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1. WO2002025265 - PROBING METHOD USING ION TRAP MASS SPECTROMETER AND PROBING DEVICE

Note: Text based on automatic Optical Character Recognition processes. Please use the PDF version for legal matters

[ JA ]

請求の範囲

1 . イオントラップ質量分析計を用いた探知方法において、質量スぺク トルを取得する第 1の分析ステップと、第 1の固有の m/ zのイオンが 存在するか判定する第 1の判定ステップと、前記第 1の判定ステップの 判定結果に応じてタンデム質量分析を行う第 2の分析ステップと、前記 タンデム質量分析で得られた質量スぺクトルで第 2の固有の mZ zのィ オンが存在するか判定する第 2の判定ステップと、からなることを特徴 するイオントラップ質量分析計を用レ、た探知方法。

2 . イオントラップ質量分析計を用いた探知方法において、質量スぺク トルを取得する第 1の分析ステップと、第 1の固有の m/ zのイオンが 存在するか判定する第 1の判定ステツプと、前記第 1の判定ステップの 判定結果に応じて分析条件をデータベースから読み込むステップと、タ ンデム質量分析を行う第 2の分析ステップと、第 2の固有の m/ zのィ オンが存在するか判定する第 2の判定ステップとを有することを特徴す るイオントラップ質量分析計を用いた探知方法。

3 . 前記第 2の判定ステップの判定結果に応じて警報を発動する告知ス テップを有する請求の範囲第 1項又は第 2項記載のィオントラップ質量 分析計を用いた探知方法。

4 . 前記第 2の分析ステップは、第 1の固有の m/ zのイオンを閉じ込 める閉じ込めステップと、前記閉じ込められたイオンから特定の mZ z を有するイオンを選択する選択ステップと、前記選択ステップで選択さ れたイオンを排出する排出ステップと、を有することを特徴する請求の 範囲第 1項記載のィオントラップ質量分析計を用いた探知方法。

5 . 前記排出する工程の後に排出したイオンの電流値を計測するステツ プを付加したことを特徴とする請求の範囲第 3項記載のイオントラップ 質量分析計を用いた探知方法。

6 . 前記第 2の分析ステップは、第 1の固有の m/ zのイオンを閉じ込 める閉じ込めステップと、前記閉じ込めたイオンを解離させる解離ステ ップと、前記イオンの解離により生成されたニトロ基由来のイオンを質 量分析する第 3の分析ステップからなることを特徴とする請求の範囲第 1項記載のィオントラップ質量分析計を用いた探知方法。

7 . 第 1のガスを吸引するガス吸引部と、コロナ放電により前記第 1の ガスに含まれる試料をイオン化するイオン源と、前記イオン源で生成し た第 1のイオンを分析するイオントラップ質量分析計と、前記イオント ラップ質量分析計からの所定イオンに含まれる危険物質を判定する判定 部と、を具備するすることを特徴とするイオントラップ質量分析装置を 用いた探知装置。

8 . カバンなどのチェックすべき対象を搬送する搬送装置と、第 1のガ スを吸引するガス吸引部と、コロナ放電により前記第 1のガスに含まれ る試料をイオン化するイオン源と、前記イオン源で生成した第 1のィォ ンを分析するィオントラップ質量分析計と、前記イオントラップ質量分 析計からの所定イオンに含まれる危険物質を判定する判定部と、前記判 定部で危険物質が含まれると判定されると前記搬送装置の搬送速度を制 御する搬送装置制御装置を具備するすることを特徴とするイオントラッ プ質量分析装置を用!/、た探知装置。