(DE) Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren sowie einen Intraoralscanner (100) zum Erfassen der Topographie der Oberfläche (1) eines transluzenten, insbesondere dentalen, Objektes (O) durch zumindest teilweises Überlagern einer ersten und einer zweiten Teiltopographie der Oberfläche (1).Das Erfassen der Teiltopographien erfolgt jeweils durch- Projizieren eines Gesamtmessmusters auf einen jeweiligen Teilbereich (B.I, B.II) der Oberfläche (1) mittels einer Projektionseinrichtung (11), wobei das Gesamtmessmuster mindestens zwei verschiedene Messmuster umfasst, die jeweils eine Mehrzahl von zueinander parallelen Messlinien aufweisen, und den Messmustern jeweils ein diffraktives optisches Element zugeordnet ist, mittels dessen die Messlinien durch Lichtbeugung erzeugbar sind,- Bereitstellen eines ersten und zweiten Bildes des jeweiligen Teilbereichs (B.I, B.II) der Oberfläche (1), wobei im ersten Bild ein erstes der mindestens zwei Messmuster auf den jeweiligen Teilbereich (B.I, B.II) der Oberfläche (1) projiziert ist und im zweiten Bild ein zweites der mindestens zwei Messmuster auf den jeweiligen Teilbereich (B.I, B.II) der Oberfläche (1) projiziert ist, und- Erfassen der jeweiligen Teiltopographie des jeweiligen Teilbereichs (B.I, B.II) der Oberfläche (1) jeweils mittels Triangulation unter Verwendung des jeweiligen ersten Bildes und/oder des jeweiligen zweiten Bildes.
(EN) The invention relates to a method and to an intraoral scanner (100) for detecting the topography of the surface (1) of a translucent object (O), in particular a dental object, by at least partly superimposing a first and a second sub-topography of the surface (1). Each of the sub-topographies is detected by - projecting a total measurement pattern onto a respective sub-region (B.I, B.II) of the surface (1) by means of a projection device (11), wherein the total measurement pattern comprises at least two different measurement patterns, each of which has a plurality of parallel measurement lines, and each of the measurement patterns is assigned to a diffractive optical element, by means of which the measurement lines can be generated by light diffraction, - providing a first and a second image of each sub-region (B.I, B.II) of the surface (1), a first measurement pattern of the at least two measurement patterns being projected onto the respective sub-region (B.I, B.II) of the surface (1) in the first image and a second measurement pattern of the at least two measurement patterns being projected onto the respective sub-region (B.I, B.II) of the surface (1) in the second image, and - detecting the respective sub-topographies of each sub-region (B.I, B.II) of the surface (1) by means of triangulation in each case using the respective first image and/or the respective second image.
(FR) L'invention concerne un procédé et un scanner intrabuccaux (100) pour détecter la topographie de la surface (1) d'un objet translucide (O), en particulier un objet dentaire, en superposant au moins partiellement une première et une seconde sous-topographie de la surface (1). Chacune des sous-topographies est détectée par les étapes suivantes : la projection d'un modèle de mesure total sur une sous-région respective (B.I, B.II) de la surface (1) au moyen d'un dispositif de projection (11), le modèle de mesure total comprenant au moins deux modèles de mesure différents, dont chacun présente une pluralité de lignes de mesure parallèles, et chacun des modèles de mesure étant associé à un élément optique diffractif, au moyen duquel les lignes de mesure peuvent être générées par diffraction de la lumière, la fourniture d'une première et d'une seconde image de chaque sous-région (B.I, B. II) de la surface (1), un premier motif de mesure des au moins deux motifs de mesure étant projeté sur la sous-région respective (B.I, B.II) de la surface (1) dans la première image et un second motif de mesure desdits au moins deux motifs de mesure étant projeté sur la sous-région respective (B. I, B.II) de la surface (1) dans la seconde image, et la détection des sous-topographies respectives de chaque sous-région (B.I, B.II) de la surface (1) au moyen d'une triangulation en utilisant à chaque fois la première image respective et/ou la seconde image respective.
