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1. WO2020200372 - MESSSYSTEM ZUR OPTISCHEN MESSUNG

Veröffentlichungsnummer WO/2020/200372
Veröffentlichungsdatum 08.10.2020
Internationales Aktenzeichen PCT/DE2020/200011
Internationales Anmeldedatum 31.01.2020
IPC
G01B 11/25 2006.01
GPhysik
01Messen; Prüfen
BMessen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen; Messen von Winkeln; Messen von Flächen; Messen von Unregelmäßigkeiten an Oberflächen oder Umrissen
11Messanordnungen gekennzeichnet durch die Verwendung optischer Messmittel
24zum Messen von Umrisslinien oder Krümmungen
25durch Projizieren eines Musters, z.B. Moiré-Streifen, auf den Gegenstand
G01B 21/04 2006.01
GPhysik
01Messen; Prüfen
BMessen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen; Messen von Winkeln; Messen von Flächen; Messen von Unregelmäßigkeiten an Oberflächen oder Umrissen
21Messanordnungen oder Einzelheiten davon, soweit sie nicht für die in den anderen Gruppen dieser Unterklasse aufgeführten Messmittel besonders ausgebildet sind
02zum Messen der Länge, der Breite oder der Dicke
04zum Messen der Koordinaten von Punkten
CPC
G01B 11/25
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
24for measuring contours or curvatures
25by projecting a pattern, e.g. ; one or more lines,; moiré fringes on the object
G01B 21/042
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
21Measuring arrangements or details thereof in so far as they are not adapted to particular types of measuring means of the preceding groups
02for measuring length, width, or thickness
04by measuring coordinates of points
042Calibration or calibration artifacts
Anmelder
  • MICRO-EPSILON OPTRONIC GMBH [DE]/[DE]
Erfinder
  • TOBESCHAT, Lars
  • GRUEBER, Christoph
  • WISSPEINTNER, Thomas
Vertreter
  • ULLRICH & NAUMANN
Prioritätsdaten
10 2019 204 613.401.04.2019DE
Veröffentlichungssprache Deutsch (DE)
Anmeldesprache Deutsch (DE)
Designierte Staaten
Titel
(DE) MESSSYSTEM ZUR OPTISCHEN MESSUNG
(EN) MEASUREMENT SYSTEM FOR OPTICAL MEASUREMENT
(FR) SYSTÈME DE MESURE POUR LA MESURE OPTIQUE
Zusammenfassung
(DE)
Ein Messsystem zur optischen Messung, insbesondere zur Abstands- und/oder Positions- und/oder Geschwindigkeits- und/oder Farbmessung, definiert mindestens einen äußeren Fixpunkt, der ein äußeres Koordinatensystem definiert oder darin liegt und mindestens einen inneren Fixpunkt, der ein inneres Koordinatensystem definiert oder darin liegt. Die beiden Koordinatensysteme haben eine eindeutige Lage zueinander, die eine Justage oder Kalibrierung des Systems impliziert.
(EN)
A measurement system for optical measurement, in particular for measuring distance and/or position and/or speed and/or colour, defines at least one outer fixing point, which defines an outer coordinate system or lies therein, and at least one inner fixing point, which defines an inner coordinate system or lies therein. The two coordinate systems have a unique position relative to one another, which implies an adjustment or calibration of the system.
(FR)
L'invention concerne un système de mesure pour la mesure optique, notamment pour la mesure de la distance et/ou de la position et/ou de la vitesse et/ou de la couleur. Ledit système de mesure définit au moins un point fixe extérieur définissant un système de coordonnées extérieur ou se trouvant dans celui-ci, et au moins un point fixe intérieur définissant un système de coordonnées intérieur ou se trouvant dans celui-ci. Les deux systèmes de coordonnées occupent une position sans équivoque l'un par rapport à l'autre, qui implique l'ajustement ou l'étalonnage du système.
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten