Note: Text based on automatic Optical Character Recognition processes. Please use the PDF version for legal matters
[ ZH ]
本发明涉及一种对生物体组织照射照明光,根据从生物体 组织反射或者散射出的检测光的测量值来估计生物体组织的性 质和状态的光学测量系统和校正用组件。 |
以往,已知如下一种光学测量系统:对生物体组织照射照 明光,根据从生物体组织反射或者散射出的检测光的测量值来 估计生物体组织的性质和状态。这种光学测量系统与观察消化 器官等脏器的内窥镜相配合地进行使用。 |
另外,为了保证分析结果的分析精度,上述光学测量系统 需要在开始测量生物体组织之前进行调整白平衡的校正处理。 因此,已知如下一种系统:在开始测量之前,对反射光的光学 构件照射照明光,用光检测器接收所反射的光并计算出测量值, 根据计算出的该测量值和预先设定的基准值来进行校正处理 (例如参照日本特开2006-94992号公报)。 |
然而,在现有的光学测量系统中,依靠使用者进行校正处 理,因此存在不进行校正处理便开始测量生物体组织的情况。 |
本发明是鉴于上述问题而完成的,其目的在于提供一种能 够可靠地防止不进行校正处理便开始测量生物体组织的情况的 光学测量系统和校正组件。 |
为了解决上述问题而达成目的,本发明所涉及的光学测量 装置具备根据从外部施加的操作力启动电源的开关部,连接至 被导入被检体内的测量探头的基端部,输出从上述测量探头的 前端照射的照明光,另外接收经由上述测量探头入射的上述照 明光的反射光和/或散射光,由此进行光学测量,该光学测量装 置的特征在于,具备:校正用构件,其在利用上述照明光对该 光学测量装置和上述测量探头进行校正处理时成为上述照明光 的照射对象;壳体构件,其形成有插入部、容纳部以及开口部, 其中,该插入部能够使上述测量探头的前端插入,该容纳部与 上述插入部相连通且能够使上述校正用构件沿着上述插入部的 贯通方向移动,该开口部与上述容纳部相连通且保持上述开关 部中的至少被施加操作力的部分,并且该壳体构件针对上述开 关部进行配置,使得当通过从上述插入部插入上述测量探头使 上述校正用构件到达上述容纳部内的规定位置时对上述开关部 施加操作力;以及控制部,在上述电源启动时,该控制部进行 开始上述校正处理的控制。 |
另外,本发明所涉及的光学测量装置的特征在于,在上述 发明中,上述壳体构件被固定于该光学测量装置的主体。 |
另外,本发明所涉及的光学测量装置的特征在于,在上述 发明中,上述壳体构件中,上述插入部与上述校正用构件之间 的位置关系能够相对地变更。 |
另外,本发明所涉及的光学测量装置的特征在于,在上述 发明中,上述壳体构件具有保持上述测量探头的保持部,在上 述校正处理结束的情况下,上述控制部解除上述保持部对上述 测量探头的保持。 |
另外,本发明所涉及的光学测量装置的特征在于,在上述 发明中,上述壳体构件自由装卸于该光学测量装置的主体。 |
另外,本发明所涉及的光学测量装置的特征在于,在上述 发明中,上述壳体构件中,上述插入部与上述校正用构件之间 的位置关系能够相对地变更。 |
另外,本发明所涉及的光学测量装置的特征在于,在上述 发明中,上述壳体构件具有保持上述测量探头的保持部,在上 述校正处理结束的情况下,上述控制部解除上述保持部对上述 测量探头的保持。 |
另外,本发明所涉及的光学测量系统的特征在于,具备上 述光学测量装置和自由装卸于上述光学测量装置的上述测量探 头。 |
另外,本发明所涉及的光学测量装置具备根据从外部施加 的操作力检测被导入被检体内的测量探头的插入的检测部,连 接至上述测量探头的基端部,输出从上述测量探头的前端照射 的照明光,另外接收经由上述测量探头入射的上述照明光的反 射光和/或散射光,由此进行光学测量,该光学测量装置的特征 在于,具备:校正用构件,其在利用上述照明光对该光学测量 装置和上述测量探头进行校正处理时成为上述照明光的照射对 象;壳体构件,其形成有插入部、容纳部以及开口部,其中, 该插入部能够使上述测量探头的前端插入,该容纳部与上述插 入部相连通且能够使上述校正用构件沿着上述插入部的贯通方 向移动,该开口部与上述容纳部相连通且保持上述检测部中的 至少被施加操作力的部分,并且该壳体构件针对上述检测部进 行配置,使得当通过从上述插入部插入上述测量探头使上述校 正用构件到达上述容纳部内的规定位置时对上述检测部施加操 作力;以及控制部,在上述检测部检测到上述测量探头的插入 的情况下,进行开始上述校正处理的控制,并且进行将上述光 学测量装置的状态切换为能够进行上述光学测量的状态的控 制。 |
另外,本发明所涉及的光学测量装置的特征在于,在上述 发明中,上述壳体构件被固定于该光学测量装置的主体。 |
另外,本发明所涉及的光学测量装置的特征在于,在上述 发明中,上述壳体构件中,上述插入部与上述校正用构件之间 的位置关系能够相对地变更。 |
另外,本发明所涉及的光学测量装置的特征在于,在上述 发明中,上述壳体构件具有保持上述测量探头的保持部,在上 述校正处理结束的情况下,上述控制部解除上述保持部对上述 测量探头的保持。 |
另外,本发明所涉及的光学测量装置的特征在于,在上述 发明中,上述壳体构件自由装卸于该光学测量装置的主体。 |
另外,本发明所涉及的光学测量装置的特征在于,在上述 发明中,上述壳体构件中,上述插入部与上述校正用构件之间 的位置关系能够相对地变更。 |
另外,本发明所涉及的光学测量装置的特征在于,在上述 发明中,上述壳体构件具有保持上述测量探头的保持部,在上 述校正处理结束的情况下,上述控制部解除上述保持部对上述 测量探头的保持。 |
另外,本发明所涉及的光学测量系统的特征在于,具备上 述光学测量装置和自由装卸于上述光学测量装置的上述测量探 头。 |
另外,本发明所涉及的校正用组件能够安装于光学测量装 置,该光学测量装置具备根据从外部施加的操作力启动电源的 开关部,该光学测量装置连接至被导入被检体内的测量探头的 基端部,输出从上述测量探头的前端照射的照明光,另外接收 经由上述测量探头入射的上述照明光的反射光和/或散射光,由 此进行光学测量,该校正用组件在利用上述照明光对该光学测 量装置和上述测量探头进行校正处理时使用,该校正用组件的 特征在于,具备:校正用构件,其在进行上述校正处理时成为 上述照明光的照射对象;以及壳体构件,其形成有插入部、容 纳部以及开口部,其中,该插入部能够使上述测量探头的前端 插入,该容纳部与上述插入部相连通且能够使上述校正用构件 沿着上述插入部的贯通方向移动,该开口部与上述容纳部相连 通,在被安装于上述光学测量装置时能够以能与上述校正用构 件相接触的状态保持上述开关部中的至少被施加操作力的部 分。 |
另外,本发明所涉及的校正用组件的特征在于,在上述发 明中,上述壳体构件中,上述插入部与上述校正用构件之间的 位置关系能够相对地变更。 |
根据本发明,能够通过将测量探头插入校正部来测量生物 体组织,并且随着该插入来执行校正处理,因此能够在进行生 物体组织的测量之前可靠地执行光学测量系统的校正处理。由 此,能够起到可靠地防止使用者忘记进行校正处理的效果。 |
图1是表示本发明的实施方式1所涉及的光学测量系统的概 要结构的示意图。 |
图2是示意性地表示本发明的实施方式1所涉及的开关部和 校正用组件的截面的截面图。 |
图3是说明本发明的实施方式1所涉及的开关部和校正用组 件的动作的图。 |
图4是表示本发明的实施方式2所涉及的光学测量系统的概 要结构的示意图。 |
图5是表示本发明的实施方式2所涉及的光学测量系统所进 行的处理的概要的流程图。 |
图6是示意性地表示本发明的实施方式3所涉及的光学测量 装置、开关部以及校正用组件的截面的截面图。 |
图7是说明本发明的实施方式3所涉及的校正用组件的使用 情况的图。 |
图8是示意性地表示本发明的实施方式4所涉及的校正用组 件的截面的截面图。 |
图10是示意性地表示本发明的实施方式5所涉及的校正用 组件的截面的截面图。 |
下面,参照附图对用于实施本发明所涉及的光学测量系统、 光学测量装置以及校正用组件的方式(以下称为“实施方式”)进 行说明。此外,本发明并不限定于以下说明的实施方式。另外, 在附图的记载中,对相同的部分附加相同的附图标记。并且, 需要注意的是,附图是示意性的,各构件的厚度与宽度的关系、 各构件的比例等与现实存在差异。附图相互间还包括彼此的尺 寸的关系、比例不同的部分。 |
