构件41之间的位置关系相对地变 更。

根据以上说明的本实施方式4，盖部302能够使插入部42a 与校正用构件41之间的位置关系相对地变更，因此每当将测量 探头3插入校正用组件300时均能够在校正用构件41的新位置处 执行校正处理。其结果是，能够更长久地使用校正用组件300， 在此基础上能够执行更多次校正处理。

此外，在本实施方式4中，使用者使盖部302进行旋转，但 例如也可以是如下结构：每当将测量探头3插入到插入部42a时 校正用构件41自动地旋转规定角度。

(实施方式5)

接着，说明本发明的实施方式5。图10是示意性地表示本实 施方式5所涉及的校正用组件的截面的截面图。此外，在图10 中，对具有与上述实施方式1中说明的光学测量系统1和校正用 组件4相同的结构的部位附加相同的附图标记并省略说明。

如图10所示，校正用组件400具有两个保持部401、402。保 持部401具有：活塞部401b，其能够在与测量探头3的插入方向 正交的方向上前进、后退；弹性构件401a，其被设置在活塞部4 01b的前端，能够与测量探头3的前端部32a的侧面相接触；以及 驱动部401c，其对活塞部401b进行驱动。使用与保持部401相同 的结构来实现保持部402，该保持部402具有弹性构件402a、活 塞部402b以及驱动部402c。保持部401、402被左右对称地配置。

对具有以上结构的校正用组件400的动作的概要进行说明。 首先，在检测部101检测到插入了测量探头3的情况下，控制部1 02通过对驱动部401c、402c进行驱动，使活塞部401b、402b各 自朝向靠近测量探头3的方向前进直到与测量探头3相抵接为 止。由此，测量探头3的前端部32a被弹性构件401a、402a夹持。

之后，在光学测量系统1的校正处理结束后，控制部102通 过对驱动部401c、402c进行驱动，使活塞部401b、402b各自朝 向远离测量探头3的方向后退。由此，解除利用弹性构件401a、 402a对测量探头3的前端部32a的夹持。

根据以上说明的本实施方式5，在校正用组件400中设置保 持部401、402，使用者不能在光学测量系统1的校正处理结束之 前从校正用组件400拔出测量探头3，因此能够在进行测量对象 物的测量之前可靠地执行校正处理。

另外，在本实施方式5中，保持部401、402被设置在校正用 组件400中，但例如也可以在校正用组件400中设置多个保持部。

(其它实施方式)

在上述实施方式1~5中，设置了一个分光部24，但也可以 根据被设置在测量探头3内的检测用的光纤的数量来设置多个 分光部24。

另外，在上述实施方式1~5中设置了分光部24，但例如也 可以在光源部22中设置光传感器，该光传感器对经由测量探头3 入射的检测光进行分光或者按照不同的波长域分别进行测量。

另外，在上述实施方式1~5中，利用一个测量探头来进行 照明光的照射和检测光的检测，但是例如也可以分别设置照射 照明光的照射探头和对检测光进行检测的检测探头。

并且，对于本领域的技术人员来说能够容易地导出本发明 的效果、变形例。由此，本发明的更广范围的方式并不限定于 如上那样表述说明的特定的详细情况以及代表性的实施方式。 因而，能够在不脱离由所附的权利要求及其等价物定义的总体 的发明的理念精神或者范围的前提下进行各种变更。

附图标记说明

1、100：光学测量系统；2、200：光学测量装置；3：测量 探头；4、202、300、400：校正用组件；21：电源；22：光源 部；23：连接部；24：分光部；25：开关部；26：输出部；27 a：校正处理部；27、102：控制部；27b：分析部；31：基端部； 32：可挠部；32a：前端部；41：校正用构件；42c：开口部；4 2b：容纳部；42a：插入部；42、301：壳体构件；101：检测部； 201：安装部；201a：开口部；301a：第一开口部；301b：第二 开口部；302：盖部；302a：大径部；302b：小径部；401、40 2：保持部；401a、402a：弹性构件；401b、402b：活塞部；4 01c、402c：驱动部。