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1. WO2020207540 - VERFAHREN ZUR KALIBRIERUNG EINER THZ-MESSVORRICHTUNG, THZ-MESSVERFAHREN SOWIE ENTSPRECHENDE THZ-MESSVORRICHTUNG

Veröffentlichungsnummer WO/2020/207540
Veröffentlichungsdatum 15.10.2020
Internationales Aktenzeichen PCT/DE2020/100292
Internationales Anmeldedatum 09.04.2020
IPC
G01B 11/06 2006.01
GPhysik
01Messen; Prüfen
BMessen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen; Messen von Winkeln; Messen von Flächen; Messen von Unregelmäßigkeiten an Oberflächen oder Umrissen
11Messanordnungen gekennzeichnet durch die Verwendung optischer Messmittel
02zum Messen der Länge, Breite oder Dicke
06zum Messen der Dicke
G01B 11/27 2006.01
GPhysik
01Messen; Prüfen
BMessen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen; Messen von Winkeln; Messen von Flächen; Messen von Unregelmäßigkeiten an Oberflächen oder Umrissen
11Messanordnungen gekennzeichnet durch die Verwendung optischer Messmittel
26zum Messen von Winkeln oder Kegeln; zum Prüfen der Achsrichtungen
27zum Prüfen der Achsrichtungen
G01B 21/04 2006.01
GPhysik
01Messen; Prüfen
BMessen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen; Messen von Winkeln; Messen von Flächen; Messen von Unregelmäßigkeiten an Oberflächen oder Umrissen
21Messanordnungen oder Einzelheiten davon, soweit sie nicht für die in den anderen Gruppen dieser Unterklasse aufgeführten Messmittel besonders ausgebildet sind
02zum Messen der Länge, der Breite oder der Dicke
04zum Messen der Koordinaten von Punkten
G01N 21/3581 2014.01
GPhysik
01Messen; Prüfen
NUntersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
21Optisches Untersuchen oder Analysieren von Stoffen, d.h. durch die Anwendung infraroten, sichtbaren oder ultravioletten Lichts
17Systeme, in denen einfallendes Licht durch die Eigenschaften des untersuchten Materials beeinflusst wird
25Farbe; Spektraleigenschaften, d.h. Vergleich der Materialeffekte bei Licht von zwei oder mehr Wellenlängen oder Wellenlängenbereichen
31Untersuchen relativer Materialeffekte bei Wellenlängen, die für spezifische Elemente oder Moleküle charakteristisch sind, z.B. Atomabsorptionsspektrometrie
35mit infrarotem Licht
3581unter Verwendung von fernem Infrarotlicht; unter Verwendung von Terahertz-Strahlung
G01N 21/952 2006.01
GPhysik
01Messen; Prüfen
NUntersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
21Optisches Untersuchen oder Analysieren von Stoffen, d.h. durch die Anwendung infraroten, sichtbaren oder ultravioletten Lichts
84Systeme, besonders ausgebildet für spezielle Anwendungen
88Untersuchen der Anwesenheit von Fehlern oder Verunreinigungen
95gekennzeichnet durch das Material oder die Form des zu untersuchenden Gegenstandes
952Prüfen der äußeren Oberfläche von zylindrischen Körpern oder Drähten
G01N 21/954 2006.01
GPhysik
01Messen; Prüfen
NUntersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
21Optisches Untersuchen oder Analysieren von Stoffen, d.h. durch die Anwendung infraroten, sichtbaren oder ultravioletten Lichts
84Systeme, besonders ausgebildet für spezielle Anwendungen
88Untersuchen der Anwesenheit von Fehlern oder Verunreinigungen
95gekennzeichnet durch das Material oder die Form des zu untersuchenden Gegenstandes
954Prüfen der inneren Oberfläche von Hohlkörpern, z.B. Bohrungen
Anmelder
  • CITEX HOLDING GMBH [DE]/[DE]
Erfinder
  • BÖHM, Roland
Vertreter
  • ADVOPAT PATENT- UND RECHTSANWÄLTE
Prioritätsdaten
10 2019 109 339.209.04.2019DE
Veröffentlichungssprache Deutsch (DE)
Anmeldesprache Deutsch (DE)
Designierte Staaten
Titel
(DE) VERFAHREN ZUR KALIBRIERUNG EINER THZ-MESSVORRICHTUNG, THZ-MESSVERFAHREN SOWIE ENTSPRECHENDE THZ-MESSVORRICHTUNG
(EN) METHOD FOR CALIBRATING A THZ MEASURING APPARATUS, THZ MEASURING METHOD AND CORRESPONDING THZ MEASURING APPARATUS
(FR) PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE D'UN DISPOSITIF DE MESURE DE THZ, PROCÉDÉ DE MESURE DE THZ ET DISPOSITIF DE MESURE DE THZ CORRESPONDANT
Zusammenfassung
(DE)