图1是表示本发明的实施方式1所涉及的光学测量系统的概 要结构的示意图。如图1所示,光学测量系统1具备:光学测量 装置2,其对生物体组织照射照明光,接收由生物体组织反射或 者散射出的照明光的反射光和/或散射光(以下称为“检测光”), 由此进行光学测量;测量探头3,其被导入被检体内;以及校正 用组件4,其用于光学测量系统1的校正处理。 |
光学测量装置2具有:电源21,其对构成光学测量装置2的 各部提供电力;光源部22,其对生物体组织等对象物(以下称为 “测量对象物”)射出照明光;连接部23,其连接测量探头3;分 光部24,其从测量探头3接收入射的检测光并测量检测光;开关 部25,其启动电源21;输出部26,其输出各种信息;以及控制 部27,其对光学测量装置2的动作进行控制。 |
使用白色LED(Light Emitting Diode:发光二极管)氙气灯 或者激光等非相干光源并且根据需要使用一个或者多个透镜来 实现光源部22。光源部22经由连接部23和测量探头3对测量对象 物射出照明光。 |
连接部23连接测量探头3。连接部23向测量探头3射出从光 源部22射出的照明光,并且向分光部24射出经由测量探头3入射 的检测光。连接部23将与是否连接测量探头3有关的信息输出到 控制部27。该信息例如是检测到测量探头3的检测信号。 |
使用分光器来实现分光部24。分光部24接收经由连接部23 和测量探头3入射的检测光,对接收到的检测光的光谱成分等进 行测量。分光部24将测量检测光而得到的测量结果输出到控制 部27。 |
使用按压式开关等来实现开关部25。开关部25根据从外部 施加的操作力启动电源21。 |
使用显示器、扬声器以及电动机等来实现输出部26。输出 部26输出测量对象物的测量结果或者与光学测量装置2有关的 各种信息。具体地说,输出部26通过声音、图像或者振动等来 输出与光学测量装置2有关的各种信息。 |
利用CPU(Central Processing Unit:中央处理单元)和RAM (Random Access Memory:随机存取存储器)等半导体存储器来 实现控制部27。控制部27对构成光学测量装置2的各部进行指 示、传送数据等来统一控制光学测量装置2的动作。控制部27 具有校正处理部27a和分析部27b。在电源21已启动的情况下, 校正处理部27a开始利用从测量探头3的前端照射的照明光对光 学测量装置2和测量探头3进行校正处理。分析部27b基于从分光 部24输出的测量结果对由分光部24接收到的检测光的光谱成分 等进行分析,由此分析测量对象物的成分等。 |
利用一个或者多个光纤来实现测量探头3。例如,利用对测 量对象物射出照明光的照明光纤和被测量对象物反射或者散射 的检测光以不同角度入射的多个检测光纤来实现测量探头3。测 量探头3具有基端部31和可挠部32。基端部31装卸自如地与光学 测量装置2的连接部23相连接。可挠部32具有可挠性,将从光源 部22射出的照明光传输至包括露出光纤的端面的前端的前端部 32a,并且经由该前端部32a将入射的检测光传输至分光部24。 |
图2是示意性地表示开关部25和校正用组件4的截面的截面 图。如图2所示,校正用组件4具有校正用构件41和壳体构件42。 |
利用形成为圆盘状的标准构件来实现校正用构件41。在此, 标准构件是指白色板或者表面对照明光具有高反射率的构件。 当对光学测量系统1进行校正处理时,校正用构件41成为从测量 探头3的前端部32a照射的照明光的照射对象。 |
利用形成为筒状的软性构件、例如橡胶等来实现壳体构件4 2。在壳体构件42中形成有:插入部42a,其能够使测量探头3 的前端部32a插入;容纳部42b,其与插入部42a相连通,能够使 校正用构件41沿着插入部42a的贯通方向移动;以及开口部42c, 其与容纳部42b相连通,保持开关部25中的至少被施加了操作力 的部分。针对开关部25配置壳体构件42,使得当通过从插入部4 2a插入测量探头3使校正用构件41到达容纳部42b内的规定位置 时对开关部25施加操作力。 |
对具有以上结构的光学测量系统1的操作过程的概要进行 说明。首先,使用者将测量探头3的基端部31与光学测量装置2 的连接部23相连接。 |
接着,使用者一边将测量探头3的前端部32a插入校正用组 件4的插入部42a,一边进行压入直到测量探头3停止插入为止。 此时,如图3所示,校正用构件41在与测量探头3的前端部32a 接触的同时向开口部42c侧移动,由此按下开关部25(图3的(a) →图3的(b))。由此,光学测量装置2的电源21启动。 |
之后,校正处理部27a驱动光源部22来向校正用构件41射出 照明光。 |
接着,分光部24接收经由测量探头3的前端部32a入射的检 测光并将检测光的测量值输出到控制部27。在此,测量值是指 检测光的光谱成分等。 |
之后,控制部27根据从分光部24输出的测量值和预先设定 的基准值执行光学测量系统1的校正处理。当执行该校正处理 时,在从分光部24输出的测量值小于预先设定的阈值的情况下, 控制部27也可以向输出部26输出表示光学测量系统1存在异常 的信息。由此,使用者能够获知光学测量装置2或者测量探头3 存在异常。 |
接着,校正处理部27a向输出部26输出表示光学测量系统1 的校正处理结束的信息。由此,使用者能够获知光学测量系统1 的校正处理结束。 |
之后,使用者从校正用组件4的插入部42a拔出测量探头3 的前端部32a,开始利用光学测量系统1进行实际测量。具体地 说,使用者经由内窥镜装置的处理器具插入部(通道)向被检体 内导入测量探头3来开始实际测量。随着开始进行该实际测量, 控制部27向输出部26输出生物体组织的测量结果。由此,使用 者诊断是否存在病变组织。 |
在实际测量结束后,使用者从光学测量装置2的连接部23 拔出测量探头3的基端部31,由此解除测量探头3与光学测量装 置2的连接。在这种情况下,连接部23停止输出测量探头3的检 测信号。当接收不到来自连接部23的检测信号时,控制部27将 光学测量装置2的电源21从接通(ON)状态切换为断开(OFF)状 态。由此,利用光学测量系统1进行的一系列操作结束。 |
在以上说明的本实施方式1中,通过将测量探头3的前端部3 2a插入校正用组件4的插入部42a来启动光学测量装置2的电源2 1,与该电源21的启动连动地执行光学测量装置2和测量探头3 的校正处理,因此能够在进行测量对象物的测量之前可靠地执 行光学测量系统1的校正处理。由此,能够可靠地防止使用者忘 记执行校正处理。 |
接着,说明本发明的实施方式2。图4是表示本实施方式2 所涉及的光学测量系统100的概要结构的示意图。此外,在图4 中,对具有与上述实施方式1中说明的光学测量系统1相同的结 构的部位附加相同的附图标记,并省略说明。 |
如图4所示,光学测量系统100具有检测部101和控制部102。 |
利用灵敏度传感器或者压力传感器等来实现检测部101。在 光学测量装置2的电源21被启动的状态下,检测部101判断测量 探头3是否插入校正用组件4。具体地说,在通过使用者将测量 探头3插入校正用组件4来使校正用构件41向开口部42c侧移动、 且伴随该移动而校正用构件41接触到检测部101的前端部的情 况下,检测部101检测出插入了测量探头3,将表示该检测结果 的检测信号输出到控制部102。 |
在光学测量装置2的电源21已启动的状态下检测部101检测 到插入了测量探头3的情况下,控制部102驱动光源部22,使照 明光经由连接部23和测量探头3照射到校正用构件41。之后,控 制部102进行如下控制:在根据由分光部24接收到的检测光的测 量值和预先设定的基准值执行光学测量系统100的校正处理之 后,从待机模式切换为能够对测量对象物进行光学测量的实际 测量模式。 |
在此,待机模式是指光学测量装置2的电源21已启动的状 态,是各构成部结束启动的状态。另外,实际测量模式是能够 进行如下动作的状态:在光源部22对测量对象物照射照明光、 且分光部24接收到经由测量探头3和连接部23入射的检测光并 进行测量之后,控制部102从分光部24获取检测光的测量结果并 进行分析,将分析结果输出到输出部26。 |
接着,对本实施方式2所涉及的光学测量系统100所进行的 处理进行说明。图5是表示光学测量系统100所进行的处理的概 要的流程图。 |
如图5所示,首先,控制部102判断光学测量装置2的电源2 1是否启动(步骤S101)。在光学测量装置2的电源21已启动的情 况下(步骤S101:“是”),光学测量系统100转移到后述的步骤S 102。另一方面,在光学测量装置2的电源21尚未启动的情况下 (步骤S101:“否”),光学测量系统100结束本处理。 |
