WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
maximize
Machine translation
1. (WO2016182055) SHAPE INSPECTION METHOD, SHAPE INSPECTION DEVICE, AND PROGRAM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/182055    International Application No.:    PCT/JP2016/064266
Publication Date: 17.11.2016 International Filing Date: 13.05.2016
IPC:
G01B 11/24 (2006.01)
Applicants: NIPPON STEEL & SUMITOMO METAL CORPORATION [JP/JP]; 6-1, Marunouchi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008071 (JP)
Inventors: HIBI, Atsuhiro; (JP).
KONNO, Yusuke; (JP).
FURUYA, Nobuhiro; (JP).
KUROIWA, Tomohiro; (JP)
Agent: KAMEYA, Yoshiaki; (JP)
Priority Data:
2015-098031 13.05.2015 JP
Title (EN) SHAPE INSPECTION METHOD, SHAPE INSPECTION DEVICE, AND PROGRAM
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF D'INSPECTION DE FORME, ET PROGRAMME
(JA) 形状検査方法、形状検査装置及びプログラム
Abstract: front page image
(EN)[Problem] To provide a shape inspection method, shape inspection device, and program whereby the brightness and thickness of a light-section line in a light-section image can be more conveniently and objectively adjusted. [Solution] The shape inspection method pertaining to the present invention includes: a light-section image generation step for radiating linear laser light from a laser light source to an object surface, capturing an image of a light-section line of the laser light on the object surface through use of an imaging device, and generating a light-section image used in a light-section method; an index value calculation step for calculating each of a thickness index value indicating the thickness of the light-section line and a brightness index value indicating the brightness of the light-section line in the light-section image; a setting change step for changing a setting of at least one of the laser light source and the imaging device so that each of the thickness index value and the brightness index value is included in a predetermined range uniquely established in advance; and a shape inspection step for performing image processing of the light-section image subsequent to each of the thickness index value and the brightness index value having become included in the predetermined range, and inspecting the shape of the object surface.
(FR)Le problème est de mettre en oeuvre un procédé d'inspection de forme, un dispositif d'inspection de forme, et un programme au moyen desquels la brillance et l'épaisseur d'une ligne de coupe optique dans une image de coupe optique peut être plus facilement et plus objectivement ajustée. La solution selon la présente invention concernant le procédé d'inspection de forme comprend : une étape de génération d'image de coupe optique consistant à émettre un rayonnement laser linéaire d'une source de lumière laser à une surface d'objet, capturer une image d'une ligne de coupe optique de la lumière laser sur la surface de l'objet à l'aide d'un dispositif d'imagerie, et générer une image de coupe optique utilisée dans un procédé de coupe optique; une étape de calcul de valeur d'indice pour calculer chaque valeur d'indice d'épaisseur indiquant l'épaisseur de la ligne de coupe optique et une valeur d'indice de luminosité indiquant la luminosité de la ligne de coupe optique dans l'image de coupe optique; une étape de modification de réglage pour modifier un réglage de la source de lumière laser et/ou du dispositif d'imagerie de façon à inclure chaque valeur d'indice d'épaisseur et chaque valeur d'indice de luminosité dans une plage prédéterminée établie exceptionnellement à l'avance; et une étape d'inspection de forme pour effectuer un traitement de l'image de coupe optique à la suite de chaque valeur d'indice d'épaisseur et de chaque valeur d'indice de luminosité ayant été incluse dans la plage prédéterminée, et inspecter la forme de la surface de l'objet.
(JA)【課題】光切断画像における光切断線の明るさ及び太さをより簡便かつ客観的に調整することが可能な形状検査方法、形状検査装置及びプログラムを提供すること。 【解決手段】本発明に係る形状検査方法は、レーザ光源から物体表面に線状のレーザ光を照射し、物体表面でのレーザ光による光切断線を撮像装置で撮像して光切断法に用いられる光切断画像を生成する光切断画像生成ステップと、光切断画像での光切断線の太さを表わす太さ指標値と光切断線の明るさを表わす明るさ指標値とをそれぞれ算出する指標値算出ステップと、太さ指標値及び明るさ指標値のそれぞれが予め一意に定められた所定の範囲内に含まれるようレーザ光源又は撮像装置の少なくとも何れかの設定を変更する設定変更ステップと、太さ指標値及び明るさ指標値がそれぞれ所定の範囲内に含まれるようになった後の光切断画像に対し画像処理を行い、物体表面の形状を検査する形状検査ステップと、を含む。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)