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1. WO2020208012 - VERFAHREN ZUR KONTAKTLOSEN CHARAKTERISIERUNG EINER SUBSTANZ

Veröffentlichungsnummer WO/2020/208012
Veröffentlichungsdatum 15.10.2020
Internationales Aktenzeichen PCT/EP2020/059885
Internationales Anmeldedatum 07.04.2020
IPC
G01N 21/27 2006.01
GPhysik
01Messen; Prüfen
NUntersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
21Optisches Untersuchen oder Analysieren von Stoffen, d.h. durch die Anwendung infraroten, sichtbaren oder ultravioletten Lichts
17Systeme, in denen einfallendes Licht durch die Eigenschaften des untersuchten Materials beeinflusst wird
25Farbe; Spektraleigenschaften, d.h. Vergleich der Materialeffekte bei Licht von zwei oder mehr Wellenlängen oder Wellenlängenbereichen
27mit fotoelektrischer Erfassung
G01N 21/35 2014.01
GPhysik
01Messen; Prüfen
NUntersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
21Optisches Untersuchen oder Analysieren von Stoffen, d.h. durch die Anwendung infraroten, sichtbaren oder ultravioletten Lichts
17Systeme, in denen einfallendes Licht durch die Eigenschaften des untersuchten Materials beeinflusst wird
25Farbe; Spektraleigenschaften, d.h. Vergleich der Materialeffekte bei Licht von zwei oder mehr Wellenlängen oder Wellenlängenbereichen
31Untersuchen relativer Materialeffekte bei Wellenlängen, die für spezifische Elemente oder Moleküle charakteristisch sind, z.B. Atomabsorptionsspektrometrie
35mit infrarotem Licht
Anmelder
  • STEINFURTH MESS-SYSTEME GMBH [DE]/[DE]
Erfinder
  • GRAFE , Markus
Vertreter
  • BALS & VOGEL PATENTANWÄLTE
Prioritätsdaten
10 2019 109 583.211.04.2019DE
Veröffentlichungssprache Deutsch (DE)
Anmeldesprache Deutsch (DE)
Designierte Staaten
Titel
(DE) VERFAHREN ZUR KONTAKTLOSEN CHARAKTERISIERUNG EINER SUBSTANZ
(EN) METHOD FOR CONTACTLESSLY CHARACTERIZING A SUBSTANCE
(FR) PROCÉDÉ DE CARACTÉRISATION D'UNE SUBSTANCE SANS CONTACT
Zusammenfassung
(DE)
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur kontaktlosen Charakterisierung einer Substanz (A) mithilfe von Wellen (W), wobei die Substanz (A) eine spektrale Struktur (a(i)) als Kennfeld (KF) aufweist, die qualitativ von mindestens einer Eigenschaft (ei) der Substanz (A) abhängt, wobei die spektrale Struktur (a(i)) durch eine Messung (x) aufgezeichnet wird, und wobei die Messung (x) eine Störstruktur (s) aufweisen kann, die von den Messumständen abhängt. Hierzu ist es erfindungsgemäß vorgesehen, dass im Schritt 1) mindestens zwei verschiedene Messungen (xj) unter unterschiedlichen Messumständen durchgeführt werden, die quantitativ und/oder qualitativ unterschiedliche Störstrukturen (sj) und/oder quantitativ unterschiedliche spektrale Strukturen (g j · a ) aufweisen können, und dass im Schritt 2) Koeffizienten (cj) einer Linearkombination (I) der verschiedenen Messungen (xj) und der Wert (i) der mindestens einen Eigenschaft (ei) der Substanz (A) optimiert werden, sodass die Abweichung zwischen der Linearkombination (I) und der spektralen Struktur a(i)) minimiert wird.
(EN)
The invention relates to a method for contactlessly characterizing a substance (A) using waves (W). The substance (A) has a spectral structure (a( i )) as a characteristic field (KF), said structure being qualitatively dependent on at least one property (ei) of the substance (A), wherein the spectral structure (a( i )) is recorded by taking a measurement (x), and the measurement (x) can have an interference structure (s) which is dependent on the measurement circumstances. According to the invention, in step 1), at least two different measurements (xj) are taken under different measurement circumstances, wherein the measurements can have quantitatively and/or qualitatively different interference structures (sj) and/or quantitatively different spectral structures (g j · a ), and in step 2), coefficients (cj) of a linear combination (I) of the different measurements (xj) and the value ( i ) of the at least one property (ei) of the substance (A) are optimized such that a deviation between the linear combination (I) and the spectral structure a( i )) is minimized.
(FR)
L'invention concerne un procédé de caractérisation sans contact d'une substance (A) à l'aide d'ondes (W), la substance (A) présentant une structure spectrale (a( i )) en tant que champ caractéristique (KF), qui dépend qualitativement d'au moins une propriété (ei) de la substance (A), la structure spectrale (a( i )) étant enregistrée par une mesure (x), et la mesure (x) pouvant présentant une structure interférente (s), qui dépend des conditions de mesure. Selon l'invention, à l'étape 1), au moins deux mesures différentes (xj) sont réalisées dans différentes conditions de mesure, qui peuvent présenter quantitativement et/ou qualitativement différentes structures interférentes (sj) et/ou quantitativement différentes structures spectrales (g j · a), et à l'étape 2), des coefficients (cj) d'une combinaison linéaire (I) des différentes mesures (xj) et de la valeur ( i ) de la ou des propriétés (ei) de la substance (A) sont optimisés de manière à réduire l'écart entre la combinaison linéaire (I) et la structure spectrale (a( i )).
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