接着,控制部102判断检测部101是否检测到插入了测量探 头3(步骤S102)。在检测部101没有检测到插入了测量探头3的情 况下(步骤S102:“否”),控制部102反复进行该判断。另一方 面,在检测部101检测到插入了测量探头3的情况下(步骤S102: “是”),校正处理部27a执行光学测量系统100的校正处理(步 骤S103)。 |
在校正处理部27a所进行校正处理结束之后,控制部102向 输出部26输出表示校正处理已结束的信息(步骤S104)。此时, 在从分光部24输出的测量值小于预先设定的阈值的情况下,校 正处理部27a向输出部26输出表示光学测量系统100存在异常的 信息。 |
接着,控制部102将光学测量系统100的模式从待机模式切 换至实际测量模式(步骤S105)。 |
之后,控制部102判断是否输入了测量结束的指示信号(步 骤S106)。具体地说,控制部102判断是否存在由连接部23输出 的检测信号。在没有输入测量结束的指示信号的情况下(步骤S 106:“否”),光学测量系统100继续检查测量对象物。另一方 面,在输入了测量结束的指示信号的情况下(步骤S106:“是”), 控制部102将光学测量系统100的模式从实际测量模式切换至待 机模式(步骤S107),光学测量系统100结束本处理。 |
在以上说明的本实施方式2中,即使在光学测量装置2的电 源21已启动的状态下,只要使用者没有将测量探头3插入校正用 组件4来执行校正处理,控制部102就不会将光学测量系统100 从待机模式切换至实际测量模式,因此与上述实施方式1同样 地,能够在进行测量对象物的测量之前可靠地执行光学测量系 统100的校正处理。 |
并且,在上述本实施方式2中,在光学测量装置2的电源21 已启动的状态下执行校正处理,因此不存在接通光学测量装置2 的电源时产生的待机时间,例如直到控制部102和分光部24启动 为止所花费的待机时间,因此能够使用多个测量探头3高效地对 测量对象物进行测量。 |
接着,说明本发明的实施方式3。图6是示意性地表示本实 施方式3所涉及的光学测量装置、开关部以及校正用组件的截面 的截面图。图7是说明本实施方式3所涉及的校正用组件的使用 情况的图。此外,在图6和图7中,对具有与上述实施方式1中说 明的光学测量装置2和校正用组件4相同的结构的部位附加相同 的附图标记,并省略说明。 |
如图6所示,光学测量装置200具有使开关部25露出的开口, 还具有能够安装校正用组件202的安装部201。利用形成为筒状 的弹性构件来实现安装部201。安装部201具有开口部201a,该 开口部201a以自由装卸于光学测量装置200的方式保持校正用 组件202。 |
如图7所示,校正用组件202能够被使用者安装到光学测量 装置200的安装部201中或从该安装部201卸下。 |
根据以上说明的本实施方式3,校正用组件202被设置为自 由装卸于光学测量装置200,因此即使在由于污垢、逐年劣化导 致校正用构件41发生劣化的情况下,使用者也能够容易地更换 校正用组件202。 |
此外,在本实施方式3中,也可以在校正用组件202的外周 面上形成外螺纹,并且在开口部201a的内周面形成与外螺纹相 对应的内螺纹,使用者能够一边旋转校正用组件202一边将校正 用组件202安装到光学测量装置200中。 |
接着,说明本发明的实施方式4。图8是示意性地表示本实 施方式4所涉及的校正用组件的截面的截面图。图9是从图8的箭 头A方向进行观察而得到的主视图。此外,在图8和图9中,对 具有与上述实施方式2中说明的光学测量系统100和校正用组件 4相同的结构的部位附加相同的附图标记,并省略说明。 |
如图8和图9所示,校正用组件300具有壳体构件301和盖部3 02。 |
利用形成为筒状的软性构件来实现壳体构件301。壳体构件 301具有:容纳部42b,其容纳校正用构件41;第一开口部301a, 其保持开关部25中的至少被施加操作力的部分;以及第二开口 部301b,其保持盖部302。第二开口部301b形成钩状的截面,以 防止盖部302脱离容纳部42b。 |
用形成为大致圆盘状的软性构件来实现盖部302。在盖部3 02上形成能够使测量探头3的前端部32a插入的插入部42a。盖部 302具有大径部302a和小径部302b。大径部302a的直径形成为比 容纳部42b的直径小一些,比第二开口部301b的直径大。由此, 能够防止大径部302a脱离容纳部42b。小径部302b的直径被形成 为比大径部302a的直径小一些,并且比第二开口部301b的直径 小。 |
