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1. WO2022200549 - VERFAHREN UND LICHTMIKROSKOP ZUM HOCHAUFGELÖSTEN UNTERSUCHEN EINER PROBE

Veröffentlichungsnummer WO/2022/200549
Veröffentlichungsdatum 29.09.2022
Internationales Aktenzeichen PCT/EP2022/057879
Internationales Anmeldedatum 25.03.2022
IPC
G02B 21/00 2006.1
GSektion G Physik
02Optik
BOptische Elemente, Systeme oder Geräte
21Mikroskope
G02B 27/58 2006.1
GSektion G Physik
02Optik
BOptische Elemente, Systeme oder Geräte
27Optische Systeme oder Geräte, soweit nicht in einer der Gruppen G02B1/-G02B26/115
58Optische Systeme zur Apodisation oder zur Hyperauflösung; Systeme mit synthetischer Apertur
CPC
G02B 21/0072
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
0004specially adapted for specific applications
002Scanning microscopes
0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
0052Optical details of the image generation
0072details concerning resolution or correction, including general design of CSOM objectives
G02B 21/008
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
0004specially adapted for specific applications
002Scanning microscopes
0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
008Details of detection or image processing, including general computer control
G02B 27/58
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
27Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
58Optics for apodization or superresolution; Optical synthetic aperture systems
Anmelder
  • ABBERIOR INSTRUMENTS GMBH [DE]/[DE]
Erfinder
  • SCHMIDT, Roman
  • HARKE, Benjamin
  • REUSS, Matthias
  • KASTRUP, Lars
Prioritätsdaten
10 2021 107 704.426.03.2021DE
Veröffentlichungssprache Deutsch (de)
Anmeldesprache Deutsch (DE)
Designierte Staaten
Titel
(DE) VERFAHREN UND LICHTMIKROSKOP ZUM HOCHAUFGELÖSTEN UNTERSUCHEN EINER PROBE
(EN) METHOD AND LIGHT MICROSCOPE FOR A HIGH-RESOLUTION EXAMINATION OF A SAMPLE
(FR) PROCÉDÉ ET MICROSCOPE OPTIQUE POUR L'ANALYSE À HAUTE RÉSOLUTION D'UN ÉCHANTILLON
Zusammenfassung
(DE) Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum lichtmikroskopischen Untersuchen einer Probe (6) insbesondere mittels Laserscanning- oder MINFLUX-Mikroskopie, bei dem eine Drift der Probe (6) oder eines Objekts in einer Probe (6) gegenüber dem Lichtmikroskop (26) erfasst und ggf. korrigiert wird. Insbesondere bezieht sich die Erfindung auf ein entsprechendes Verfahren zum Untersuchen der Probe (6) mittels Laserscanning- oder MINFLUX-Mikroskopie. Dazu befinden sich in der Probe Referenzmarker (8, 13), deren Position wiederholt nach dem MINFLUX-Prinzip bestimmt wird, um die Drift zu bestimmen.
(EN) The invention relates to a method for a light-microscopic examination of a sample (6), in particular by means of laser scanning or MINFLUX microscopy, in which a drift of the sample (6) or of an object in a sample (6) in relation to the light microscope (26) is detected and optionally corrected. In particular, the invention relates to a corresponding method for examining the sample (6) by means of laser scanning or MINFLUX microscopy. To this end, reference markers (8, 13) are situated in the sample, the position of the reference markers being determined repeatedly according to the MINFLUX principle in order to determine the drift.
(FR) L'invention concerne un procédé d'analyse d'un échantillon (6) par microscopie optique, en particulier par microscopie à balayage laser ou MINFLUX, selon lequel une dérive de l'échantillon (6) ou d'un objet dans un échantillon (6) par rapport au microscope optique (26) est détectée et éventuellement corrigée. L'invention concerne en particulier un procédé correspondant pour analyser l'échantillon (6) par microscopie à balayage laser ou MINFLUX. Selon l’invention, l'échantillon comprend des marqueurs de référence (8, 13) dont la position est déterminée de manière répétée selon le principe MINFLUX pour déterminer la dérive.
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