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1. WO2023274667 - ERMITTELN EINES QUALITÄTSWERTES BEIM BESTÜCKEN EINES ELEKTRISCHEN BAUELEMENTS

Veröffentlichungsnummer WO/2023/274667
Veröffentlichungsdatum 05.01.2023
Internationales Aktenzeichen PCT/EP2022/065365
Internationales Anmeldedatum 07.06.2022
IPC
H05K 13/08 2006.1
HSektion H Elektrotechnik
05Elektrotechnik, soweit nicht anderweitig vorgesehen
KGedruckte Schaltungen; Gehäuse oder bauliche Einzelheiten von elektrischen Geräten; Herstellung von Baugruppen aus elektrischen Elementen
13Geräte oder Verfahren, die zum Herstellen oder Justieren von Baugruppen elektrischer Schaltelemente besonders ausgebildet sind
08Überwachen der Herstellung von Baugruppen
CPC
H05K 13/083
HELECTRICITY
05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
13Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
08Monitoring manufacture of assemblages
083Quality monitoring using results from monitoring devices, e.g. feedback loops
Anmelder
  • SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE]/[DE]
Erfinder
  • BLANK, Rene
  • BORWIECK, Carsten
  • FRANKE, Martin
  • FRÜHAUF, Peter
  • HEIMANN, Matthias
  • KNOFE, Rüdiger
  • MÜLLER, Bernd
  • NERRETER, Stefan
  • WITTREICH, Ulrich
Prioritätsdaten
21182450.329.06.2021EP
Veröffentlichungssprache Deutsch (de)
Anmeldesprache Deutsch (DE)
Designierte Staaten
Titel
(DE) ERMITTELN EINES QUALITÄTSWERTES BEIM BESTÜCKEN EINES ELEKTRISCHEN BAUELEMENTS
(EN) DETERMINING A QUALITY VALUE DURING MOUNTING OF AN ELECTRICAL COMPONENT
(FR) DÉTERMINATION D'UNE VALEUR DE QUALITÉ PENDANT LE MONTAGE D'UN COMPOSANT ÉLECTRIQUE
Zusammenfassung
(DE) Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Ermitteln eines Qualitätswertes (Q) beim Bestücken eines elektrischen Bauelements (20) auf eine Oberfläche (30). Um Prozessabweichungen in der Elektronikfertigung frühzeitig zu erkennen und den Fertigungsprozess zu verbessern werden die folgenden Schritte vorgeschlagen: - Erfassen ein oder mehrerer Prozessgrößen (F, VAC, POS) beim Bestücken des Bauelements (20), - Ermitteln des Qualitätswertes (Q) durch ein Modell (40), das auf Basis von Erfahrungswerten (F*, VAC*, POS*) für die Prozessgrößen (P, VAC, POS) den Qualitätswert (Q) ausgibt. Die Erfindung betrifft weiterhin ein Verfahren zum Bestücken von Bauelementen (20), eine Überwachungseinrichtung (130) und einen Bestückautomat (100).
(EN) The invention relates to a method for determining a quality value (Q) during mounting of an electrical component (20) on a surface (30). In order to detect process deviations at an early stage in electronics manufacturing and to improve the manufacturing process, the method comprises the following steps: - capturing one or more process variables (F, VAC, POS) during mounting of the component (20), and - determining the quality value (Q) by a model (40), which outputs the quality value (Q) on the basis of empirical values (F*, VAC*, POS*) for the process variables (P, VAC, POS). The invention further relates to a method for mounting components (20), a monitoring device (130) and a pick-and-place machine (100).
(FR) L'invention concerne un procédé de détermination d'une valeur de qualité (Q) lors du montage d'un composant électrique (20) sur une surface (30). Afin de détecter les écarts de processus à un stade précoce de la fabrication de produits électroniques et d'améliorer le processus de fabrication, le procédé comprend les étapes suivantes : - la collecte d'une ou plusieurs variables de processus (F, VAC, POS) pendant le montage du composant (20), et - la détermination de la valeur de qualité (Q) par un modèle (40), qui délivre la valeur de qualité (Q) sur la base de valeurs empiriques (F*, VAC*, POS*) pour les variables de processus (P, VAC, POS). L'invention concerne en outre un procédé de montage de composants (20), un dispositif de surveillance (130) et une machine de transfert (100).
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