关于具有以上结构的校正用组件300,使用者能够使盖部3 02相对于壳体构件301沿着期望的方向进行旋转。因而,盖部3 02能够使插入部42a与校正用构件41之间的位置关系相对地变 更。 |
根据以上说明的本实施方式4,盖部302能够使插入部42a 与校正用构件41之间的位置关系相对地变更,因此每当将测量 探头3插入校正用组件300时均能够在校正用构件41的新位置处 执行校正处理。其结果是,能够更长久地使用校正用组件300, 在此基础上能够执行更多次校正处理。 |
此外,在本实施方式4中,使用者使盖部302进行旋转,但 例如也可以是如下结构:每当将测量探头3插入到插入部42a时 校正用构件41自动地旋转规定角度。 |
接着,说明本发明的实施方式5。图10是示意性地表示本实 施方式5所涉及的校正用组件的截面的截面图。此外,在图10 中,对具有与上述实施方式1中说明的光学测量系统1和校正用 组件4相同的结构的部位附加相同的附图标记并省略说明。 |
如图10所示,校正用组件400具有两个保持部401、402。保 持部401具有:活塞部401b,其能够在与测量探头3的插入方向 正交的方向上前进、后退;弹性构件401a,其被设置在活塞部4 01b的前端,能够与测量探头3的前端部32a的侧面相接触;以及 驱动部401c,其对活塞部401b进行驱动。使用与保持部401相同 的结构来实现保持部402,该保持部402具有弹性构件402a、活 塞部402b以及驱动部402c。保持部401、402被左右对称地配置。 |
对具有以上结构的校正用组件400的动作的概要进行说明。 首先,在检测部101检测到插入了测量探头3的情况下,控制部1 02通过对驱动部401c、402c进行驱动,使活塞部401b、402b各 自朝向靠近测量探头3的方向前进直到与测量探头3相抵接为 止。由此,测量探头3的前端部32a被弹性构件401a、402a夹持。 |
之后,在光学测量系统1的校正处理结束后,控制部102通 过对驱动部401c、402c进行驱动,使活塞部401b、402b各自朝 向远离测量探头3的方向后退。由此,解除利用弹性构件401a、 402a对测量探头3的前端部32a的夹持。 |
根据以上说明的本实施方式5,在校正用组件400中设置保 持部401、402,使用者不能在光学测量系统1的校正处理结束之 前从校正用组件400拔出测量探头3,因此能够在进行测量对象 物的测量之前可靠地执行校正处理。 |
另外,在本实施方式5中,保持部401、402被设置在校正用 组件400中,但例如也可以在校正用组件400中设置多个保持部。 |
在上述实施方式1~5中,设置了一个分光部24,但也可以 根据被设置在测量探头3内的检测用的光纤的数量来设置多个 分光部24。 |
另外,在上述实施方式1~5中设置了分光部24,但例如也 可以在光源部22中设置光传感器,该光传感器对经由测量探头3 入射的检测光进行分光或者按照不同的波长域分别进行测量。 |
另外,在上述实施方式1~5中,利用一个测量探头来进行 照明光的照射和检测光的检测,但是例如也可以分别设置照射 照明光的照射探头和对检测光进行检测的检测探头。 |
并且,对于本领域的技术人员来说能够容易地导出本发明 的效果、变形例。由此,本发明的更广范围的方式并不限定于 如上那样表述说明的特定的详细情况以及代表性的实施方式。 因而,能够在不脱离由所附的权利要求及其等价物定义的总体 的发明的理念精神或者范围的前提下进行各种变更。 |
1、100:光学测量系统;2、200:光学测量装置;3:测量 探头;4、202、300、400:校正用组件;21:电源;22:光源 部;23:连接部;24:分光部;25:开关部;26:输出部;27 a:校正处理部;27、102:控制部;27b:分析部;31:基端部; 32:可挠部;32a:前端部;41:校正用构件;42c:开口部;4 2b:容纳部;42a:插入部;42、301:壳体构件;101:检测部; 201:安装部;201a:开口部;301a:第一开口部;301b:第二 开口部;302:盖部;302a:大径部;302b:小径部;401、40 2:保持部;401a、402a:弹性构件;401b、402b:活塞部;4 01c、402c:驱动部。 |