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Kalibrierung einer THz-Messvorrichtung (8), insbesondere Rohres, auf ein Messobjekt (10) mit mindestens folgenden Schritten: • Bereitstellen einer THz-Messvorrichtung (8) mit mehreren, in einer Umfangsrichtung um einen Messraum (9) angeordneten, schwenkbaren THz-Sensoren (1) zur Ausgabe jeweils eines THz-Sendestrahls (12) entlang einer Sensorachse (B), (Bereitstellungsschritt), • Ausrichten der THz-Sensoren (1) in eine Ausgangsposition in den Messraum (9), in dem das Messobjekt (10) aufgenommen ist, • (Ausrichtungsschritt in Ausgangsstellung), • Zuordnung der THz-Sensoren (1) in mindestens eine erste und zweite Sensorgruppe, (Gruppenbildungsschritt) • erster Kalibrierverstellungsschritt, bei dem die zweite Sensorgruppe als Verstellgruppe mittels der ersten Sensorgruppe als Ausgangsgruppe verstellt wird und entsprechender zweiter Kalibrierverstellungsschritt, bei dem die erste Sensorgruppe als Verstellgruppe mittels der zuvor kalibrierverstellten zweiten Sensorgruppe als Ausgangsgruppe verstellt wird, • wobei in den Kalibrierverstellungsschritten jeweils • = mit den THz-Sensoren (S1, S3, S5, S7) der Ausgangsgruppe Abstandspunkte auf einer Fläche (10a) des Messobjektes (10) ermittelt werden • = Sensor-Korrekturwinkel der THz-Sensoren (1; S2, S4, S6, S8) der Verstellgruppe mittels der von der Ausgangsgruppe ermittelten Abstandspunkte ermittelt werden,• = die THz-Sensoren der Verstellgruppe um die ermittelten Sensor-Korrekturwinkel (a) kalibrierverstellt werden.
(EN)
The invention relates to a method for calibrating a THz measuring apparatus (8), in particular a pipe, on a measurement object (10), comprising at least the following steps: providing a THz measuring apparatus (8) having a plurality of pivotable THz sensors (1), arranged in a circumferential direction around a measuring chamber (9), for outputting one THz transmitted beam (12) each along a sensor axis (B) (provision step); orienting the THz sensors (1) into a starting position in the measuring chamber (9) in which the measurement object (10) is received (orientation step in starting position); allocating the THz sensors (1) to at least one first and one second sensor group (group formation step); first calibration adjustment step, in which the second sensor group is adjusted as an adjustment group by means of the first sensor group as a starting group, and corresponding second calibration adjustment step, in which the first sensor group is adjusted as an adjustment group by means of the previously calibration-adjusted second sensor group as a starting group; wherein, in each of the calibration adjustment steps = by means of the THz sensors (S1, S3, S5, S7) of the starting group, spacing points on a surface (10a) of the measurement object (10) are determined, = sensor correction angles of the THz sensors (1; S2, S4, S6, S8) of the adjustment group are determined by means of the spacing points determined by the starting group, and = the THz sensors of the adjustment group are calibration-adjusted about the determined sensor correction angles (a).
(FR)
L'invention concerne un procédé d'étalonnage d'un dispositif de mesure de THz (8), notamment un tube, sur un objet à mesurer (10), comprenant au moins les étapes suivantes : fourniture d'un dispositif de mesure de THz (8) comprenant plusieurs capteurs THz (1) pivotants, disposés dans le sens de la circonférence autour d'un espace de mesure (9) et destinés à émettre respectivement un faisceau d'émission de THz (12) le long d'un axe de capteur (B) (étape de fourniture) ; alignement des capteurs THz (1) dans une position initiale dans l'espace de mesure (9) dans lequel est accueilli l'objet à mesurer (10) (étape d'alignement en position initiale) ; répartition des capteurs THz (1) en au moins un premier et un deuxième groupe de capteurs (étape de formation de groupe) ; première étape d'ajustement d'étalonnage au cours de laquelle le deuxième groupe de capteurs, en tant que groupe d'ajustement, est ajusté au moyen du premier groupe de capteurs, en tant que groupe initial, et deuxième étape correspondante d'ajustement d'étalonnage au cours de laquelle le premier groupe de capteurs, en tant que groupe d'ajustement, est ajusté au moyen du deuxième groupe de capteurs préalablement ajusté pour étalonnage en tant que groupe initial. Les opérations suivantes sont respectivement effectuées dans les étapes d'ajustement d'étalonnage : des points d'écart sur une surface (10a) de l'objet à mesurer (10) sont déterminés avec les capteurs THz (S1, S3, S5, S7) du groupe initial ; les angles de correction des capteurs THz (1 ; S2, S4, S6, S8) du groupe d'ajustement sont déterminés au moyen des points d'écart déterminés par le groupe initial ; les capteurs THz du groupe d'ajustement sont ajustés pour étalonnage par les angles de correction de capteur (a) déterminés.
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